公开(公告)号：CN1744228A

公开(公告)日：2006-03-08

申请号：CN200510081930.5

申请日：2005-07-08

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 韩愉根 ,  申熙钟 ,  徐承珍 ,  苏秉世 ,  安泳万 ,  辛承万 ,  李廷国 ,  李虎奭

IPC: G11C7/00 ,  H03L7/08

CPC classification number: G11C5/04 ,  G06F13/1689 ,  G11C7/22 ,  G11C7/222 ,  G11C8/18 ,  G11C11/401 ,  G11C29/12015 ,  G11C29/14

Abstract: 一种利用非周期性时钟的存储器模块、存储器单元和集线器以及使用它们的方法。一种示例性的存储器模块可以包括：锁相环，用于接收外部周期性时钟和产生一个或多个内部周期性时钟；以及多个存储器单元，用于接收内部周期性时钟之一或来自外部源的非周期性时钟。

公开(公告)号：CN101859607A

公开(公告)日：2010-10-13

申请号：CN201010158336.2

申请日：2010-03-30

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李廷国 ,  李成熙

IPC: G11C29/56 ,  G06F1/16

CPC classification number: G11C29/56 ,  G11C5/04 ,  G11C29/56016 ,  G11C2029/5602

Abstract: 本发明公开了一种用于存储器安装测试的主板和系统。根据示例性实施例的主板可包括基板和至少一个插座。所述至少一个插座可在与基板平行的方向上将存储器模块连接到基板。包括主板的存储器安装测试系统可占用较小的空间，这是因为所述存储器模块在与主板平行的方向上连接到主板。

公开(公告)号：CN100474545C

公开(公告)日：2009-04-01

申请号：CN200510068906.8

申请日：2005-04-27

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李廷国 ,  安泳万 ,  辛承万 ,  徐钟哲

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/28 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2889 ,  G01R1/07378

Abstract: 本发明公开了一种用于高频系统级测试的测试板。该测试板包括具有用导电材料填充的通孔的主板。这些孔可以位于主板上已经去除了原有的模块插座的一部分上。接口板具有在其前表面和后表面上的表面安装器件(SMD)焊盘。在接口板的前表面上的SMD焊盘与在其后表面上的SMD焊盘通过在接口板内的交叉连接线路连接，用于管脚交换。主板的通孔与接口板的后表面上的SMD焊盘通过在导向器处固定的铁芯连接。在接口板的前表面上的SMD焊盘的表面上安装测试模块插座。

公开(公告)号：CN1700437A

公开(公告)日：2005-11-23

申请号：CN200510068906.8

申请日：2005-04-27

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李廷国 ,  安泳万 ,  辛承万 ,  徐钟哲

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/28 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2889 ,  G01R1/07378

Abstract: 本发明公开了一种用于高频系统级测试的测试板。该测试板包括具有用导电材料填充的通孔的主板。这些孔可以位于主板上已经去除了原有的模块插座的一部分上。接口板具有在其前表面和后表面上的表面安装器件(SMD)焊盘。在接口板的前表面上的SMD焊盘与在其后表面上的SMD焊盘通过在接口板内的交叉连接线路连接，用于管脚交换。主板的通孔与接口板的后表面上的SMD焊盘通过在导向器处固定的铁芯连接。在接口板的前表面上的SMD焊盘的表面上安装测试模块插座。