半导体封装件
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110634827B

    公开(公告)日:2023-08-11

    申请号:CN201910179385.5

    申请日:2019-03-11

    Abstract: 本发明提供了一种半导体封装件。所述半导体封装件包括:连接构件,包括多个连接焊盘和重新分布层;半导体芯片,设置在连接构件上;包封剂,密封半导体芯片;钝化层,设置在连接构件上;多个凸块下金属(UBM)焊盘,设置在钝化层上;以及多个UBM过孔,将所述多个UBM焊盘分别连接到所述多个连接焊盘,其中,所述多个UBM焊盘包括在堆叠方向上与半导体芯片重叠的第一UBM焊盘以及位于重叠的区域外部的第二UBM焊盘,并且在堆叠方向上叠置关联的第一UBM焊盘,第一连接焊盘具有比关联的第一UBM焊盘的面积大的面积,并且具有比第二连接焊盘的面积大的面积。

    半导体封装件
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110634827A

    公开(公告)日:2019-12-31

    申请号:CN201910179385.5

    申请日:2019-03-11

    Abstract: 本发明提供了一种半导体封装件。所述半导体封装件包括:连接构件,包括多个连接焊盘和重新分布层;半导体芯片,设置在连接构件上;包封剂,密封半导体芯片;钝化层,设置在连接构件上;多个凸块下金属(UBM)焊盘,设置在钝化层上;以及多个UBM过孔,将所述多个UBM焊盘分别连接到所述多个连接焊盘,其中,所述多个UBM焊盘包括在堆叠方向上与半导体芯片重叠的第一UBM焊盘以及位于重叠的区域外部的第二UBM焊盘,并且在堆叠方向上叠置关联的第一UBM焊盘,第一连接焊盘具有比关联的第一UBM焊盘的面积大的面积,并且具有比第二连接焊盘的面积大的面积。

    半导体封装件
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110828394B

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN201910701419.2

    申请日:2019-07-31

    Inventor: 朴智恩 朴美珍

    Abstract: 本发明提供一种半导体封装件,所述半导体封装件包括:支撑框架,包括腔;半导体芯片,设置在所述腔中,并具有布置有接触焊盘的有效表面;以及连接构件,位于所述支撑框架和所述半导体芯片的所述有效表面上。所述半导体芯片包括:第一绝缘膜,设置在所述有效表面上并使所述接触焊盘暴露;第二绝缘膜,设置在所述第一绝缘膜上并包括使所述接触焊盘的连接区域暴露的第一开口;以及导电防裂层,设置在所述连接区域上并具有外周区域,所述外周区域延伸到围绕所述第一开口的所述第二绝缘膜的一部分上。所述连接构件包括:绝缘层,包括使所述连接区域暴露的第二开口;以及重新分布层,通过所述第二开口连接到所述接触焊盘。

    半导体封装件和连接结构

    公开(公告)号:CN111326485A

    公开(公告)日:2020-06-23

    申请号:CN201911280102.2

    申请日:2019-12-13

    Inventor: 朴智恩

    Abstract: 本发明提供一种半导体封装件和连接结构,所述半导体封装件包括:连接结构,具有多个绝缘层以及位于所述多个绝缘层上的重新分布层。半导体芯片具有连接到所述重新分布层的连接垫,并且包封剂包封所述半导体芯片。无源组件嵌在所述连接结构中并且具有连接到所述重新分布层的连接端子。所述重新分布层包括:多个重新分布图案,每个设置在所述多个绝缘层上;以及多个重新分布过孔,每个贯穿所述多个绝缘层并且连接到所述多个重新分布图案。所述多个重新分布过孔包括围绕所述无源组件布置的多个阻挡过孔,并且所述多个重新分布图案包括连接相邻的阻挡过孔的阻挡图案。

Patent Agency Ranking