公开(公告)号：CN1224836A

公开(公告)日：1999-08-04

申请号：CN98122650.7

申请日：1998-09-24

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金亨哲 ,  赵荣锡 ,  姜声泽 ,  高国原 ,  朴元植 ,  卢荣俊

IPC: G01N23/00

Abstract: 一种用于X射线检测系统的观象选择器。图像增强器把从至少多于一个的方向和位置使X射线穿透待测物体而获得的多个X射线图像转换成光学图像并投到输出屏幕上,第一旋转体形成一个相对输出屏幕为水平方向的旋转轴,与其旋转轴一端相连的第一反射镜将光学图像从输出屏幕上反射出来。第二旋转体形成一个相对输出屏幕为垂直方向的旋转轴,与其旋转轴一端相连的第二反射镜将来自第一反射镜的光学图像中所希望的光学图像反射到摄像装置。

公开(公告)号：CN1083577C

公开(公告)日：2002-04-24

申请号：CN97102586.X

申请日：1997-02-27

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴元植 ,  沈沅燮 ,  崔赞虎 ,  权容守

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/02

CPC classification number: G01R31/043 ,  G01R1/0433 ,  G01R31/2851 ,  G01R35/00

Abstract: 测试方法，包括完全建立测试设备和处理器后和测试操作开始前使用一种处理器接触检测装置检测出与待测IC装置的处理器接触的步骤，该处理器接触检测装置包括：安装到处理器的处理器接触检测板，有多个直接与IC装置外部端子接触的引出脚和布线电路，所述布线电路将接触检测电信号从测试设备传送到引出脚和外部端子的接触以及将输出电信号从接触传送到测试设备；还具有与待测试的IC装置相同形状和外部端子的接触检测封装装置。

公开(公告)号：CN1161455A

公开(公告)日：1997-10-08

申请号：CN97102586.X

申请日：1997-02-27

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴元植 ,  沈沅燮 ,  崔赞虎 ,  权容守

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/02

CPC classification number: G01R31/043 ,  G01R1/0433 ,  G01R31/2851 ,  G01R35/00

Abstract: 测试方法，包括完全建立测试设备和处理器后和测试操作开始前使用一种处理器接触检测装置检测出与待测IC装置的处理器接触的步骤，该处理器接触检测装置包括：安装到处理器的处理器接触检测板，有多个直接与IC装置外部端子接触的引出脚和布线电路，所述布线电路将接触检测电信号从测试设备传送到引出脚和外部端子的接触以及将输出电信号从接触传送到测试设备；还具有与待测试的IC装置相同形状和外部端子的接触检测封装装置。