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公开(公告)号：CN1116710A
公开(公告)日：1996-02-14
申请号：CN95108573.5
申请日：1995-06-08
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G11C29/50 , G01R31/2856 , G11C11/401
Abstract: 一种老化检测电路，用于检查有若干存储单元、连接各存储单元的字线和选择字线的行译码器的半导体存储器装置的缺陷单元，包括：通过字线放电通路接收升压及驱动字线的字线提升电压的字线驱动器，和接收老化启动信号及升压的控制电路。字线驱动器与字线连接，并被行译码器的行译码信号控制。控制电路与字线放电通路连接。在正常状态，字线由字线提升电压启动；在老化检测状态，等于或大于升压的老化电压加到字线上。
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公开(公告)号：CN1121105C
公开(公告)日：2003-09-10
申请号：CN99104900.4
申请日：1999-04-16
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 昔容轼
IPC: H04L12/40
CPC classification number: G06F13/4072 , Y02D10/14 , Y02D10/151
Abstract: 一种总线接口系统和方法，包括有耦合在总线导电线路两端的一个驱动器电路和一个接收器电路。驱动电路驱动一个可调电流通过导电线路至接收器电路。可调电流的电流电平可以根据传送通过线路的数据项控制到几个电平中的一个电平。接收器电路接收可调电流并检出电流的电平以识别出用所传送的信号编码的信息。电流电平可以置为几个数值中的一个数值，使得信号所传送的信息能够处于几种可能状态中的一种状态。因此，系统能对比二进制系统更多的数据进行编码。从而可以实现更高的数据总线传送速率。
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公开(公告)号：CN1056770A
公开(公告)日：1991-12-04
申请号：CN90107204.4
申请日：1990-08-25
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H01L27/0203 , G06F11/006 , G11C5/04 , G11C7/1045 , G11C29/12 , G11C2029/4402 , H01L23/544 , H01L2223/5444 , H01L2223/54473 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种具有一个识别电路的半导体集成电路芯片包括一对电源供给端、多个输入端及一个连接在任一电源供给端和任一输入端间的识别电路装置。该识别电路装置包括：一个限制在电源供给端和输入端之间的输入电位差、具有一预定限幅电压电平的电压限幅器及与电压限幅器连接的选择装置，根据电流通路是否在制造工艺中形成来决定芯片的识别信息。芯片的识别测试是用已有的输入端、输出端和电源端完成的，无须额外测试、特征管脚、激光设备等。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1023266C
公开(公告)日：1993-12-22
申请号：CN91102517.0
申请日：1991-04-10
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 昔容轼
CPC classification number: G11C29/808 , G11C29/781
Abstract: 一种带有冗余装置的半导体存储器件，包含：多个各有读出放大器的正常单元阵列；响应隔离信号对相邻正常单元阵列间位线进行隔离或连接的隔离门；其特征在于包括：只有一个相邻冗余单元阵列相连接的冗余单元阵列，用于产生隔离信号和读出信号的控制信号发生装置，响应与外部输入的地址信号所对应的正常单元阵列的故障和选择冗余单元阵列的字线的信号，从而产生冗余控制信号的装置。
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公开(公告)号：CN1062613A
公开(公告)日：1992-07-08
申请号：CN91102517.0
申请日：1991-04-10
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 昔容轼
CPC classification number: G11C29/808 , G11C29/781
Abstract: 一种包含各有读出放大器的多个正常单元阵列的半导体存储器件的冗余装置，它包含：响应隔离信号对相邻正常单元阵列间位线进行隔离或连接的隔离门、只有一个相邻冗余单元阵列相连接的冗余单元阵列，用于产生隔离信号和读出信号的控制信号发生装置，响应外部输入的地址信号的故障和选择冗余单元阵列的字线的信号而产生冗余控制信号的装置。
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公开(公告)号：CN1053757C
公开(公告)日：2000-06-21
申请号：CN95108573.5
申请日：1995-06-08
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/00
CPC classification number: G11C29/50 , G01R31/2856 , G11C11/401
Abstract: 一种老化检测电路，用于检查有若干存储单元、连接各存储单元的字线和选择字线的行译码器的半导体存储器装置的缺陷单元，包括：通过字线放电通路接收升压及驱动字线的字线提升电压的字线驱动器，和接收老化启动信号及升压的控制电路。字线驱动器与字线连接，并被行译码器的行译码信号控制。控制电路与字线放电通路连接。在正常状态，字线由字线提升电压启动；在老化检测状态，等于或大于升压的老化电压加到字线上。
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公开(公告)号：CN1247424A
公开(公告)日：2000-03-15
申请号：CN99104900.4
申请日：1999-04-16
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 昔容轼
IPC: H04L12/40
CPC classification number: G06F13/4072 , Y02D10/14 , Y02D10/151
Abstract: 一种总线接口系统和方法,包括有耦合在总线导电线路两端的一个驱动器电路和一个接收器电路。驱动电路驱动一个可调电流通过导电线路至接收器电路。可调电流的电流电平可以根据传送通过线路的数据项控制到几个电平中的一个电平。接收器电路接收可调电流并检出电流的电平以识别出用所传送的信号编码的信息。电流电平可以置为几个数值中的一个数值,使得信号所传送的信息能够处于几种可能状态中的一种状态。因此,系统能对比二进制系统更多的数据进行编码。从而可以实现更高的数据总线传送速率。
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公开(公告)号：CN1025261C
公开(公告)日：1994-06-29
申请号：CN90107204.4
申请日：1990-08-25
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H01L27/0203 , G06F11/006 , G11C5/04 , G11C7/1045 , G11C29/12 , G11C2029/4402 , H01L23/544 , H01L2223/5444 , H01L2223/54473 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种具有一个识别电路的半导体集成电路芯片包括一对电源供给端、多个输入端及一个连接在任一电源供给端和任一输入端间的识别电路装置。该识别电路装置包括：一个限制在电源供给端和输入端之间的输入电位差、具有一预定限幅电压电平的电压限幅器及与电压限幅器连接的选择装置，根据电流通路是否在制造工艺中形成来决定芯片的识别信息。芯片的识别测试是用已有的输入端、输出端和电源端完成的，无须额外测试、特征管脚、激光设备等。
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