半导体装置及其制造方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116367532A

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202211173475.1

    申请日:2022-09-26

    Abstract: 提供了一种半导体装置及其制造方法,所述半导体装置包括其中具有外围区域和单元区域的基底。提供了在外围区域中从基底突出的第一半导体有源图案。提供了在单元区域中从基底突出的第二半导体有源图案。第一半导体有源图案的上部分的第一边缘具有圆形形状,并且第二半导体有源图案的上部分的第二边缘具有圆形形状。第一边缘的曲率大于第二边缘的曲率。

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