半导体装置
    1.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116247056A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202210979529.7

    申请日:2022-08-16

    Abstract: 提供了半导体装置,其包括:基底,包括PMOSFET区域和NMOSFET区域;以及PMOSFET区域上的第一晶体管和NMOSFET区域上的第二晶体管,第一晶体管包括:第一栅极介电层,在基底上;第一下金属图案,在第一栅极介电层上;第二下金属图案,在第一下金属图案上;以及第一中间图案,在第一下金属图案与第二下金属图案之间,第二晶体管包括:第二栅极介电层,在基底上;第三下金属图案,在第二栅极介电层上;以及第二中间图案,在第二栅极介电层与第三下金属图案之间,第一中间图案和第二中间图案均包括镧,第一下金属图案至第三下金属图案均包括金属氮化物,并且第一下金属图案的厚度大于第三下金属图案的厚度。

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