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公开(公告)号：CN117995254A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202310850162.3
申请日：2023-07-11
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了存储器装置、测试方法和半导体装置。所述存储器装置包括：测试模式检测器电路，基于通过多个引脚中的至少一个引脚接收到的至少一个测试模式进入信号，来确定所述存储器装置是否已经进入测试模式并且生成测试模式检测信号；以及测试垫连接电路，将所述多个引脚中的第一引脚电连接到测试模式的专用测试垫，使得施加到第一引脚的信号基于测试模式检测信号而被发送到专用测试垫。
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