公开(公告)号：CN105390157B

公开(公告)日：2020-02-07

申请号：CN201510526556.9

申请日：2015-08-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴一汉 ,  金志锡 ,  宋仲镐 ,  安洋鲁

IPC: G11C16/10 ,  G11C16/34

Abstract: 提供了非易失性存储装置和编程验证方法。所述编程验证方法用于对多个存储单元编程的非易失性存储装置。所述编程验证方法包括以下步骤：施加多个验证电压，并且基于所述多个验证电压中的一个验证电压来确定是否完成了对所述多个存储单元中的具有不同的目标阈值电压分布的存储单元的编程。

公开(公告)号：CN105390157A

公开(公告)日：2016-03-09

申请号：CN201510526556.9

申请日：2015-08-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴一汉 ,  金志锡 ,  宋仲镐 ,  安洋鲁

IPC: G11C16/10 ,  G11C16/34

Abstract: 提供了非易失性存储装置和编程验证方法。所述编程验证方法用于对多个存储单元编程的非易失性存储装置。所述编程验证方法包括以下步骤：施加多个验证电压，并且基于所述多个验证电压中的一个验证电压来确定是否完成了对所述多个存储单元中的具有不同的目标阈值电压分布的存储单元的编程。