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公开(公告)号：CN119069460A
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202410690593.2
申请日：2024-05-30
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/544 , G01N27/00 , G11C11/34 , H01L21/66
Abstract: 公开了一种存储器装置和一种检测存储器装置中的裂纹的方法。该存储器装置包括：存储器单元阵列；第一焊盘，其被配置为从外部装置接收命令；第二焊盘，其被配置为与外部装置交换数据；第三焊盘；测试逻辑，其被配置为基于通过第一焊盘接收的测试命令来产生测试脉冲信号；以及裂纹检测结构，其形成在第三焊盘下方，并被配置为包括从测试逻辑串联连接到第二焊盘的线。基于当测试脉冲信号通过裂纹检测结构时改变的延迟脉冲信号的延迟来检测在第三焊盘中出现的裂纹。
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