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公开(公告)号：CN108279354B
公开(公告)日：2021-05-25
申请号：CN201710846571.0
申请日：2017-09-19
Applicant: 万润科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种载盘及使用该载盘的电子元件量测方法及装置，包括：数个载槽，环列布设于载盘的周缘，所述载槽设有一由该载槽的内周侧朝该载槽中央处延伸凸出的遮盖部与一可供一待测元件载入的置纳空间；其特征在于，该遮盖部位于所述载槽的上方，该遮盖部遮盖待测组件顶部部分面积，可供该待测元件载入的该置纳空间设于该遮盖部的下方；一搬送步骤，该载盘以间歇性旋转流路搬送该载槽内的该待测元件至一量测区域；一量测步骤，该待测元件停留在该量测区域时，探针向上碰触该待测元件，并顶升该待测元件，使该待测元件受该遮盖部挡抵。
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公开(公告)号：CN111361779A
公开(公告)日：2020-07-03
申请号：CN201910846803.1
申请日：2019-09-09
Applicant: 万润科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种载带封膜方法及装置，包括：使一封膜机构借一第一驱动机构与一切换机构在一等待位置与一作业位置间进行切换；当该封膜机构切换至作业位置后，该封膜机构的一摆臂受一第二驱动机构作用，并连动一封膜臂上下摆动，使该封膜臂的一压件压触一封膜带封罩于一载带上。
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公开(公告)号：CN105984711B
公开(公告)日：2020-02-04
申请号：CN201510097818.4
申请日：2015-03-05
Applicant: 万润科技股份有限公司
IPC: B65G47/14
Abstract: 本发明提供一种电子元件输送装置，包括：一测盘，其周缘等距环列布设有多个容槽；一送料轨道，设有一线性轨道与一输送道，该线性轨道连结于一震动送料机的一侧，该输送道设于该测盘外侧且接续该线性轨道；一压块，压制在该送料轨道上侧，遮蔽该输送道与该容槽的上方镂空处；该压块设有一第一吹气孔与一第二吹气孔；该第一吹气孔相邻于该测盘，该第二吹气孔相邻于该线性轨道；该第一吹气孔与该第二吹气孔共同使用一气压源；一分离针，设于该测盘外侧的该输送道上并设于该第一吹气孔与该第二吹气孔之间，该分离针可进行升降伸入或收离该输送道；该压块设有一感应器于该容槽上方。
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公开(公告)号：CN108279354A
公开(公告)日：2018-07-13
申请号：CN201710846571.0
申请日：2017-09-19
Applicant: 万润科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种载盘及使用该载盘的电子组件量测方法及装置，包括：数个载槽，环列布设于载盘的周缘，所述载槽的上方设有一由载槽的内周侧朝载槽中央处延伸凸出，并遮盖待测组件顶部部分面积的遮盖部，载槽的下方设有一可供待测组件加载的置纳空间；一搬送步骤，载盘以间歇性旋转流路搬送载槽内的待测组件至一量测区域；一量测步骤，待测组件停留在量测区域时，探针组件向上碰触待测组件，并顶升待测组件，使待测组件受遮盖部挡抵。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105750225A
公开(公告)日：2016-07-13
申请号：CN201510690846.7
申请日：2015-10-22
Applicant: 万润科技股份有限公司
IPC: B07C5/38
CPC classification number: B07C5/38 , B07C2301/0008
Abstract: 本发明提供了一种电子元件分选设备的分类收集方法及装置。该装置包括：提供一座架，包括上座架及下座架，其间形成容置空间；上座架接设多个分类管，下座架设有驱动件；提供一拖架设于该容置空间，其包括一拖座及位于拖座一座板上的容器架，多个收集容器载置于容器架；提供一弹性驱力，使收集容器往上座架贴靠以获得密合；提供一间隔定位手段，以定位该多个分类管，使其被依矩阵间隔排列定位，而与上座架上多个衔接管头各自分别对应，以进行接设。本发明提供的一种电子元件分选设备的分类收集方法及装置能防止受检测元件在分类收集过程中落料。
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公开(公告)号：CN115193822A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202111588886.2
申请日：2021-12-23
Applicant: 万润科技股份有限公司
Inventor： 陈荣宗
Abstract: 本发明提供一种载带清洁方法及装置，包括：提供一载带，一侧设有多个针孔，另一侧设有多个载槽；提供一针轮，周缘环列布设有多个针体；使该载带的针孔受该针轮的针体嵌扣驱动，以使该载带以间歇性移动流路移动经过一检查盖板的下方；在该载带的移动过程中，以一清洁装置吸取该载带上的碎屑；借此减少载带碎屑影响检查作业的情形。
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公开(公告)号：CN109013395B
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN201710831826.6
申请日：2017-09-15
Applicant: 万润科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种电子元件分选方法及装置，包括：一转盘，执行一间歇旋转流路搬送电子元件；一料盒装置，设有多个料盒以收集电子元件；一送料管装置，设有多个送料管与料盒对应；一振动装置，与该送料管装置相连结，使振动装置的振动力可施予多个送料管；电子元件自该间歇性旋转流路排出后经由受该振动力振动的送料管而排入被预先设定的料盒。
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公开(公告)号：CN111361965A
公开(公告)日：2020-07-03
申请号：CN201910849923.7
申请日：2019-09-09
Applicant: 万润科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种电子元件输送方法及装置，包括：一预备步骤，使多个电子元件在一导引道内朝一测盘的一容槽方向移动，并以该测盘外侧的一分离针阻挡该导引道内的第一个电子元件，且使该导引道下方的一气口产生负压吸引力，吸附排列在该第一个电子元件后侧的一第二个电子元件；一入料步骤，使该容槽的一测盘气沟产生负压吸引力，当该分离针离开该导引道时，使该第二个电子元件继续被该气口吸附而不移动，使该第一个电子元件受该测盘气沟的负压吸引力拉引与该第二个电子元件分离并被吸入该容槽内。
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公开(公告)号：CN109143013A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201810162492.2
申请日：2018-02-26
Applicant: 万润科技股份有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明提供一种电子元件检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘，该检测方法包括：一搬送步骤，使一载盘以间歇性旋转流路搬送一载槽内的一待测元件经一检测区域；一挡抵步骤，该待测元件停留在该检测区域时，使一挡抵件由间歇性旋转流路外移入该载槽内；一检测步骤，使数个支探针元件向上碰触并顶升该待测元件受该挡抵件挡抵，以对待测元件进行检测。
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