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公开(公告)号：CN106132106B
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201610674254.0
申请日：2016-08-16
Applicant: 苏州市科林源电子有限公司
Abstract: 本发明公开了一种预加热装置，用于加热一线路板，所述预加热装置包括一加热结构，所述加热结构包括一治具及一工作台，所述治具包括至少一机械手臂及一第一加热板，所述机械手臂活动安装于所述第一加热板，所述工作台包括一第二加热板，所述机械手臂能相对所述第一加热板移动并抓取所述线路板，所述第一加热板及所述第二加热板发热并分别与所述线路板两侧抵触，以加热所述线路板。本发明还涉及上述预加热装置的使用方法。
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公开(公告)号：CN106132106A
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：CN201610674254.0
申请日：2016-08-16
Applicant: 苏州市科林源电子有限公司
CPC classification number: H05K3/22 , G01R31/28 , H05K2203/0195 , H05K2203/111 , H05K2203/1121
Abstract: 本发明公开了一种预加热装置，用于加热一线路板，所述预加热装置包括一加热结构，所述加热结构包括一治具及一工作台，所述治具包括至少一机械手臂及一第一加热板，所述机械手臂活动安装于所述第一加热板，所述工作台包括一第二加热板，所述机械手臂能相对所述第一加热板移动并抓取所述线路板，所述第一加热板及所述第二加热板发热并分别与所述线路板两侧抵触，以加热所述线路板。本发明还涉及上述预加热装置的使用方法。
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公开(公告)号：CN102707221A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201110101565.5
申请日：2011-04-22
Applicant: 苏州市科林源电子有限公司
Abstract: 本发明涉及一种充分利用探针使用寿命的PCB板测试治具，其包括上治具和下治具，下治具包括针盘与底座，其特征在于：所述的针盘上设有触碰开关，触碰开关的触发端凸出于针盘的上表面；该触碰开关电连接有计数器。每次测试PCB板，上治具下压PCB板，由于触碰开关的触发端凸出于针盘的上表面，故PCB板触发触碰开关，形成一次测试计数，并显示在计数器上；通过计数器的统计，操作者可确定针盘的总测试次数，并根据总测试次数而确定的针盘是否达到预期或设计的使用寿命，达到则更换针盘；这种方式，可有效地控制针盘的使用寿命，在保证测试的稳定性和可靠性的情况下，充分地利用了针盘的使用寿命，降低了生产成本。
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公开(公告)号：CN114910677A
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN202210332953.2
申请日：2022-03-30
Applicant: 苏州市科林源电子有限公司
Abstract: 本发明公开了一种四线测试双通道探针组件，包括PCB板件、上探针组件、下探针组件，PCB板件设有测试通孔，测试通孔的上下端面设置有用于测试时接触的通孔孔环；上探针组件包括测试组件、测试接触铜片，测试组件上设置有用于安装测试接触铜片的铜片安装槽，测试接触铜片包括上侧接触盘、弧形衔接段、横向衔接段、竖直衔接段、尾部连接片，尾部连接片设置有用于与通孔孔环接触的侧部衔接端面，上探针组件的组成结构与下探针组件相同，侧部衔接端面与通孔孔环的内壁接触。采用侧部衔接端面通孔孔环的内壁接触的方式代替探针点接触的方式，解决了探针无法准确扎在PAD造成误测的问题，解决了PAD表面容易打痕的问题，提高了测试的方便程度。
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公开(公告)号：CN114839506A
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202210333243.1
申请日：2022-03-30
Applicant: 苏州市科林源电子有限公司
Abstract: 本发明公开了一种多点数借点测试仪器，包括两个测试座组件、驱动组件、下接线组件、与下接线组件对应的上接线组件，下接线组件包括下部线路、下部弹性接触头、下部固定板；测试座组件设置有测试板摆放头部、接线组件，测试板件的接线点一方面与接线组件连接，另一方面采用下部线路与位于上侧的测试座组件中的接线组件连接，驱动组件运作带动上接线组件靠近或远离下接线组件，使下接线组件的接线点采用上接线组件与位于上侧的测试座组件连接。采用两个测试座组件、驱动组件、下接线组件、上接线组件的配合进行两个测试座组件之间的借点使用，使得产品测试可实现多pcs同时进行测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114839409A
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202210333192.2
申请日：2022-03-30
Applicant: 苏州市科林源电子有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 本发明公开了一种测试微小间距连接器的悬臂针模组，包括安装座、若干个悬臂针、配合座、探针固定组件、限位钉、弹簧，配合座设置有顶部保护槽，悬臂针包括第一连接段、中部连接段、用于与连接器触点接触测试的第二连接段，中部连接段的两端分别与第一连接段、第二连接段衔接；若干个悬臂针的第一连接段固定于探针固定组件，使第二连接段位于顶部保护槽的上方或位于顶部保护槽内，限位钉穿过安装座，弹簧位于安装座的下侧。采用悬臂针的第二连接段与连接器触点接触测试的方式，实现接触导通，同时可在连接器的一个触点上接触两根探针，解决了测试不良率高且需要经常维护的问题。在实际测试时，可以将连机器沿配合座的上方压下。
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公开(公告)号：CN110940912A
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201911356239.1
申请日：2019-12-25
Applicant: 苏州市科林源电子有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种集成电路IC载板植球后测试仪器，包括治具结构板及探针结构，探针结构包括探针连接线、方形探针，探针连接线与方形探针的端部连接，方形探针包括方针主体及设置于方针主体端面的凸起棱，方针主体的横截面呈矩形，方针主体的垂直投影面积大于凸起棱的垂直投影面积；治具结构板包括上部结构板、下部结构板，方针主体固定于上部结构板和下部结构板；待测试电路板上设置有若干个球形测试接触位，治具结构板和探针结构向待测试电路板靠近，凸起棱接触球形测试接触位进行测试。通过方针主体进行测试，减小了相邻方针主体的间距，进而减小探针的接触面积，由于方针具有导向性可以确保针头的间距最小化，达到对更小PCB板的锡球测试要求。
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公开(公告)号：CN102707182B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201110101561.7
申请日：2011-04-22
Applicant: 苏州市科林源电子有限公司
Abstract: 本发明涉及一种PCB板测试治具，其包括上治具和下治具，下治具包括针盘与底座；针盘包括针板、探针，探针可滑动地斜置在针板上的过孔中；底座设有牛角接头、与探针对应的若干套筒，牛角接头电连接于套筒；针板设置为4-6层结构，各层间距自顶部至底部逐渐增大，针板包括顶板、底板和两者之间的若干中间板，顶板和底板的厚度大于中间板的厚度。本发明针盘对探针支撑较好使探针不易受损，易于制造和安装、易于更换探针；在保证测试的稳定性和可靠性的情况下，充分地利用了针盘的使用寿命，降低了生产成本；设置了可压制标记的结构，使操作者易于分辨未测试和已测试的PCB板；通过双色LED灯可在治具上显示测试结果，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN102700126A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201110101573.X
申请日：2011-04-22
Applicant: 苏州市科林源电子有限公司
IPC: B29C65/02
Abstract: 本发明涉及一种PCB板热压治具，包括可安装热压上模的加热板、可安装热压下模的托盘、机架以及控制系统，机架固定有气缸和若干副导柱，各导柱平行设置，导柱上设有可在该气缸促动下而上下滑动的活动板，活动板底部安装加热板，加热板内置有电加热元件，可人力推拉而前后滑动的托盘与加热板相对地设置在机架的底座上。托盘可人力推拉的滑动结构，使下模的安装和热压时的操作更简单方便，尤其是批量制造PCB板时利于降低劳动强度、提高生产效率；加热板的底部安装结构，使上模的安装和热压时的操作更简单方便，利于降低劳动强度；整体结构简单，成本较低。
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公开(公告)号：CN107169392A
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201710409462.2
申请日：2017-06-02
Applicant: 苏州市科林源电子有限公司
Inventor： 文东升
CPC classification number: G06K7/10009 , G06F11/2221 , G06F13/14
Abstract: 本发明公开了一种自动识别测试装置及其测试方法，测试方法包括：读取装置读取装配于测试仪器的身份卡，信号传输到电脑，检测身份卡与设备是否匹配，身份卡与设备匹配，测试仪器装配至设备并正常运转；身份卡与设备不匹配，设备报错，并禁止设备运转。通过读取装置与电脑判断测试仪器是否与设备匹配，通过自动识别测试仪器，防止人员失误装错测试仪器，导致测试仪器和设备的损坏，降低操作风险。
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