公开(公告)号：CN111033284B

公开(公告)日：2023-06-13

申请号：CN201880053475.3

申请日：2018-08-14

Applicant: 泰拉丁公司

Inventor： 大卫·保罗·鲍伊尔 ,  裴建发 ,  约翰·P·托斯卡诺 ,  菲利普·坎贝尔 ,  马克·雷瑟尔·史密斯

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种示例性测试系统，该测试系统包括测试载体，该测试载体用以保持用于测试的装置；装置梭，该装置梭用以传输所述装置；以及机器人，该机器人用以在测试载体和装置梭之间移动装置。装置梭被配置为朝向包含机器人的测试系统的级移动尚未测试的该装置中的第一装置。装置梭被配置为在第一维度上移动。机器人被配置为将第一装置从装置梭移动到测试载体。机器人被配置为在不同于第一维度的第二维度上移动。

公开(公告)号：CN107003336B

公开(公告)日：2021-09-07

申请号：CN201580068384.3

申请日：2015-11-19

Applicant: 泰拉丁公司

Inventor： 马可·斯皮尔曼 ,  约翰·J·基奥 ,  马可·哈特纳

IPC: G01R1/073 ,  G01R31/26 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明提供了一种示例性自动测试设备(ATE)，所述ATE包括：每引脚测量单元(PPMU)；被配置为执行状态机以控制所述PPMU的逻辑器；作为所述逻辑器的一部分或与逻辑器分离的存储器；以及用于命令逻辑器的控制系统；其中，响应于来自所述控制系统的命令，所述状态机被配置为以已知的间隔或在ATE事件下获取基于由所述PPMU进行的测量的输出的数据，并将所述数据存储在所述存储器中，或者以已知的间隔或以与事件同步的方式将所述数据从所述存储器输出到所述PPMU。

公开(公告)号：CN107209225B

公开(公告)日：2021-08-10

申请号：CN201680008223.X

申请日：2016-02-01

Applicant: 泰拉丁公司

Inventor： 乔治·W·康纳

IPC: G01R31/28 ,  G06F1/04 ,  H03M9/00 ,  H04L7/00

Abstract: 本发明公开了一种电子系统，该电子系统包括第一半导体器件、第二半导体器件、时钟电路、以及连接在多个串行数据路径中的每个路径中的多个可独立调节的校准电路。第一半导体器件可包括多个串行器‑解串器接口。第二半导体器件可包括耦接到多个串行器‑解串器接口的多个串行数据接口，以在第一半导体器件和第二半导体器件之间提供多个串行数据路径。多个串行器‑解串器接口和多个串行数据接口可从源自时钟电路的时钟信号计时。多个可独立调节的校准电路可被配置为补偿跨多个串行数据路径的定时差异。

公开(公告)号：CN107110881B

公开(公告)日：2020-10-27

申请号：CN201580066366.1

申请日：2015-11-19

Applicant: 泰拉丁公司

Inventor： 罗格·艾伦·辛希莫 ,  加里·福勒 ,  弗拉迪米尔·韦纳 ,  迈克尔·彼得·哈希尔 ,  安德烈亚斯·弗利尔

IPC: G01P3/486 ,  G01P3/68

Abstract: 本发明公开了一种方法，所述方法包括：对于由空气轴承支撑的部件，检测所述部件相对于预定义位点的移动速度，所述空气轴承产生空气流以相对于地平面抬升所述部件；以及至少部分地基于所述检测到的速度来控制所述空气轴承。

公开(公告)号：CN106104782B

公开(公告)日：2020-10-16

申请号：CN201580014717.4

申请日：2015-03-18

Applicant: 泰拉丁公司

Inventor： 杰克·E·魏默

IPC: H01L21/66

Abstract: 一种用于半导体器件的精确的大电流参数测试的测试系统及测试技术。在操作中，所述测试系统向所述半导体器件提供电流，并测量所述器件上的电压。所述测试系统可使用测得电压来计算所述大电流半导体器件的导通电阻。在一种技术中，多个供电针在多个位置接触一个焊盘，所述位置将相对于接触同一焊盘的一个或多个感测针提供等阻通道。在另一种技术中，穿过所述供电针的电流被调节成使得所述被测器件的所述焊盘处的电压表示所述器件的导通电阻，并且独立于所述供电针的接触电阻。另一种技术使得在供电针的接触电阻超过阈值时生成报警指示。

公开(公告)号：CN111034049A

公开(公告)日：2020-04-17

申请号：CN201880053219.4

申请日：2018-08-14

Applicant: 泰拉丁公司

Inventor： 扬·保罗·安东尼·范德瓦特

IPC: H03K19/003 ,  H03K3/037

Abstract: 用于调节信号中的上升-下降偏移的示例电路包括：锁存器，该锁存器包括第一锁存器输入、第二锁存器输入和锁存器输出，第一锁存器输入和第二锁存器输入中的每一个响应于信号版本的上升沿，以在锁存器输出处提供预定的逻辑电平；第一延迟电路，该第一延迟电路可控制以配置第一延迟，第一延迟电路电连接到第一锁存器输入，并且用于调节信号的第一版本中的偏移的上升部分；和第二延迟电路，该第二延迟电路可控制以配置第二延迟，第二延迟电路电连接到第二锁存输入，并且用于调节信号的第二版本中的偏移的下降部分。

公开(公告)号：CN111033402A

公开(公告)日：2020-04-17

申请号：CN201880054337.7

申请日：2018-08-14

Applicant: 泰拉丁公司

Inventor： 阿德南·哈利德

IPC: G05B19/31 ,  G05B19/401 ,  G05B19/402

Abstract: 一种示例性方法，诸如校准方法，该方法包括：确定单元的布置的几何形状，该几何形状由被配置为将装置移动进出单元的机器人所感知；确定目标单元在单元之间的预期位置；基于由机器人感知的几何形状来确定与预期位置的偏移；以及基于偏移来校准机器人。

公开(公告)号：CN109564261A

公开(公告)日：2019-04-02

申请号：CN201780047476.2

申请日：2017-05-25

Applicant: 泰拉丁公司

Inventor： 道格拉斯·W·庞兹

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/319 ,  G01R19/17

CPC classification number: G01R31/2834 ,  G01R19/16538 ,  G01R31/2601 ,  G01R31/2851 ,  G01R31/2879 ,  G01R31/31924

Abstract: 本发明公开了一种示例性测试系统，所述测试系统包括：多个通道，其中所述多个通道中的每个被配置为供应电压以及流出电流；和电路系统，所述电路系统结合由所述多个通道流出的电流，以产生经结合的电流，用于在单一通道上输出到受测装置(DUT)，其中所述多个通道中的每个包括负载分担电阻器以控制所述通道对所述经结合的电流的贡献。

公开(公告)号：CN108291929A

公开(公告)日：2018-07-17

申请号：CN201680068809.5

申请日：2016-08-25

Applicant: 泰拉丁公司

Inventor： 马可·斯皮尔曼

IPC: G01R27/26 ,  G01R19/12

CPC classification number: G01B7/02 ,  G01D5/24 ,  G01R1/24 ,  G01R27/26 ,  G01R27/2605 ,  G01R31/31901 ,  G01R31/3191 ,  G06K9/0002 ,  H03K17/955

Abstract: 本发明提供了一种用于确定电路径长度的示例方法，所述方法包括：将电流注入具有已知的每单位长度电容的传输线中；确定所述传输线上的响应于所述电流的电压变化的速率；基于所述电压变化来确定所述传输线的电容；以及基于所述传输线所确定的电容和所述已知的每单位长度电容来确定所述传输线的电路径长度。

公开(公告)号：CN108139431A

公开(公告)日：2018-06-08

申请号：CN201680059260.3

申请日：2016-08-24

Applicant: 泰拉丁公司

Inventor： 加里·福勒 ,  弗拉迪米尔·韦纳

IPC: G01R1/067 ,  G01R31/28 ,  G01R31/319 ,  B25J9/04

CPC classification number: G01R1/07378 ,  G01R1/0416 ,  G01R31/2834 ,  G01R31/2887

Abstract: 一种用于传送测试头的示例性操纵器包括：塔部，该塔部具有基部和轨道，其中轨道相对于基部垂直；臂，该臂允许支承测试头，其中臂连接至轨道以相对于塔部垂直移动测试头；一个或多个电机，该一个或多个电机用于驱动臂沿着轨道移动；以及气压缸，该气压缸用于控制臂的移动，以使测试头向外围设备施加一定量的力。