电流模式粗基线校正
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105814527B

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201480059672.8

    申请日:2014-09-29

    CPC classification number: G01R27/2605 G01R35/005 G06F3/044

    Abstract: 本文中的实施例总体上针对使用电流模式CBC电路来在执行电容感测时维持接收器处的电压偏置设定。为了这样做,CBC电路可以通过在接收器的输入处提供电流来补偿接收器处的电压的改变。代替针对每一个接收器使用无源CBC电容器,输入设备可以使用单个CBC电容器和多个电流反射镜来对校正多个接收器处的输入电压所需要的电流进行拉和灌。因此,电流模式CBC电路包括仅一个无源电容器(或一组电容器)和多个电流反射镜,其可以相对于针对每一个接收器信道使用一个无源电容器(或一组电容器)的CBC电路提供空间和成本益处。

    一种电容检测系统的自动夹持装置

    公开(公告)号:CN109358210A

    公开(公告)日:2019-02-19

    申请号:CN201811262802.4

    申请日:2018-10-27

    Inventor: 谷勋亮

    CPC classification number: G01R1/0425 G01R27/2605

    Abstract: 本发明的一种电容检测系统的自动夹持装置,涉及检测领域,包括基座、调节块、伸缩杆和联动机构,所述基座的内部设有开口向上的调节槽,所述调节槽外部的左侧位置设有调节机构,所述调节块内部设有内腔,所述内腔的顶部通过插孔与外部相连通,所述联动机构位于内腔的底部位置且联动机构与内腔的侧壁滑动连接,所述伸缩杆对称设在联动机构的两端面,且伸缩杆的一端与联动机构铰接,所述伸缩杆的另一端与夹持机构铰接,所述夹持机构位于内腔靠近插孔的位置,且夹持机构与内腔的侧壁固定连接,该装置操作简单,不需要测量人员用手固定和松开电容引脚,提高了测量效率,避免了人手在与电容引脚接触后,产生的测量误差。

    一种薄膜样品的电学性质测量方法

    公开(公告)号:CN109142059A

    公开(公告)日:2019-01-04

    申请号:CN201811083993.8

    申请日:2018-09-06

    Abstract: 本发明涉及材料科学领域,一种薄膜样品的电学性质测量方法,将电晕探针切换到探头的探针位I;控制位移台将栅网移动至样品上方三毫米距离处,并通过电压源对其施加电压,所述电压典型值为50V;控制位移台将金属罩移动至栅网上方四毫米距离处,并通过直流电源对其施加电压,所述电压典型值为1.5kV至2.5kV;对样品充电:通过高压恒流源对电晕探针施加电流,电流典型值为二微安,测量方法包括测量样品表面的电势衰减的步骤、测量样品的电容的方法,采用可移动的电晕探针对薄膜充电,以进行相关电学测量,并采用施加电压的栅网使得到达薄膜表面的离子分布更均匀,充电过程快速且易控制,能够同时对薄膜进行相关力学特性的测量。

    一种电容测量装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108196129A

    公开(公告)日:2018-06-22

    申请号:CN201810012276.X

    申请日:2018-01-05

    CPC classification number: G01R27/2605

    Abstract: 本发明实施例公开了一种电容测量装置,其利用电压比较器构成的LC振荡器,利用电压比较器LM393393芯片的应用特点,把电容的大小转变成LM393输出频率的大小,进而可以通过测量LC震荡回路的频率而获得被测电容的电容值。本方案的精度较高,硬件设计和软件设计也相对简单。

    一种基于单片机的RC检测仪

    公开(公告)号:CN108120877A

    公开(公告)日:2018-06-05

    申请号:CN201611066618.3

    申请日:2016-11-28

    Applicant: 吴金术

    CPC classification number: G01R27/02 G01R27/2605

    Abstract: 本发明公开了一种基于单片机的RC检测仪,包括电阻测量、频率计数器、单片机、电容测量、按键模块和显示模块,所述电阻测量与频率计数器连接;所述电阻测量通过量程切换与单片机连接;所述电容测量与频率计数器连接;所述电容测量通过量程切换与单片机连接;所述单片机与按键模块连接;所述单片机与显示模块连接。本发明的一种基于单片机的RC检测仪,电路结构简单,易于实现,测量范围广,测量稳定,精度高,不容易受外界因素影响。

    面板驱动装置和面板驱动方法

    公开(公告)号:CN107924254A

    公开(公告)日:2018-04-17

    申请号:CN201680048930.1

    申请日:2016-08-23

    Inventor: 安容星

    CPC classification number: G06F3/044 G01R27/2605 G06F3/041

    Abstract: 本发明提供一种面板驱动装置:其通过使用第一放大器来将第一信号供应到第一传感器电极,以检测第一传感器电极的电容的变化;通过使用第二放大器来将具有与第一信号相同波形的第二信号供应到与第一传感器电极相邻的第二传感器电极;以及根据第一传感器电极的电容的变化来检测外部物体向传感器电极靠近或触摸。

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