一种用于空间位置精确测量的设备

    公开(公告)号:CN100363712C

    公开(公告)日:2008-01-23

    申请号:CN200510083495.X

    申请日:2005-07-29

    Abstract: 一种用于空间位置精确测量的设备,属于激光光电测量技术应用领域。本发明包括发射基准板、准直激光器、光束调整器、接收基准板、支撑架、二维光电传感器及信号处理器。其结构特点是,所述准直激光器与光束调整器连接。光束调整器安装在发射基准板上并使激光束与发射基准板法线一致而形成激光发射装置。所述接收基准板与支撑架侧端固定,支撑架上装有传动装置,传动装置上安装二维光电传感器及信号处理器。二维光电传感器的探测面的坐标中心移动轨迹与接收基准板的法线一致而形成光电检测装置。本发明是以激光光电四自由度空间位置测量系统,来实现远距离物体空间位置关系的精确测量。

    背散射检查系统
    89.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114166875B

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202010954645.4

    申请日:2020-09-11

    Abstract: 本发明涉及背散射检查系统。公开了一种背散射检查系统,包括:X射线源,用于生成X射线;笔束形成装置,用于将X射线源生成的X射线调制成X射线笔束;两个探测器,用于接收在调制的X射线笔束照射到待检查物体后背散射的X射线,两个探测器间隔开布置以形成缝隙,探测器包括用于朝向待检查物体的接收面;和屏蔽装置,位于邻近两个探测器之间的缝隙和/或探测器的接收面处,用于降低在X射线笔束到达待检查物体之前引起的散射对探测器的影响。

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