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公开(公告)号：CN106153647A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201510163516.2
申请日：2015-04-08
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/04
Abstract: 本申请涉及能谱CT成像系统及其数据采集方法以及重建能谱CT图像的方法。能谱CT成像系统包括具有多个像素的光子探测器,用于该能谱CT成像系统的数据采集方法可包括在多个投影角度从所述光子探测器对穿过被成像物的光子进行数据采集,对于每一投影角度,该数据采集方法包括按照多个随机分布的像素地址编码从所述光子探测器获取数据。
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公开(公告)号：CN103033525B
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201110292773.8
申请日：2011-09-30
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京固鸿科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种CT系统和CT图像重建方法。所述CT系统包括射线源、射线探测器、数据采集与处理单元、主控制器、相机组和标记组以及标记组处理单元，其中，所述标记组被固定在受检物体表面；所述相机组用来获得所述标记组在其上的投影；所述标记组处理单元根据所述投影得出所述标记组的初始位置以及旋转后的位置信息，从而计算得到受检物体的旋转矩阵和位移量。本发明CT图像重建方法包括步骤：将标记组固定在受检物体表面并得到所述标记组的初始位置；在每次受检物体被旋转后获得旋转后标记组的位置信息；接着获得受检物体的旋转矩阵和位移量；根据所述旋转矩阵和位移量来重建CT图像。采用本发明CT系统和CT图像重建方法对机械控制精度要求不高。
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公开(公告)号：CN104749648A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201310740971.5
申请日：2013-12-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/0041 , G01N23/046 , G01T1/2985 , G01V5/005
Abstract: 公开了一种多能谱静态CT设备，包括多点分布式的射线发生装置，多排探测器及数据采集装置，行李传送及控制装置以及多能量投影数据处理装置。本发明的目的在于将静态CT扫描模式与多能谱分析技术相结合，既保留静态CT原有优点，如扫描速度快、机械结构简单，节省滑环和探测器成本等，又可以实现对物质成分的识别，对于安全检查、海关缉私等场合都具有很高的实用价值。
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公开(公告)号：CN104422704A
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN201310365977.9
申请日：2013-08-21
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明涉及一种X光能谱CT的能谱信息分解方法，该方法包括以下步骤：确定成像所使用的能量范围；求解分解基函数；根据所求出的分解基函数对每条射线求分解系数；对所述分解系数进行线性组合得到单能衰减系数投影g。此外，本发明还涉及一种基于本发明的能谱信息分解方法来重建能谱信息的方法。
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公开(公告)号：CN104240270A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201310234787.3
申请日：2013-06-14
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/032 , A61B6/4085 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/5205 , A61B6/5258 , G06T11/005 , G06T11/006 , G06T2211/408 , G06T2211/436
Abstract: 公开了一种CT成像方法和系统。该方法包括步骤：利用双能CT系统对物体进行CT扫描，在第一扫描模式下得到完备的第一投影数据集合，在第二扫描模式下得到非完备的第二投影数据集合；基于第一投影数据集合重建物体的第一衰减系数图像，并且从第一衰减系数图像中提取物体的先验结构信息，所述先验结构信息指示边缘的强弱；利用提取的先验结构信息作为约束条件，从非完备的第二投影数据集合重建所述物体的第二衰减系数图像。所述方法利用被成像物体的先验结构信息作为重建过程的约束条件，可以大幅度降低重建所需要的数据量，对于病态的有限角和内重建问题也具有良好的效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN207263665U
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201721243114.4
申请日：2017-09-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/046
Abstract: 本实用新型公开了一种用于物品安全检查的扫描成像系统。该扫描成像系统包括：传送单元，用于使所述物品沿所述传送单元的传送方向移动；多个射线源，所述多个射线源位于所述传送单元一侧，且沿与所述传送单元所在平面相垂直的方向依次设置，所述多个射线源交替发出射线束以形成扫描区域；位于所述传送单元另一侧的线性探测器阵列，所述线性探测器阵列用于探测在所述物品穿过所述扫描区域的过程中，所述多个射线源发出的射线束透过所述物品后形成的第一投影图像；成像单元，所述成像单元用于根据所述多个射线源的第一投影图像，得到所述物品的第一重建图像。采用本实用新型实施例中的技术方案，能够消除待测物品的重建图像中的伪影。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN203705363U
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201320877643.5
申请日：2013-12-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种CT系统。该系统包括：传送机构；第一扫描级，对被检查物体进行扫描，产生第一数字信号；第二扫描级，沿着被检查物体的运动方向与第一扫描级间隔预定距离设置；处理装置，基于第一数字信号重建被检查物体的第一像质的CT图像，并且对CT图像进行分析；控制装置，与各个扫描级连接，基于处理装置的分析结果调节所述第二扫描级的扫描参数，使得第二扫描级输出第二数字信号，处理装置与各个扫描级和控制装置连接，至少基于第二数字信号重建被检查物体的第二像质的CT图像，其中第二像质高于第一像质。本系统充分利用了分布式光源取代传统滑环技术所带来的优势。
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公开(公告)号：CN202305443U
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201120368673.4
申请日：2011-09-30
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京固鸿科技有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本实用新型公开了一种CT系统。所述CT系统包括射线源、射线探测器、数据采集与处理单元、主控制器、相机组和标记组以及标记组处理单元，其中，所述标记组被固定在受检物体表面；所述相机组用来获得所述标记组在其上的投影；所述标记组处理单元根据所述投影得出所述标记组的初始位置以及旋转后的位置信息，从而计算得到受检物体的旋转矩阵和位移量。采用本实用新型CT系统对机械控制精度要求不高。
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公开(公告)号：CN209674014U
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201822120264.7
申请日：2018-12-17
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 本实用新型公开了一种CT系统和用于CT系统的探测装置。该装置包括：高能探测器组件，高能探测器组件包括沿预定轨迹排布的多排高能探测器；低能探测器组件，与高能探测器组件层叠设置，低能探测器组件包括沿预定轨迹间隔排布的多排低能探测器；其中，低能探测器的排数小于高能探测器的排数；每排低能探测器均覆盖一排高能探测器。根据本实用新型实施例提供的CT系统和用于CT系统的探测装置，提高了对材料的分辨能力。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN204926815U
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201520692196.5
申请日：2015-09-08
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种光栅和辐射成像装置，其中该光栅包括：若干个叠摞的栅格单元，若干个栅格单元叠摞形成栅格；所述栅格单元包括具有两个相互平行平面的第一薄片和第二薄片；所述第一薄片与所述第二薄片沿第一薄片长度方向叠摞；所述第一薄片为不易透过射线的薄片。本实用新型采用不同规格的薄片叠摞形成光栅间隙均匀的光栅，光栅厚度不受限制，可以用于高能射线场合。
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