-
公开(公告)号：CN110763305A
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201810850019.3
申请日：2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种光电式液位测量方法，属于光电检测技术领域，其采用导光板与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置，导光板上用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置的面为导光板液位面，待测液体液位线落于导光板液位面内，通过待测液体液位改变导光板内光束的传输，使导光板内一部分的光束不发生全反射，从而改变导光板采光面出射光的光场，通过检测该出射光光场的变化，进而检测获得待测液体的液位，导光板上与导光板液位面相对且平行的面为导光板采光面。该方法基于已有的光学原理，利用导光板设计一种新型的光电式液位测量方法，该方法测量精确可靠，操作便利，能较好地在工程实践中运用。
-
公开(公告)号：CN110044932A
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201910330948.6
申请日：2019-04-23
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/958 , G01N21/01
Abstract: 本发明公开了一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法，属于曲面玻璃检测领域，以平行于曲面玻璃平面部分的线偏振光从曲面玻璃侧面入射至待检测曲面玻璃中，采用偏振相机在曲面玻璃平面部分的垂直线方向上采集待检测曲面玻璃的出射光，获得出射光的斯托克斯矢量S’，根据入射至曲面玻璃的线偏振光的斯托克斯矢量S，获得反应曲面玻璃的Mueller矩阵M’，最后根据M’和内部无任何缺陷的标准曲面玻璃样品的Mueller矩阵M，获得待检测曲面玻璃内部缺陷信息，完成检测，其中，线偏振光自身为平行光，而非发散光。本发明方法高效、成本低、能较好的检测曲面玻璃的表面和内部缺陷。
-
公开(公告)号：CN110044929A
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201910329425.X
申请日：2019-04-23
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/958 , G01N21/01
Abstract: 本发明公开了一种基于暗场照明的曲面玻璃次表面缺陷检测装置，包括照明模块、图像采集模块和图像处理模块；照明模块包括激光光源、偏振分光镜、第一平面反射镜、第一拦光光阑、第二平面反射镜、第二拦光光阑、45°半透半反镜、扩束镜和第三平面反射镜；图像采集模块包括共主光轴依次设置的显微物镜、聚焦透镜和CCD；图像处理模块与图像采集模块相连；激光入射到偏振分光镜，经过偏振分光镜后得到两束偏振方向相互垂直的偏振光P波和S波，分别对待测件进行两路暗场照明得到包含待测件缺陷的散射光。本发明利用偏振分光镜得到两路照明光，一路照明光用来大致定位缺陷，另一路照明光用来精确定位缺陷，提高了检测装置的对比度，也简化了操作。
-
公开(公告)号：CN106815832B
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201611187643.7
申请日：2016-12-20
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种表面贴装技术的钢网图像自动配准方法，属于图像处理与光学测量领域。该发明方法利用图像外接矩形和配准点间的距离不受钢网任意摆放位置和角度的影响的特型，利用设计配准点和设计点阵图和钢网成品图像进行配准，配准时将钢网与设计图像进行仿射变换配准所需要计算的平移、旋转、缩放3个参量的计算转换成了传输特征矩阵的计算，配准后进行配准自动测试，配准失败后进行二次配准。同时本发明还实现了一种表面贴装技术的钢网图像自动配准系统。本发明技术方案不受配准产品的摆放位置和摆放角度的影响，具有配准精确、快速和简单高效的特点，同时有效的提高了配准成功率。
-
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102967583B
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201210447155.0
申请日：2012-11-11
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/43
Abstract: 本发明公开了一种用于测量液相气体折射率的测量仪，包括：点光源照明模块，其产生光束以对待检测液相气体进行检测；探测棱镜，其一棱镜面与所述待测液体表面接触形成反射面，点光源照明模块出射后的光束在该反射面上聚焦形成光斑，并发生全反射和部分反射；反射光接收模块，其用于收集经所述反射面反射的光线，并将收集的光斑图像信息转换成电信号输出；图像分析模块，其对输出的光斑图像信息进行处理，提取出光斑中的明暗界限，进而即可得到待测物的折射率。本发明还公开了一种测量液相气体折射率的方法。本发明的装置和方法可以有效测量液相气体折射率，具有精度高、维护简单、实现容易、抗干扰能力强、受测量环境影响小等优点。
-
公开(公告)号：CN119714045A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411940354.4
申请日：2024-12-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B9/02015 , G01B9/02056 , G01B11/24
Abstract: 本申请属于样品形貌检测领域，具体公开了一种多层折射样品检测装置及方法。方法为：将初始光束分为第一光束和第二光束，再将第一光束分解为具有正交偏振态的且光程差固定的两路参考光，将第二光束传输至待测样品产生若干反射光；采集参考光与反射光干涉产生的初始干涉光谱，在初始干涉光谱中去除参考臂引入的固有伪影、待测样品内部的自相关伪影以及镜像伪影，获取无伪影的干涉光谱，进而获取待测样品的三维信息。本申请可以在不损伤待测样品的情况下，对多层折射样品的内层结构进行精准测量。
-
公开(公告)号：CN118603314A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410663595.2
申请日：2024-05-27
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本申请属于光谱成像技术领域，具体公开一种通道可扩展的多通道光谱仪。沿光路依次包括：光纤阵列组由多个光纤阵列组成，用于接收不同来源的信号光，入射至狭缝阵列中的其中一个狭缝；狭缝阵列上设有多个狭缝，所述狭缝的数量与光纤阵列的数量匹配，各狭缝的开闭状态被单独控制，用于在打开状态下使入射光线按照光学系统要求的宽度入射到色散光谱成像结构；色散光谱成像结构，用于成狭缝像。通过本申请，在准直镜组前端增加光纤阵列和狭缝阵列，分别接收来自不同光纤阵列的信号，控制狭缝阵列不同狭缝的开闭，单个光纤阵列的信号光会通过单狭缝最终成像在探测器上，分别得到不同光纤阵列信号光的光谱数据，拓展多通道光谱仪同时可探测的通道数。
-
公开(公告)号：CN117669376A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311645956.2
申请日：2023-11-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F30/27 , G06F30/25 , G06N5/01 , G06N20/20 , G01N15/0205 , G06F113/08
Abstract: 本发明公开一种液体杂质颗粒系粒径分布反演方法和系统，属于光散射微小颗粒检测领域。本发明在确定随机森林的最佳决策树时，通过调节仿真颗粒系的粒径分布，计算多个散射角度下的颗粒系模拟样品中各粒径的颗粒物所对应的散射光强分数，进一步计算得到若干散射角度下的无噪声电场自相关函数与等效平均粒径。再将预设的噪声水平与高斯噪声分布函数相乘，将结果与若干散射角度下的等效平均粒径相加，得到对应的含噪等效平均粒径，作为模型输入，对应的模拟样品粒径分布作为模型输出，比较采用不同决策树数量训练的反演效果评价值。根据反演效果评价值，确定最佳决策树数量。反演速度快，对于含噪的数据反演结果更加稳定，满足检测精度要求。
-
公开(公告)号：CN117053715A
公开(公告)日：2023-11-14
申请号：CN202311083366.5
申请日：2023-08-25
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供一种用于多层折射样品形貌结构测量的检测装置及方法，属于样品形貌检测领域，方法包括：获取第一路反射光束；第一路反射光束作为参考光束；获取从待测样品反射来的第二路反射光束；待测样品包括多层折射结构，第二路反射光束对应的入射光束在入射过程中经过色散元件，色散元件用于保证待测样品每个反射界面的反射信号具有相同符号的非线性相位；基于第一和第二路反射光束的干涉光谱进行分析成像，得到待测样品的形貌结构信息；第二路反射光束中每个反射界面的反射信号具有相同符号的非线性相位，使得对干涉光谱进行相位补偿时真实信号被增强，真实信号共轭的镜像信号被抑制。本发明提高了样品的形貌检测深度范围，且保证了检测精度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
128
records
(took 0.023 seconds)
