一种基于三相配电变压器的低碳产品评价方法

    公开(公告)号:CN118643968A

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202310222424.1

    申请日:2023-03-09

    Abstract: 本发明公开了一种基于三相配电变压器的低碳产品评价方法,包括以下步骤:S1:生命周期思想原则;S2:定性和定量评价相结合原则;S3:配电变压器生产企业其他合规性评价;S4:三相配电变压器的低碳评价基本要求;S5:原材料碳排放获取要求及计算;S6:碳效比评价方法。本发明所述的一种基于三相配电变压器的低碳产品评价方法,对三相配电变压器制定了其低碳产品评价原则、评价要求和评价方法等内容,同时限定了配电变压器低碳产品评价报告所应遵守的规则,以此可以通过碳效比的评价方法推动配电变压器制造企业减少原材料获取阶段和运行过程的碳排放,改进产品结构,降低损耗参数、推动技术进步。

    一种开断大电流的试验回路及试验方法

    公开(公告)号:CN113109702B

    公开(公告)日:2023-03-03

    申请号:CN202010035213.3

    申请日:2020-01-09

    Abstract: 本发明公开了一种开断大电流的试验回路及试验方法,该回路会为单相回路,包括发电机,均由三台变压器串并联组成的第一中间变压器、第二中间变压器、第三中间变压器,保护断路器,阻抗,分压器,分流器及试品。该回路利用中间变压器实现升压降压,通过保护断路器作为高压开关开断高压小电流,从而实现大电流的开断。依据该回路进行试验,试验前,保护断路器分闸,发电机加励磁,待中间变压器电压升到所需电压,保护断路器合闸,电流流经试品,待通流时间达到所需时间,保护断路器分闸。本发明提供的试验回路不仅为大电流的开断提供了一种有效的试验回路,而且中间变压器的串并联方式可根据电压需求灵活变化,从而满足了不同电压需求。

    高低温环境电磁兼容测试方法
    73.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114636879A

    公开(公告)日:2022-06-17

    申请号:CN202210236873.7

    申请日:2022-03-10

    Abstract: 本发明公开一种高低温环境电磁兼容测试方法,包括以下步骤:S1:将待测试设备放置于电波暗室的环境模拟装置内;S2:系统控制器控制环境模拟装置将其内部密封腔的温度调节至待测温度;S3:系统控制器控制电磁测试装置开启,电磁测试装置对设备进行EMC测试,并将EMC测试值保存于数据库内;S4:重复S2‑S3,直至待测试设备在所有的待测温度下均进行了EMC测试。本发明采用在电波暗室内设置环境模拟装置的方式进行高低温测试,不破坏原有的电波暗室,不会降低电波暗室的使用寿命和原有的测试可行性。采用本发明的高低温环境电磁兼容综合试验系统对上述设备在高低温环境下进行EMC测试,更全面的对设备的抗干扰性能进行试验。

    特高压变压器试验系统的电源容量计算方法及装置

    公开(公告)号:CN114252809A

    公开(公告)日:2022-03-29

    申请号:CN202111641527.9

    申请日:2021-12-29

    Abstract: 本发明公开一种特高压变压器试验系统的电源容量计算方法及装置,该方法包括以下步骤:在先短路法和后短路法中选择短路试验方式;采用合适的短路试验方式下,根据待试验变压器的额定容量和短路阻抗,计算得到试验系统需要的初步电源容量P0;根据待试验变压器的性能参数,计算得到其分别在高中试验和中低试验中的短路电流;根据得到的短路电流,计算得到试验系统需要的最终电源容量Pt。采用本发明所公开的方法或装置可以准确有效得到特高压变压器试验系统的电源容量,为试验的准确性,安全性保驾护航。

    一种抑制厚外延层半导体器件寄生BJT的方法及结构

    公开(公告)号:CN112259536A

    公开(公告)日:2021-01-22

    申请号:CN201910693631.9

    申请日:2019-07-21

    Abstract: 本发明提供一种抑制厚外延层半导体器件寄生BJT的方法及结构,其特征在于,包括以下步骤:提供半导体衬底,并在所述半导体衬底上形成外延层;在所述外延层上形成半导体器件,所述半导体器件包括:源区、漏区、栅极堆叠;在所述半导体器件周围形成与所述半导体器件不相连的导电层,用于减小基区电阻。相应地,本发明还提供一种应用本方法制造的半导体结构。采用本发明的方法以及半导体结构可以有效地抽取外延层中的非平衡载流子,大大减少寄生BJT的基区电阻,有效地抑制厚外延器件中的寄生BJT效应或者闩锁效应,从而减少泄漏电流、降低噪声、减小误开启概率,提高半导体器件的整体性能与可靠性。

    一种无线充放电测试系统及方法

    公开(公告)号:CN112034286A

    公开(公告)日:2020-12-04

    申请号:CN202010908838.6

    申请日:2020-09-02

    Abstract: 本发明公开一种无线充放电测试系统及方法,该测试系统包括电源负载电路和采集监控电路,电源负载电路包括:外接市电、电源开关、充电开关、整流电路、振荡放大电路、放电开关、感应线圈、控制电路以及电子负载,外接市电、电源开关、充电开关、整流电路、振荡放大电路、感应线圈以及控制电路形成充电测试回路,放电开关、感应线圈、控制电路以及电子负载形成放电测试回路;采集监控电路用于实时采集待测设备电流、电压、储能电量中的一种或多种性能值。本发明可以有效准确的收集检测多种无线充放电设备无线充电和放电性能,通用性良好,操作方便,设备磨损率低,应用范围广。

    电容器检测设备及其检测方法

    公开(公告)号:CN109188161B

    公开(公告)日:2020-07-31

    申请号:CN201811315723.5

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 本发明公开一种电容器检测设备及其检测方法,电容器检测设备,包括:载具,在载具上设有多个卡孔,卡孔用于对待检测电容器进行承载;传输装置,传输装置用于对载具进行传输;图像采集组件,包括设置于传输装置上方的上图像采集组件和设置于传输装置下方的下图像采集组件,上图像采集组件和下图像采集组件用于对待检测电容器的外表面进行缺陷检测;性能检测装置,包括:性能检测电路板以及用于带动性能检测电路板升降的升降组件,性能检测装置用于对待检测电容器的电学性能进行检测。本发明结构简单,操作便捷,可以快速有效的对电容器的电学性能以及电容器的表面进行检测,降低人工干预,减少劳动力,提高检测精度和检测速度。

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