显微镜测量系统
    50.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101715564A

    公开(公告)日:2010-05-26

    申请号:CN200780052986.5

    申请日:2007-05-15

    CPC classification number: G02B21/24 G02B21/34

    Abstract: 显微镜测量系统,包括:具有显微镜主体和与所述显微镜主体连接的物镜机构的光学显微镜;包括用于将待测对象保持在其中的支撑机构的腔室,所述腔室具有用于以使所述物镜机构基本位于所述腔室内部且所述显微镜主体基本位于所述腔室外部的方式将所述物镜机构插入所述腔室中的开口;和以密封所述腔室的方式在该光学显微镜和该腔室之间提供基本气密性连接的密封机构。

Patent Agency Ranking