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公开(公告)号：CN113075238B
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202110230373.8
申请日：2021-03-02
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明的目的在于提供一种高压环境下的微波含水率测试装置及其测试方法，属于含水率测试技术领域。该装置通过设计耐高压的测试夹具，利用渐变槽天线作为接收发送单元，将管道含水率的变化转换成对天线传输系数的影响，通过时域选通技术滤除电磁波的多次反射信号，从而得到传输系数和流体含水率的关系，实现高压环境下管道含水率的实时检测，并且该装置测试范围宽、精度高。
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公开(公告)号：CN111077377B
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN201911194800.0
申请日：2019-11-28
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明提供了一种用于抑制准光腔简并高次模的样品台及其测试方法和应用，包括介质基板，介质基板中心设有圆形金属覆层，金属覆层上刻有微波匹配电路结构，微波匹配电路结构为圆形金属覆层圆心两侧对称设置的两条平行于TEM00q模式电场方向的缝隙，金属覆层厚度大于工作频点电磁波的趋肤深度，介质基板材料的损耗角正切值高于1e‑4，本发明能够在保证不影响TEM00p模的前提下，使TEM00p模附近的非TEM00p模造成不匹配而无法激励出谐振现象，能够将其能量通过高损耗基板将其消耗掉，进而能够将频谱对应TEM00p模出现的双峰改进为对称的单峰，在使用准光腔法测试复介电常数时，TEM00p模对应Q值的测试更为真实，提高准光腔法测待测材料损耗的精度。
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公开(公告)号：CN109030358B
公开(公告)日：2020-11-27
申请号：CN201810856245.2
申请日：2018-07-31
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明提供一种基于同轴腔微波谐振原理的微弱红外信号检测系统与方法，包括蓝宝石窗口、光学分频系统、同轴腔红外信号探测系统、数据提取与处理系统、真空低温舱，蓝宝石窗口镶嵌于真空低温舱壁上；光学分频系统包括离轴抛物面聚焦镜、光纤和多信道光栅，将待测红外信号进行全反光变换，并经光纤传输至多信道光栅进行分频段和分信道处理；同轴腔红外信号探测器通过位置调节对各频段红外信号进行检测；数据采集与处理系统对同轴腔红外信号探测器进行数据实时提取与处理；本发明采用同轴腔红外探测器、离轴抛物面聚焦镜和真空低温舱将微弱红外信号转换成可观察、易检测的微波信号，具有测试频带宽、精度高、稳定性好、使用和维护成本低的特点。
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公开(公告)号：CN111077377A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201911194800.0
申请日：2019-11-28
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明提供了一种用于抑制准光腔简并高次模的样品台及其测试方法和应用，包括介质基板，介质基板中心设有圆形金属覆层，金属覆层上刻有微波匹配电路结构，微波匹配电路结构为圆形金属覆层圆心两侧对称设置的两条平行于TEM00q模式电场方向的缝隙，金属覆层厚度大于工作频点电磁波的趋肤深度，介质基板材料的损耗角正切值高于1e-4，本发明能够在保证不影响TEM00p模的前提下，使TEM00p模附近的非TEM00p模造成不匹配而无法激励出谐振现象，能够将其能量通过高损耗基板将其消耗掉，进而能够将频谱对应TEM00p模出现的双峰改进为对称的单峰，在使用准光腔法测试复介电常数时，TEM00p模对应Q值的测试更为真实，提高准光腔法测待测材料损耗的精度。
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公开(公告)号：CN108594023A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201810532848.7
申请日：2018-05-29
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明提供了一种基于渐变型同轴谐振腔的材料复介电常数测试系统及方法，测试系统包括渐变型同轴谐振腔、耦合装置，测试方法的步骤包括：1)测试并记录未加载样品时对应空腔工作模式的谐振频率f0和品质因数Q0；2)测量待测样品的直径为DS、厚度为dS，将其置于样品区，测试并记录加载样品后对应腔体工作模式的谐振频率fS和品质因数QS；3)利用谐振腔微扰理论，可计算出待测材料的复介电常数；本发明实现了微波介质材料在常温下的复介电常数高精度测试，不仅能够缩小低频测试所需的腔体尺寸与样品的尺寸，并且可利用底部密封的料管夹具完成液体及粉末材料的复介电常数测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119556011A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202510016236.2
申请日：2025-01-06
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明提供一种基于平行带线的强微波电场环境材料电磁参数测量系统及方法，属于微波测试技术领域。本发明创新性地设计具有开缝结构的双面平行带线，并基于双面平行带线构建强微波电场加载下的测量系统，通过测试频率与强微波电场频率分离的方式对待测样品进行测试，获取待测样品的反射系数和传输系数，从而计算得出微波强场加载环境下待测材料的电磁参数。本发明测量系统实现了测试频率与强微波电场频率的解耦，即测试频率不再决定于微波电场频率的设置，从而满足了不同频率下的测试需求。
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公开(公告)号：CN115469153B
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202211046593.6
申请日：2022-08-30
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明的目的在于提供一种电取向下液晶材料的毫米波介电性能测试装置及方法，属于微波测试技术领域。本发明在液晶材料介电常数测试中，设计了多层介质构成的液晶盒，并创新性地使用多层介质构成上下对称型TM0n0模式双面圆形贴片谐振器，并且其内部的电场分布是穿过待测多层介质并且垂直于金属圆片，故利用其内部场分布特性，该结构能够使用谐振频率更高的模式，极大拓宽测试频率范围，测试频率可达110GHz。因此，本发明介电性能测试装置能够实现在毫米波频段下对液晶材料的宽频段介电性能测试，且测试装置简便易实现。
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公开(公告)号：CN115128361B
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202210756997.8
申请日：2022-06-30
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R29/027 , G01R29/08 , G01R21/133
Abstract: 本发明提供一种超大动态范围脉冲场强测试系统及方法，包括脉冲信号接受前端、第一级弱信号检测链路、第二级中等强度信号检测链路、第三级高强度信号检测链路以及信号场强大小计算模块；脉冲信号接受前端为超宽频喇叭天线，用于接受未知待测脉冲信号；第一级弱信号检测链路用于对信号强度弱的脉冲信号进行场强测试；第二级中等强度信号检测链路用于对信号强度较大的脉冲信号进行场强测试；第三级高强度信号检测链路用于对强脉冲信号进行场强测试；信号场强大小计算模块用于对脉冲信号场强大小进行高精度测量与标定；本系统可以实现对超大动态范围内未知功率水平的脉冲信号进行分级测量，具有测试动态范围大、稳定性高、测试精度高的特点。
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公开(公告)号：CN118584602A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410632520.8
申请日：2024-05-21
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明的目的在于提供一种太赫兹频段的多通道耦合准光腔，属于准光腔技术领域。该准光腔在球面镜上设置多个凹槽，两两一组，其内放置金属耦合片，金属耦合片上设置耦合孔，通过波导与金属耦合片配合进行孔耦合，实现了太赫兹频段下一腔多频段的测试；同时平面镜上设置贯穿缝隙进行干扰模式抑制，并配合中空结构进行抽气，从而提升在太赫兹频段下介质材料的复介电常数测试的稳定性。
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公开(公告)号：CN118068244A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202410124879.4
申请日：2024-01-29
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R33/12
Abstract: 本发明的目的在于提供一种电磁结构材料的等效电磁参数测试装置及反演方法，属于材料电磁性能测试技术领域。该装置创新性地设置圆周型滑轨，使装置能够在不同入射角域下实现对电磁结构材料反射系数和传输系数的获取，并基于反射系数和传输系数推导出斜入射下的等效电磁参数反演公式；同时，反演过程基于装置进行了适应性改进，尤其是对校准过程进行完善，从而实现了在不同入射角域下对等效电磁参数的反演，为电磁结构材料的研发和应用提供了更多维度的电磁性能基础数据的可能性。
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