基于脉振磁动势抵消的三相两级集成九绕组电机充电系统

    公开(公告)号:CN114268235B

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202111628383.3

    申请日:2021-12-28

    Abstract: 基于脉振磁动势抵消的三相两级集成九绕组电机充电系统,涉及三相两级集成九绕组电机充电技术领域。本发明是为了解决现有400V电池充电背景下的两级集成充电系统需要配备额外的电力电子器件和直流储能电感的的问题。本发明当电动车工作于充电模式时,利用切换开关,改变九绕组的连接方式,将驱动拓扑变换为两级充电拓扑。两级充电拓扑中,将部分绕组复用为充电模式下的网侧等效滤波电感,此时前级的AC/DC变换器利用驱动逆变器九个桥臂中的六个桥臂进行组建,并将剩余的绕组和逆变桥组成后级双向DC/DC变换器,包括DC/DC变换器所需的功率模块以及直流储能电感。整个系统无需额外构成后级变换器的任何元器件。

    基于旋转磁场抵消法提升网侧电感的三相集成充电系统

    公开(公告)号:CN114301325B

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202111628343.9

    申请日:2021-12-28

    Abstract: 基于旋转磁场抵消法提升网侧电感的三相集成充电系统,涉及三相集成充电系统网侧滤波电感提升领域。本发明为了解决九绕组电机及其配套的驱动逆变器复用为充电系统在充电模式下,如何提升充电模式下网侧等效滤波电感数值的问题。本发明充电系统包括电池、DC/DC变换器、九桥臂半桥逆变器、电容Cdc、九绕组电机、多个三相开关和双相开关,该系统在充电模式下,利用切换开关,改变九绕组的连接方式,从而将网侧等效滤波电感进行提升。本发明主要用于对三相集成充电系统网侧滤波电感进行提升。

    基于射频电源施加偏压以增强CVD金刚石异质外延形核的方法

    公开(公告)号:CN111826714A

    公开(公告)日:2020-10-27

    申请号:CN202010733639.6

    申请日:2020-07-27

    Abstract: 基于射频电源施加偏压以增强CVD金刚石异质外延形核的方法,本发明属于化学气相沉积法异质外延单晶金刚石生长领域,它为了解决绝缘异质衬底难以有效施加负偏压的问题。外延形核的方法:一、将底部开有凹槽腔的样品托放置于CVD腔体内的水冷台上,射频电源的一电极通过导线连接到CVD腔体外壳上并接地,射频电源的另一电极通过导线经水冷台连接到样品托上;二、将异质衬底放置在样品托中心位置,CVD腔体抽真空;三、升温过程,通入氢气;四、控制甲烷气体浓度,进行偏压增强形核;五、生长过程及结束。本发明通过射频电源,避免了直流偏压施加过程中绝缘异质衬底电势升高导致无法正常施加偏压,实现了绝缘异质衬底上高密度外延形核。

    一种制备金刚石微米棒阵列膜的方法

    公开(公告)号:CN104947069B

    公开(公告)日:2018-07-03

    申请号:CN201510394176.4

    申请日:2015-07-07

    Abstract: 一种制备金刚石微米棒阵列膜的方法,它涉及一种制备金刚石微米棒阵列膜的方法。本发明的目的是要解决目前金刚石微米棒阵列膜制备工艺复杂,制备成本较高,不能精确控制孔洞长径比的问题,本发明步骤为:硅片模板的制备、涂覆金刚石悬浮液、放置样品、金刚石微米棒阵列膜的生长、硅片模板的剥离,即完成。本发明利用多孔硅片模板代替AAO模板制备金刚石微米棒阵列膜,降低了薄膜的制备成本,简化了制备的工艺过程,通过调整硅片上孔洞的直径以及深度可以制备具有不同长径比的微米棒阵列,从而研究不同微米棒长径比对材料性能的影响。本发明应用于薄膜生长技术领域。

    基于应力和结合强度演变机制的涂层寿命预测方法

    公开(公告)号:CN105223125A

    公开(公告)日:2016-01-06

    申请号:CN201510657869.8

    申请日:2015-10-13

    Abstract: 基于应力和结合强度演变机制的涂层寿命预测方法,涉及一种涂层寿命的预测方法。本发明为了解决目前还没有一种全面客观的涂层寿命预测方法的问题。本发明首先建立残余应力—时间变化关系和氧化层应力—时间变化关系;并建立涂层应力演变物理模型;然后进行热循环加速试样老化实验,根据涂层应力演变物理模型与试样应力值—时间关系得到人工加速老化的试样的加速倍数;再采用划痕仪对人工加速老化的试样进行结合强度测试,拟合出结合强度—老化时间的关系并绘制成变化曲线将变化曲线与时间轴的交点所对应的时间作为人工加速老化的试样寿命l;以L=试样寿命l*最终加速倍数k作为的预测寿命。本发明适用于涂层寿命的预测领域。

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