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公开(公告)号：CN109142404A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811291946.2
申请日：2018-11-01
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC: G01N23/203
CPC classification number: G01N23/203
Abstract: 本发明公开了一种背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法。背散射成像系统包括：背散射线源，背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态；背散探测器，背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号，在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号；控制装置，与背散探测器信号连接，被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号，并根据修正背散射信号形成图形信息；和成像装置，与控制装置信号连接，根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本发明获得的背散射图像更加清晰。
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公开(公告)号：CN108181326A
公开(公告)日：2018-06-19
申请号：CN201611159090.4
申请日：2016-12-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法，包括：获得所述待测物品在N个能区中的透明度值组成的透明度相关向量，其中N大于2；计算所述透明度相关向量与所述系统中存储的多种物品在多种厚度的情况下在所述N个能区中的N个透明度均值组成的透明度相关向量之间的距离；以及将所述待测物品识别为与最小距离相对应的物品。本发明基于多能谱X射线成像系统，通过对多能谱物质识别问题的分析，提出了一种物质识别的方法。相对传统双能X射线系统，多能谱成像理论上可以显著提高系统的物质识别能力，特别是在安检应用领域，物质识别能力的提升对于毒品爆炸物等违禁品的查验具有重要意义。
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公开(公告)号：CN108169256A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201611121287.9
申请日：2016-12-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: A61B6/482 , A61B6/02 , A61B6/06 , A61B6/4014 , A61B6/4241 , G01V5/0041
Abstract: 本发明提供了一种用于利用多能谱X射线成像系统识别物品的方法和一种用于识别物品的多能谱X射线成像系统，所述方法包括：识别所述物品的应用场景和/或先验信息；根据所识别的应用场景和/或先验信息从所述多能谱X射线成像系统中存储的多个参数模式中选择适合于所述物品的参数模式；以及利用所选择的参数模式来识别所述物品；其中，所述多个参数模式是通过针对各种物品使用训练样本库在特定条件下对所述多能谱X射线成像系统的系统参数进行优化而获得的。本发明提出的多能谱X射线成像系统使得多能谱成像系统能够适应各种不同的应用场景并且实现系统性能与开销之间的平衡。
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公开(公告)号：CN105806857A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201410849920.0
申请日：2014-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种双能射线物质识别及其检查系统分类参数处理方法和装置。该方法包括：获得标定材料在预定射线角度下与透明度对应的角分布差异系数；基于标定材料的预定射线角度的角分布差异系数对标定材料在主束方向的分类参数进行调整，从而获得标定材料在预定射线角度的分类参数。本发明公开的方法和装置，通过角分布差异系数对不同射线角度的分类参数进行有效调整，从而提高各个射线角度的双能材料分辨效果，充分发挥双能射线检查设备的性能，进一步提高产品的竞争力和用户体验。
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公开(公告)号：CN119757430A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411958862.5
申请日：2024-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/203
Abstract: 本发明公开了一种飞点扫描装置、成像装置、调节方法、系统以及可读存储介质，涉及安全检测领域，用以提高飞点扫描装置的成像质量。飞点扫描装置包括底座、驱动机构、传动机构、飞轮、检测机构以及控制组件。底座被构造为提供支撑；驱动机构安装于底座，且由底座支撑；传动机构安装于底座且由底座支撑；传动机构与驱动机构驱动连接，以在驱动机构的驱动下转动；飞轮与传动机构驱动连接；检测机构包括振动检测组件；振动检测组件安装于传动机构；控制组件与检测机构电连接，控制组件被构造为根据振动检测组件检测到的振幅计算飞轮在运动过程中的振动是否满足要求。上述技术方案在飞轮振动满足要求时才能扫描成像，所以可以保证成像质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119667801A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411918627.5
申请日：2024-12-24
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 一种辐射扫描装置及检查设备，辐射扫描装置（RS）包括：底盘（10）；辐射源组件（20），设置于所述底盘（10）；臂架组件（30），与所述底盘（10）或所述辐射源组件（20）连接，用于形成探测区域；和探测器组件（40），设置于所述臂架组件（30），并与所述辐射源组件（20）配合，以便对被探测对象（DO）进行扫描成像；其中，所述底盘（10）的高度是可调的。
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公开(公告)号：CN119596405A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411895934.6
申请日：2024-12-20
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22 , G01N23/20008 , G01N23/04 , G01N23/20
Abstract: 本申请提供一种辐射检查系统，其包括扫描装置，扫描装置包括辐射装置和探测装置，辐射装置和探测装置相互配合，对被检对象进行扫描，辐射装置位于被检对象的一侧，并包括至少两个辐射源，辐射装置的至少两个辐射源沿第一方向排布，并均包括沿第二方向间隔布置的至少两个子光源，第一方向和第二方向相互垂直，并与辐射装置与被检对象的相对布置方向相交，在辐射装置的至少两个辐射源中，在第一方向上任意相邻的两个辐射源在第二方向上部分重叠。这样，可提高辐射检查系统的检查结果的准确性。
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公开(公告)号：CN119575497A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411975584.4
申请日：2024-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22 , G01N23/203 , G01N23/20008 , G01N23/04
Abstract: 本申请提供一种辐射检查系统，其包括多个扫描装置，这多个扫描装置环绕检查通道设置，以从不同角度对位于检查通道中的被检对象进行扫描，各扫描装置均包括射线源、飞轮和背散探测器，飞轮可转动地设置，并具有准直口，以与射线源和背散探测器配合，对被检对象进行飞点背散扫描，各扫描装置的射线源均为脉冲射线源，且各扫描装置的射线源不同时出束。这样，可方便多个扫描装置不同时对被检对象进行飞点背散扫描。
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公开(公告)号：CN119575493A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411730241.1
申请日：2024-11-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本申请提供一种辐射检查系统，其包括：辐射装置，包括射线源，以发射射线；探测器，沿着第一方向布置于辐射装置的下游，用于接收辐射装置所发射的射线；和准直装置，用于对辐射装置发射的射线进行准直，准直装置包括至少两个准直器，至少两个准直器沿着第一方向间隔布置，并均具有供射线穿过的准直缝，且至少两个准直器之间的相对位置可调。这样，可提高检查准确性。
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公开(公告)号：CN117784266A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311841468.9
申请日：2023-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本公开提供了一种辐射检测系统，涉及辐射检测领域、安全检查领域或其他领域。该辐射检测系统包括第一射线扫描设备和第二射线扫描设备。第一射线扫描设备包括第一靶点，所述第一靶点发出射线用以扫描对象的第一区域；第二射线扫描设备包括第二靶点，所述第二靶点相比所述第一靶点更接近地面，所述第二靶点发出的射线用以扫描所述对象的第二区域；其中，所述第二区域中至少部分区域位于所述第一区域之外，且所述至少部分区域在竖直方向上位于所述第一区域的下方。本公开还提供了一种辐射检测装置。
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