-
公开(公告)号：CN108267430B
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201611259463.5
申请日：2016-12-30
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明公开了一种大范围电子束激发荧光成像和光谱测量装置及其方法。本发明的大范围电子束激发荧光成像和光谱测量装置包括：扫描电子显微镜系统、扫描信号发生器、大范围荧光收集耦合传输系统、荧光强度探测器、荧光光谱探测器、扫描同步信号采集器、协同控制与数据处理输出系统；本发明通过引入大范围荧光耦合器，使得在扫描电子显微镜系统在成像视野范围内所激发的荧光信号均能够以相同的高收集效率会聚耦合至荧光传输光路，解决了大范围荧光扫描成像所得到的图像难以使用统一的标准来测算和比较不同位置处的荧光激发强度或荧光激发产率以及荧光光谱信息的问题，能够完成基于电子束激发荧光信号的大范围快速检测分析。
-
公开(公告)号：CN108279247A
公开(公告)日：2018-07-13
申请号：CN201611261465.8
申请日：2016-12-30
Applicant: 北京大学
IPC: G01N23/2251 , G01J1/42 , G01J1/04
CPC classification number: G01N23/2251 , G01J1/0422 , G01J1/0455 , G01J1/0459 , G01J1/42 , G01J2001/4242 , G01N2223/07 , G01N2223/102 , G01N2223/507
Abstract: 本发明公开了一种电子束激发荧光大范围直接探测成像装置及其方法。本发明的成像装置包括：扫描电子显微镜系统、扫描信号发生器、荧光收集耦合系统、半导体光探测器、扫描同步信号采集器、协同控制与数据处理输出系统；本发明采用模块化的构架，各模块的配置调整及后续升级非常灵活便利；通过引入半导体光探测器的大面积半导体光电探测芯片，使得在扫描电子显微镜系统在大成像视野范围内所激发的荧光均能够以相同的高收集效率会聚耦合至半导体光探测器，解决了大范围荧光扫描成像所得到的图像难以使用统一的标准来测算和比较不同位置处的荧光激发强度或荧光激发产率的问题，能够完成基于电子束激发荧光信号的大范围快速检测分析。
-
公开(公告)号：CN108267430A
公开(公告)日：2018-07-10
申请号：CN201611259463.5
申请日：2016-12-30
Applicant: 北京大学
CPC classification number: G01N21/6402 , G01N21/01 , G01N2021/0131 , G01N2021/0162 , G01N2021/6423
Abstract: 本发明公开了一种大范围电子束激发荧光成像和光谱测量装置及其方法。本发明的大范围电子束激发荧光成像和光谱测量装置包括：扫描电子显微镜系统、扫描信号发生器、大范围荧光收集耦合传输系统、荧光强度探测器、荧光光谱探测器、扫描同步信号采集器、协同控制与数据处理输出系统；本发明通过引入大范围荧光耦合器，使得在扫描电子显微镜系统在成像视野范围内所激发的荧光信号均能够以相同的高收集效率会聚耦合至荧光传输光路，解决了大范围荧光扫描成像所得到的图像难以使用统一的标准来测算和比较不同位置处的荧光激发强度或荧光激发产率以及荧光光谱信息的问题，能够完成基于电子束激发荧光信号的大范围快速检测分析。
-
公开(公告)号：CN106430084A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201611019900.6
申请日：2016-11-18
Applicant: 北京大学
CPC classification number: B81C1/00015 , B81C1/00023 , B82Y40/00
Abstract: 本发明公开了一种单个微纳米结构转移装置及其转移方法。本发明巧妙地设计了具有周期性凸起平台和坐标标记的微纳结构中转基片，通过显微镜实时观察以及原位操纵微纳操纵器，实现单个微纳米结构的精确定点转移；一方面，在微纳结构中转基片上能够完成对微纳米结构的初步表征分析；另一方面，在显微镜的原位观察下，通过坐标标记原位查找待转移的单个微纳米结构，并能够通过微纳操纵器的转移探针将其从微纳结构中转基片上提取出来，再精确转移至目标衬底基片上的指定位置，转移定位精度能够优于1微米；此外，本发明的转移方法采用了静电吸附的原理，在保证转移探针的尖头探针清洁的情况下，不会在微纳米结构转移过程中引入不明杂质。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100456049C
公开(公告)日：2009-01-28
申请号：CN200710063105.1
申请日：2007-01-26
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明公开了一种制备光子晶体或光子准晶的方法，包括如下步骤：1)根据需要，设计出具有周期性二维光子晶体或准周期性光子准晶的图形结构；2)将待加工样品固定在聚焦离子束系统的样品台上，使其与样品台形成良好的电学接触和机械稳定性；3)在样品的待加工区域生成光子晶体或光子准晶图形结构；4)设置聚焦离子束系统的工作参数；调控聚焦离子束，得到所需刻蚀精度要求的离子束探针；在样品的待加工区域直接刻蚀出所需的二维光子晶体或光子准晶。本发明以聚焦离子束刻蚀技术的一次性工艺步骤代替了传统的亚微米加工技术的一系列工艺步骤，既简化了工艺步骤，又可灵活快捷地得到复杂多变的各种光子晶体和光子准晶。
-
公开(公告)号：CN1829014A
公开(公告)日：2006-09-06
申请号：CN200510011368.9
申请日：2005-02-28
Applicant: 北京大学
Abstract: 本项发明提出一种基于光子晶体的新型的适于研制GaN腔镜面的结构和方法。本发明采用深度刻蚀半导体微结构形成半导体与空气交替变化的一维周期性光子晶体结构，采用先进的直写式聚焦离子束(FIB)亚微米微加工技术和简化的工艺步骤，制作出半导体激光器的谐振腔镜面。本发明制备半导体激光二极管的腔镜面至少有一个由聚焦离子束刻蚀一维光子晶体加工而成。所述的一维光子晶体为：半导体与空气交替变化的一维周期性光子晶体。另外一个腔镜面采用自然解理腔镜面或干法刻蚀制备的腔镜面，或者是由聚焦离子束刻蚀加工成抛光的腔镜面。
-
公开(公告)号：CN212574998U
公开(公告)日：2021-02-23
申请号：CN202021279956.7
申请日：2020-07-02
Applicant: 北京大学口腔医学院
IPC: A61C13/007 , A61C13/113 , A61C13/225 , A61C19/05
Abstract: 本实用新型涉及医疗技术领域，提出了一种全口义齿咬合辅助检查调整器，包括定位板、固定支架以及调节件，定位板用于设置在上颌全口义齿上；固定支架用于设置在下颌全口义齿上，且与下颌全口义齿的相对基托舌侧中央相连接；调节件设置在固定支架上，且位于固定支架的中心位置处，上颌全口义齿与下颌全口义齿咬合时，调节件与定位板相接触；其中，调节件的至少部分相对于固定支架沿靠近或远离定位板的方向可移动地设置。通过逐渐调整调节件的位置，可以逐渐准确确定咬合高点或者干扰点，避免因为上颌全口义齿和下颌全口义齿的基底不稳导致的误判，最终实现上颌全口义齿和下颌全口义齿稳定正确的咬合。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
-
公开(公告)号：CN207155843U
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201721016449.2
申请日：2017-08-15
Applicant: 北京大学
IPC: B25J21/02
Abstract: 本实用新型公开了一种桌上型显微分析制样用手套箱。本实用新型的手套箱装置包括：主箱体、送样门、防腐蚀垫、照明装置、放大观察装置和排气装置；本实用新型在功能上一方面能够保证显微分析制样操作人员的安全，避免毒性粉末颗粒、易飞溅尖锐碎屑以及有毒性及腐蚀性的化学药品等的伤害；另一方面，能够保证样品在制备过程中不受外界污染；在设计上符合显微分析制样实验要求，灵活轻便，配置全面，巧妙设计了便捷的送样门，结合了照明和放大观察装置，并设计了实用高效的排气装置。本实用新型整体使用便捷，能够进行高效率样品制备，以及具有结构紧凑，占空间小，成本低等特点。
-
公开(公告)号：CN206278904U
公开(公告)日：2017-06-27
申请号：CN201621241534.4
申请日：2016-11-18
Applicant: 北京大学
Abstract: 本实用新型公开了一种单个微纳米结构转移装置。本实用新型的转移装置包括：显微镜、微纳操纵器固定架、微纳操纵器、转移探针和微纳结构中转基片；微纳结构中转基片具有周期性凸起平台和坐标标记，通过显微镜实时观察以及原位操纵微纳操纵器，实现单个微纳米结构的精确定点转移；在微纳结构中转基片上能够完成对微纳米结构的初步表征分析；并且在显微镜的原位观察下，通过坐标标记原位查找待转移的单个微纳米结构，并通过微纳操纵器的转移探针将其从微纳结构中转基片上提取出来，再精确转移至目标衬底基片上的指定位置，转移定位精度能够优于1微米；采用静电吸附的原理，在保证转移探针的尖头探针清洁的情况下，不会在转移过程中引入不明杂质。
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
49
records
(took 0.026 seconds)
