公开(公告)号：CN104122277B

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201410362963.6

申请日：2014-07-28

Applicant: 重庆大学 ,  重庆真测科技股份有限公司

Inventor： 卢艳平 ,  王珏 ,  王福全 ,  刘丰林 ,  邹永宁 ,  谭辉 ,  蔡玉芳 ,  沈宽 ,  安康 ,  段晓礁 ,  周日峰 ,  段黎明

IPC: G01N23/04

Abstract: 本发明公开了一种线缆的计算机层析成像(CT)检测装置，属于射线无损检测技术领域。该装置包括CT环形扫描装置、机架、自动测量装置、自动放线机构、自动卷线机构、自动标记装置、自动控制装置和图像重建处理装置等。CT环形扫描装置安装在机架上，而射线源和探测器安装在CT环形扫描装置的精密圆环上，在电机驱动下实现同步旋转，从而对线缆进行CT扫描。其优点在于：线缆无须旋转，而射线源?探测器环绕线缆同步旋转，实现CT扫描成像。检测装置还具有长度信息测量、缺陷自动标记、同步自动放线和卷线等功能。本发明同现有技术相比，可实现线缆的非旋转运动CT扫描成像。

公开(公告)号：CN103206931B

公开(公告)日：2015-10-21

申请号：CN201310073027.9

申请日：2013-03-07

Applicant: 重庆大学

Inventor： 高富强 ,  陈赟飞 ,  周钦 ,  安康 ,  冯永 ,  严强 ,  李岭 ,  兰扬

IPC: G01B15/02

Abstract: 本发明公开了一种X射线测厚方法及装置，属于射线测量领域；该X射线测厚方法包括步骤（1）：设置X射线发射器，调节其发射参数；步骤（2）：开启X射线发射器，测量未放置物体时空气中的射线能量数据I0；步骤（3）：开启X射线发射器，使X射线穿过厚度d已知的标准待测材料，测量穿过标准待测材料后的射线能量数据I；步骤（4）：采用以下方法求取校正参数：根据公式：求得对应的线衰减系数μ，再根据公式：μ(d)＝A(e-αd+β)进行最小二乘曲线拟合标定得到校正参数A,α,β；再根据公式：进行待测材料的厚度测量；该方法客服了因X射线“射束硬化”现象带来的测量不准的问题，使得X射线测厚方法具有校正功能；该方法和装置简单易行，且准确度高，可靠性强。

公开(公告)号：CN103134823B

公开(公告)日：2015-03-11

申请号：CN201310092214.1

申请日：2013-03-21

Applicant: 重庆大学

Inventor： 高富强 ,  周钦 ,  蔡玉芳 ,  陈赟飞 ,  冯永 ,  李岭 ,  兰扬 ,  严强 ,  安康

IPC: G01N23/04

Abstract: 本发明公开了一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法，属于工业CT系统应用领域；该方法包括以下步骤：一：将铅箔过滤片紧贴后准直器放置进行散射校正；二：设置CT系统扫描参数；三：不开射线源，采集系统的本底值；四：打开射线源，对当前实验室下的空气进行扫描，获取当前空气射线强度；五：扫描一组标准件，采集不同厚度下的投影数据；六：拟合曲线，得到硬化模型和卷积校正模型；七：利用卷积校正模型函数进行硬化校正，得到校正后的射线强度数据；八：用校正后的射线强度数据进行图像重建。本校正方法对射束硬化校正效果显著，能很好地保留被测物体的边缘，且能保存检测物体的细节部分，满足高精度探测的需要。

公开(公告)号：CN103134823A

公开(公告)日：2013-06-05

申请号：CN201310092214.1

申请日：2013-03-21

Applicant: 重庆大学

Inventor： 高富强 ,  周钦 ,  蔡玉芳 ,  陈赟飞 ,  冯永 ,  李岭 ,  兰扬 ,  严强 ,  安康

IPC: G01N23/04

Abstract: 本发明公开了一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法，属于工业CT系统应用领域；该方法包括以下步骤：一：将铅箔过滤片紧贴后准直器放置进行散射校正；二：设置CT系统扫描参数；三：不开射线源，采集系统的本底值；四：打开射线源，对当前实验室下的空气进行扫描，获取当前空气射线强度；五：扫描一组标准件，采集不同厚度下的投影数据；六：拟合曲线，得到硬化模型和卷积校正模型；七：利用卷积校正模型函数进行硬化校正，得到校正后的射线强度数据；八：用校正后的射线强度数据进行图像重建。本校正方法对射束硬化校正效果显著，能很好地保留被测物体的边缘，且能保存检测物体的细节部分，满足高精度探测的需要。

公开(公告)号：CN217305554U

公开(公告)日：2022-08-26

申请号：CN202221142397.4

申请日：2022-05-11

Applicant: 重庆真测科技股份有限公司 ,  中国电子科技集团公司第二十六研究所 ,  重庆大学

Inventor： 安康 ,  陈研 ,  王强 ,  丁雨憧 ,  毛世平

IPC: G01T1/20 ,  G01T1/208 ,  G01T7/00 ,  G01N23/046

Abstract: 本实用新型公开了一种线阵列X射线探测器，包括有闪烁体单元、反射层、串扰隔离片、光电二极管阵列、PCB板；所述若干闪烁体单元光输出面均与光电二极管阵列耦合，且沿直线排布，除与光电二极管阵列直接耦合的光输出面外，闪烁体单元其余面均涂有反射层进而形成一个探测像元，若干探测像元之间均设置有串扰隔离片，所述光电二极管阵列集成在PCB板上。上述各功能器件集成为一个部件，利用这种线阵列X射线探测器可获得更高的X射线探测效率。

公开(公告)号：CN217181253U

公开(公告)日：2022-08-12

申请号：CN202221107754.3

申请日：2022-05-10

Applicant: 中国电子科技集团公司第二十六研究所 ,  重庆大学

Inventor： 王强 ,  丁雨憧 ,  安康 ,  陈研 ,  屈菁菁 ,  张泽涛 ,  徐扬 ,  毛世平

IPC: G01T1/202 ,  G01T7/00

Abstract: 本实用新型公开了一种X射线闪烁组件耦合装置，包括操作平台，在操作平台上设有XY轴运动模组，在XY轴运动模组上设有真空吸附平台，用于吸附待耦合光电转换器件阵列；在操作平台边缘竖向安装有立柱，立柱上滑动设有Z轴运动模组，Z轴运动模组正下方设有吸嘴，用于吸附待耦合闪烁体线阵；吸嘴与真空吸附平台分别与抽真空设备连接；在位于吸嘴与真空吸附平台之间的立柱上活动设有影像识别机构，用于实时获取待耦合光电转换器件阵列和闪烁体线阵的影像信息，通过操作XY轴向运动模组，使待耦合光电转换器件阵列的光电转换器件与待耦合闪烁体线阵的闪烁体一一正对。本实用新型解决了现有X射线闪烁组件耦合精度不高，效率低的问题。

公开(公告)号：CN217278960U

公开(公告)日：2022-08-23

申请号：CN202221089746.0

申请日：2022-05-07

Applicant: 重庆大学 ,  中国电子科技集团公司第二十六研究所

Inventor： 安康 ,  陈研 ,  毛世平 ,  丁雨憧

IPC: G01T1/202

Abstract: 本实用新型涉及一种高分辨X射线平板探测器，包括荧光反射层、闪烁屏、阵列准直器、光锥、CCD/CMOS图像传感器、数据采集与传输系统，通过屏蔽外壳实现探测器的封装。该探测器使用新型GAGG:Ce单晶闪烁体制成闪烁屏，在闪烁屏与光锥之间增加阵列准直器以限制闪烁屏可输出的荧光角度范围，达到降低荧光串扰、提升探测器空间分辨率的目的，与普通光锥耦合X射线平板探测器相比，该探测器性能稳定，在使用同等厚度闪烁屏的情况下，可实现更高的探测空间分辨率。