公开(公告)号：CN103206931A

公开(公告)日：2013-07-17

申请号：CN201310073027.9

申请日：2013-03-07

Applicant: 重庆大学

Inventor： 高富强 ,  陈赟飞 ,  周钦 ,  安康 ,  冯永 ,  严强 ,  李岭 ,  兰扬

IPC: G01B15/02

Abstract: 本发明公开了一种X射线测厚方法及装置，属于射线测量领域；该X射线测厚方法包括步骤（1）：设置X射线发射器，调节其发射参数；步骤（2）：开启X射线发射器，测量未放置物体时空气中的射线能量数据I0；步骤（3）：开启X射线发射器，使X射线穿过厚度d已知的标准待测材料，测量穿过标准待测材料后的射线能量数据I；步骤（4）：采用以下方法求取校正参数：根据公式：求得对应的线衰减系数μ，再根据公式：μ(d)＝A(e-αd+β)进行最小二乘曲线拟合标定得到校正参数A,α,β；再根据公式：进行待测材料的厚度测量；该方法客服了因X射线“射束硬化”现象带来的测量不准的问题，使得X射线测厚方法具有校正功能；该方法和装置简单易行，且准确度高，可靠性强。

公开(公告)号：CN103163166A

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN201310094716.8

申请日：2013-03-22

Applicant: 重庆大学

Inventor： 高富强 ,  李岭 ,  安康 ,  赵晋峰 ,  严强 ,  兰扬 ,  冯永 ,  陈赟飞 ,  周钦 ,  陈研

IPC: G01N23/04 ,  G01B15/00

Abstract: 本发明公开了一种用于工业CT探测器的采集电路装置和方法，属于工业CT探测器应用领域；该装置包括一个FPGA、一个信号选择单元、一个放大反相电路、一个单端转差分电路、一个A/D转换单元和两个电平转换单元；FPGA通过电平转换单元与探测器相连，探测器输出的并行信号被传送至信号选择单元，FPGA向信号选择单元发送控制信号，信号选择单元根据接收到的控制信号选择一路信号进行输出，该路信号经放大反相电路和单端转差分电路处理后被传送至A/D转换单元，A/D转换单元对信号进行转换后传送至FPGA进行缓存；本装置能够实现工业CT探测器采集数据的分时复用，两路数据交叉输出，提高了采集电路的利用效率；同时，降低了电路的复杂度，节约了成本。

公开(公告)号：CN103162725A

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN201310064181.X

申请日：2013-02-28

Applicant: 重庆大学

Inventor： 高富强 ,  严强 ,  安康 ,  李岭 ,  兰扬 ,  陈赟飞 ,  冯永

IPC: G01D7/00

Abstract: 本发明公开了一种光电编码器旋转脉冲显示装置，属于光电编码器测量应用领域；该显示装置包括一个光电耦合器、一个现场可编程门阵列FPGA、一个晶体振荡器、一个配置芯片和一个显示装置；光电耦合器接收光电编码器输出的AB两相脉冲信号并对其放大后输出至FPGA，FPGA根据接收到的脉冲信号进行计算得到光电编码器的旋转方向、旋转角度及脉冲个数，并将计算结果传送至显示装置；配置芯片用于存储FPGA的算法程序，晶体振荡器用于提供时钟信号；本显示装置不需要大量外围电路驱动，能够节约硬件成本，并且可移植性和可拓展性较高，同时，该显示装置不仅能够显示脉冲计数，而且能够显示旋转角度，以避免人工进行的误操作。

公开(公告)号：CN103206931B

公开(公告)日：2015-10-21

申请号：CN201310073027.9

申请日：2013-03-07

Applicant: 重庆大学

Inventor： 高富强 ,  陈赟飞 ,  周钦 ,  安康 ,  冯永 ,  严强 ,  李岭 ,  兰扬

IPC: G01B15/02

Abstract: 本发明公开了一种X射线测厚方法及装置，属于射线测量领域；该X射线测厚方法包括步骤（1）：设置X射线发射器，调节其发射参数；步骤（2）：开启X射线发射器，测量未放置物体时空气中的射线能量数据I0；步骤（3）：开启X射线发射器，使X射线穿过厚度d已知的标准待测材料，测量穿过标准待测材料后的射线能量数据I；步骤（4）：采用以下方法求取校正参数：根据公式：求得对应的线衰减系数μ，再根据公式：μ(d)＝A(e-αd+β)进行最小二乘曲线拟合标定得到校正参数A,α,β；再根据公式：进行待测材料的厚度测量；该方法客服了因X射线“射束硬化”现象带来的测量不准的问题，使得X射线测厚方法具有校正功能；该方法和装置简单易行，且准确度高，可靠性强。

公开(公告)号：CN103134823B

公开(公告)日：2015-03-11

申请号：CN201310092214.1

申请日：2013-03-21

Applicant: 重庆大学

Inventor： 高富强 ,  周钦 ,  蔡玉芳 ,  陈赟飞 ,  冯永 ,  李岭 ,  兰扬 ,  严强 ,  安康

IPC: G01N23/04

Abstract: 本发明公开了一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法，属于工业CT系统应用领域；该方法包括以下步骤：一：将铅箔过滤片紧贴后准直器放置进行散射校正；二：设置CT系统扫描参数；三：不开射线源，采集系统的本底值；四：打开射线源，对当前实验室下的空气进行扫描，获取当前空气射线强度；五：扫描一组标准件，采集不同厚度下的投影数据；六：拟合曲线，得到硬化模型和卷积校正模型；七：利用卷积校正模型函数进行硬化校正，得到校正后的射线强度数据；八：用校正后的射线强度数据进行图像重建。本校正方法对射束硬化校正效果显著，能很好地保留被测物体的边缘，且能保存检测物体的细节部分，满足高精度探测的需要。

公开(公告)号：CN103167693A

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN201310081651.3

申请日：2013-03-14

Applicant: 重庆大学

Inventor： 高富强 ,  李岭 ,  冯永 ,  赵晋峰 ,  陈研 ,  兰扬 ,  严强 ,  陈赟飞 ,  周钦

IPC: H05B37/02

Abstract: 本发明公开了一种用于CT探测采集系统的测试光源装置，属于CT探测采集系统测试领域；该装置包括一组产生光照的光源、一组用于检测光强值的光强传感器、一组用于调节光源供电电压的数字电阻以及一个核心处理器；每个光源对应有一个光强传感器和一个数字电阻，每个光强传感器对相应光源的光照强度进行检测并将检测到的光强值传送至核心处理器，核心处理器将接收到的各光源的光强值与预设的额定值进行比较，并根据比较的差值调整相应的数字电阻，从而调节相应光源的供电电压和光照强度；本测试光源装置，具有光源可靠性高，稳定性好，功耗低等优点，且实现方案灵活方便，结构简单，可维护性和可扩展性较强。

公开(公告)号：CN103134823A

公开(公告)日：2013-06-05

申请号：CN201310092214.1

申请日：2013-03-21

Applicant: 重庆大学

Inventor： 高富强 ,  周钦 ,  蔡玉芳 ,  陈赟飞 ,  冯永 ,  李岭 ,  兰扬 ,  严强 ,  安康

IPC: G01N23/04

Abstract: 本发明公开了一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法，属于工业CT系统应用领域；该方法包括以下步骤：一：将铅箔过滤片紧贴后准直器放置进行散射校正；二：设置CT系统扫描参数；三：不开射线源，采集系统的本底值；四：打开射线源，对当前实验室下的空气进行扫描，获取当前空气射线强度；五：扫描一组标准件，采集不同厚度下的投影数据；六：拟合曲线，得到硬化模型和卷积校正模型；七：利用卷积校正模型函数进行硬化校正，得到校正后的射线强度数据；八：用校正后的射线强度数据进行图像重建。本校正方法对射束硬化校正效果显著，能很好地保留被测物体的边缘，且能保存检测物体的细节部分，满足高精度探测的需要。