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公开(公告)号：CN101557762A
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：CN200780046161.2
申请日：2007-12-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明涉及一种X射线成像装置(100)，尤其是一种能谱CT扫描器，其包括用于生成具有在观测周期(T)内连续变化的能谱(P(E，t))的X辐射的X射线源(10)。在优选实施例中，辐射(X)根据能量相关的衰减系数μ(E，r)在对象(1)内衰减，通过探测器(20，30)的传感器单元(22)测量透射的辐射，并对所得到的测量信号(i(t))进行采样和A/D转换。优选通过过采样A/D转换器，例如，∑Δ－ADC完成这一操作。以高频对驱动所述X射线源的管电压(U(t))采样。在评价系统(50)中，能够使这些采样的测量值与对应的有效能谱(Φ(E))相关，以确定能量相关的衰减系数μ(E，r)。
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公开(公告)号：CN102124372B
公开(公告)日：2014-12-17
申请号：CN200880108832.8
申请日：2008-09-23
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/16
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18)，所述处理电子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分(22)以及具有强度输出(32)的积分器部分(24)，其中，所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器(16)，使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分(24)或者由这两者对到达所述传感器(16)的X射线光子(58)进行处理，并且其中，所述处理电子器件(18)包括处理器(34)，所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32)，并且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(32)获取的强度信息(I)的计数结果(K)，从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分(22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分(24)获取的信息(M)。本发明还涉及用于探测器(12)的对应探测器元件(10)、X射线成像设备(14)、用于确定来自探测器元件(10)的计数结果(K)的方法、计算机程序、数据载体以及用于X射线成像设备(14)的探测器(12)。
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公开(公告)号：CN102395901B
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201080016540.9
申请日：2010-03-15
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/164
CPC classification number: G01T1/1647 , G01T1/2985
Abstract: 一种成像系统包括闪烁体阵列(202)和数字光电倍增器阵列(204)。光子计数通道(212)、积分通道(210)和矩生成通道(214)处理所述数字光电倍增器(204)的输出信号。重建器(122)对第一、第二和第三输出信号进行光谱解析。在一个实施例中，仅在辐射通量低于预定阈值的情况下，控制器(232)激活所述光子计数通道(212)以处理所述数字信号。成像系统包括至少一个直接转换层(302)和至少两个闪烁体层(304)和对应的光电传感器(306)。光子计数通道(212)处理所述至少一个直接转换层(302)的输出，且积分通道(210)和矩生成通道(214)处理所述光电传感器的相应输出。重建器(122)光谱解析所述第一、第二和第三输出信号。
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公开(公告)号：CN102256548B
公开(公告)日：2014-03-05
申请号：CN200980150981.5
申请日：2009-12-10
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/405 , A61B6/032 , A61B6/4007 , A61B6/4028 , A61B6/4035 , A61B6/4241 , A61B6/482
Abstract: 本发明涉及通过逆几何CT而实现谱X射线成像设备的检查装置和相应的方法。所提出的检查装置包括：X射线源单元(14)，其包括用于在多个位置处发射X射线(24)的多个X射线源(15)；X射线探测单元(18)，其用于探测从一个或多个所述X射线源(15)发射的且穿透所述X射线源单元(14)和所述X射线探测单元(18)之间的检查区(19)之后的X射线，并且用于生成探测信号；处理单元(36)，其用于处理所生成的探测信号；以及控制单元(26)，其用于控制所述X射线源(15)来随后单独地或成组地以至少两个不同的能量谱发射X射线，使得在切换特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g)从而以不同的能量谱发射X射线的时间间隔中，关闭所述特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g)，并且，随后开启一个或多个其他X射线源(15b、15c)或其他成组的X射线源(15b、15e、15h；15c、15f、15i)以发射X射线。
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公开(公告)号：CN102216808A
公开(公告)日：2011-10-12
申请号：CN200980145151.3
申请日：2009-11-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/249 , G01T1/247 , G01T1/2928
Abstract: 本发明涉及一种辐射检测器(100)，其包括转换器元件(113)，所述转换器元件具有用于对入射辐射(X)生成的电信号进行采样的第一电极(121)的阵列(120)。利用连接电路(130)，至少两个第一电极(121)能够根据给定的连接模式(CP1)选择性地耦合至公共读出单元(141)。从而能够使沿入射辐射(X)的路径的有效像素尺寸适应于电信号的分布，电信号的分布通常由入射辐射的光谱组成确定。
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公开(公告)号：CN101796429A
公开(公告)日：2010-08-04
申请号：CN200880105812.5
申请日：2008-09-05
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Abstract: 本发明涉及特别用于X射线(X)和γ射线的辐射探测器(100)，其包括以下部件的组合：(a)对于光子具有低衰减系数的至少一个初级转换层(101a-101f)以及(b)对于光子具有高衰减系数的至少一个次级转换层(102)。在优选实施例中，初级转换层(101a-101f)可以由与相关联的能量分辨计数电子设备(111a-111f，121)耦合的硅层实现。次级转换层(102)可以例如由与能量分辨计数电子设备或积分电子设备耦合的CZT或GOS实现。利用具有低阻止本领的初级转换层允许构建用于谱CT的堆叠式辐射探测器(100)，其中将这些层的计数率限制为可行的值，而无需不现实的薄层。
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公开(公告)号：CN101680954A
公开(公告)日：2010-03-24
申请号：CN200880017990.2
申请日：2008-05-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/171
Abstract: 一种装置包括定标因子确定器(236)，其基于针对能量阈值测量的探测到的光子的数量的计数以及估计的探测到的光子的所述数量的实际计数确定计数定标因子。所述光子包括由辐射敏感探测器探测到的多能光子。该装置还包括计数定标器(136)，其使用所述计数定标因子以针对不同能量阈值对测量的探测到的光子的计数进行定标。
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公开(公告)号：CN101558325A
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：CN200780045780.X
申请日：2007-12-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17 , G01T1/2928
Abstract: 本发明涉及一种用于对X射线光子(12，14)进行计数的装置(10)。该装置(10)包括适于将光子(12，14)转换成电荷脉冲的传感器(16)、适于将电荷脉冲(51)转换成电脉冲(53)的处理元件(18)以及适于将电脉冲(53)与第一阈值(TH1)进行比较并且在超过第一阈值(TH1)时输出事件(55)的第一鉴别器(20)。第一计数器(22)对这些事件(55)进行计数，除非第一门控元件(24)禁止计数。当第一鉴别器(20)输出事件(55)时启用第一门控元件(24)，并且当通过测量或通过关于在处理元件(18)中处理光子(12，14)所需的时间的知识发现对光子(12，14)的处理被完成或即将完成时停用第一门控元件。通过启用和停用第一计数器(22)，可以解决堆积事件，即多个电脉冲(53)的堆积。本发明还涉及相应的成像设备和相应的方法。
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公开(公告)号：CN101542315A
公开(公告)日：2009-09-23
申请号：CN200780042651.5
申请日：2007-11-12
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/29
CPC classification number: G01T1/2928
Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器(200)，具体而言是一种X射线探测器，其包括至少一个用于将入射光子(X)转换成电信号的敏感层(212)。电极(213)的二维阵列位于该敏感层(212)的正面，而其背面携带对电极(211)。电极(213)的尺寸可在辐射方向(y)上变化以适应电极的计数工作量。此外，电极(213)相对于辐射方向(y)的位置提供关于所探测到的光子(X)的能量的信息。
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公开(公告)号：CN101542313A
公开(公告)日：2009-09-23
申请号：CN200780042907.2
申请日：2007-11-19
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/164
CPC classification number: G01T1/1647
Abstract: 本发明涉及一种用于确定探测单元(6)的探测器能量加权函数的设备。该设备包括用于确定探测单元(6)的谱响应函数的确定单元(21)，以及用于通过对探测单元(6)的谱响应函数与给定的理想探测器能量加权函数的乘积进行积分而确定探测器能量加权函数的计算单元(22)。
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