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公开(公告)号：CN114384596A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202011142314.7
申请日：2020-10-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00 , G01N23/04 , G01N23/203
Abstract: 提供一种车辆安检系统、车辆安检系统组合和安检方法。车辆安检系统，包括：安装在检查区域中的扫描装置；第一传输机构，适用于将车辆从所述检查区域的入口在纵向方向上穿过所述扫描装置输送到所述检查区域的出口，以使所述扫描装置对所述车辆进行扫描检查；以及安装在所述检查区域的入口的外部的第一切换机构。第一切换机构包括：第一移动机构，设置成在横向方向上往复移动，并可分离地定位在两个驶入位置；以及两个第二传输机构，安装在所述第一移动机构上，在所述第一移动机构位于所述两个驶入位置中的一个时，两个所述第二传输机构中的一个第二传输机构与所述检查区域的入口对齐，以允许将所述一个第二传输机构上的车辆移动到第一传输机构上。
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公开(公告)号：CN113970567A
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN202010711982.0
申请日：2020-07-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/203 , G01V5/00
Abstract: 本公开涉及一种背散射成像装置、控制方法及检查系统。背散射成像装置包括：射线源组件(10)，被配置为向扫描区域发出射线；背散射探测器阵列(21)，包括多个背散射探测器，且被配置为接收所述射线在扫描区域内的物体(40)发生背散射时的散射光子(52)；第一准直器组件(22)，包括与所述多个背散射探测器分别对应的多个第一准直通道(22b)，且设置在所述背散射探测器阵列(21)邻近所述扫描区域的一侧，被配置为对所述物体(40)背散射时的散射光子(52)进行约束，以使得所述多个背散射探测器分别接收所述物体(40)内对应深度的散射光子(52)；其中，所述多个第一准直通道(22b)的至少部分的准直角度可调。
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公开(公告)号：CN113238293A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN202110777668.7
申请日：2021-07-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开涉及一种检查系统及方法。检查系统包括：辐射源（10）；探测器（30），被配置为探测所述辐射源（10）发出的辐射作用于被检的对象时的信号；和处理器（20），与所述辐射源（10）通讯连接，被配置为根据所述对象的类型确定与所述对象的类型对应的至少一种周期辐射组合，并在所述至少一种周期辐射组合中选择与所述对象的至少两个不同的部分分别对应的周期辐射组合，以及在所述对象被扫描期间，使所述辐射源（10）以被选择的周期辐射组合向对应的所述至少两个不同的部分发出辐射，其中，所述周期辐射组合为所述辐射源（10）在每个扫描周期内输出的至少一个辐射脉冲的时序排列。本公开实施例能够改善检查系统对被检对象的适应性。
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公开(公告)号：CN108614301A
公开(公告)日：2018-10-02
申请号：CN201810756262.9
申请日：2018-07-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本发明涉及一种辐射检查系统，其包括：平台，顶部用于承载被检测物；框架，相对所述平台可移动，所述框架形成允许所述平台上承载的被检测物通过的通道；射线源，设于所述框架的顶部；底盘，可移动地设于所述平台的底部；以及底部探测器，设于所述底盘上，用于接收所述射线源发出的射线。本发明可以缩小辐射检查系统的占地面积，减小辐射防护区面积；可迅速组装并可快速开始扫描。
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公开(公告)号：CN108614302B
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN201810757450.3
申请日：2018-07-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种辐射检查系统，涉及车辆辐射检测领域，用以提供现有车辆辐射检测的效率。该辐射检查系统，包括：检测设备，包括射线装置和探测器；框架，射线装置和探测器均设于框架；以及平台，用于停放两个或以上数量的待检测物。其中，框架被配置为能移动的，以使得待检测物通过射线装置和探测器之间的检测通道。上述技术方案，将框架与平台至少其中之一设置为可运动的形式，提高了扫描效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113970567B
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202010711982.0
申请日：2020-07-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/203 , G01V5/00
Abstract: 本公开涉及一种背散射成像装置、控制方法及检查系统。背散射成像装置包括：射线源组件(10)，被配置为向扫描区域发出射线；背散射探测器阵列(21)，包括多个背散射探测器，且被配置为接收所述射线在扫描区域内的物体(40)发生背散射时的散射光子(52)；第一准直器组件(22)，包括与所述多个背散射探测器分别对应的多个第一准直通道(22b)，且设置在所述背散射探测器阵列(21)邻近所述扫描区域的一侧，被配置为对所述物体(40)背散射时的散射光子(52)进行约束，以使得所述多个背散射探测器分别接收所述物体(40)内对应深度的散射光子(52)；其中，所述多个第一准直通道(22b)的至少部分的准直角度可调。
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公开(公告)号：CN114602822A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202210315627.0
申请日：2022-03-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本申请公开了一种矿物干选设备，包括：给料系统、布料装置、识别装置和执行机构；给料系统位于布料装置的上游，用于将矿物原料供给至布料装置，识别装置包括位于布料装置上方的脉冲式X射线源和位于布料装置下方的X射线探测器，识别装置用于识别矿物原料信息，执行机构用于根据矿物原料信息对矿物原料进行分选。本申请的矿物干选设备通过采用脉冲式X射线源，成像清晰，能够对探测器的余晖进行校正，进而使得探测到数据更准确，有利于提高设备的分选精度和处理能力，保证良好的分选效果。
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公开(公告)号：CN113238298B
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202110777904.5
申请日：2021-07-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V11/00
Abstract: 本公开涉及一种检查系统及方法。检查系统包括：射线源（10），被配置为产生多种具有不同能量的射线；探测器（30），被配置为检测所述射线源（10）发出的射线作用在被检对象（40）的至少一个截面时的信号；和处理器（20），与所述射线源（10）通讯连接，被配置为根据表征所述被检对象（40）的至少一个截面的物质参数的信息调整所述射线源（10）发出的射线的能量。本公开实施例能够适应多种类型的被检物的辐射检查。
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公开(公告)号：CN113238293B
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN202110777668.7
申请日：2021-07-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开涉及一种检查系统及方法。检查系统包括：辐射源（10）；探测器（30），被配置为探测所述辐射源（10）发出的辐射作用于被检的对象时的信号；和处理器（20），与所述辐射源（10）通讯连接，被配置为根据所述对象的类型确定与所述对象的类型对应的至少一种周期辐射组合，并在所述至少一种周期辐射组合中选择与所述对象的至少两个不同的部分分别对应的周期辐射组合，以及在所述对象被扫描期间，使所述辐射源（10）以被选择的周期辐射组合向对应的所述至少两个不同的部分发出辐射，其中，所述周期辐射组合为所述辐射源（10）在每个扫描周期内输出的至少一个辐射脉冲的时序排列。本公开实施例能够改善检查系统对被检对象的适应性。
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公开(公告)号：CN113077391A
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN202010711447.5
申请日：2020-07-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T5/00
Abstract: 本公开提出一种校正扫描图像的方法和装置以及图像扫描系统，涉及图像扫描领域。该方法包括：获取被扫描对象的扫描图像；从所述扫描图像中检测一个或多个参照物；根据预设的参照物的标准参数，确定每个参照物的变形参数；根据所述一个或多个参照物的变形参数，对所述扫描图像进行校正。通过从扫描图像中检测参照物，根据参照物的变形参数，对扫描图像进行校正，以改善扫描图像变形的问题，提高检测效果。
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