电磁兼容测试设备
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117517814A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202210904012.1

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明公开一种电磁兼容测试设备,其包括:测试腔体,用于放置待测设备;天线,安装在测试腔体,用于接收待测设备辐射的电磁波,或向待测设备辐射电磁波;开关件,连接天线;发射组件,用于发射电磁波;以及接收组件,用于接收电磁波;其中开关件被配置为使发射组件电连接天线及使接收组件与天线断开连接,以使发射组件用于通过天线向待测设备辐射电磁波;和开关件被配置为使接收组件电连接天线及使发射组件与天线断开连接,以使接收组件用于通过天线接收待测设备辐射的电磁波。本发明技术方案提出的电磁兼容测试设备能够避免频繁更换天线,使其工作效率得到提高。

    电磁兼容测试设备
    32.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117517813A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202210904011.7

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本申请公开了一种电磁兼容测试设备。电磁兼容测试设备包括测试腔体、电气室、供电模块和射频模块。测试腔体用于放置待测设备。电气室与测试腔体内部隔开。供电模块位于电气室内,供电模块连接有第一供电接口。射频模块位于电气室内且电连接供电模块,射频模块由供电模块供电。测试腔体内还设有至少一个第二供电接口,至少一个第二供电接口连接第一供电接口和/或连接供电模块,第二供电接口用于向待测设备供电。如此,待测设备的供电可以通过测试腔体内部的第二供电接口进行供电,不需要额外提供供电转换模块,供电模块置于电气室内,与腔体内的待测设备隔离开,对待测设备的测试结果不会造成影响,保证测试结果的准确性。

    温度探针
    33.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107607224B

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN201710706355.6

    申请日:2017-08-16

    Abstract: 本发明公开一种温度探针,所述温度探针包括安装体、温度探测体以及驱动部,所述温度探测体沿所述温度探针的长度方向可调节安装于所述安装体,而具有一活动行程,且在所述活动行程上,所述温度探测体能与待测温食材接触,所述驱动部与所述温度探测体驱动连接,以驱动所述温度探测体沿所述长度方向活动。本发明提供的技术方案中,通过调节所述温度探测体即可自动完成对食材内部不同高度层的温度的检测,从而找到食材内部温度最低的点,避免了需要靠用户手动多次操作查找的过程,简化了操作过程,提升了用户体验。

    温度探针
    35.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107607223A

    公开(公告)日:2018-01-19

    申请号:CN201710706248.3

    申请日:2017-08-16

    Inventor: 孙宁 陈礼康 刘敏

    Abstract: 本发明公开一种温度探针,包括沿第一方向延伸的壳体、以及多个温度传感器,其中,所述壳体包括沿所述第一方向分段设置的多段壳节,所述多段壳节沿所述第一方向可调节地固定连接,以使得所述壳体的长度可伸缩,所述多个温度传感器对应设置于多段所述壳节上。所述温度探针能够适用不同厚度的食物,所述多个温度传感器能够处于食物的不同层上,以准确探测食物各层上的温度分布,可以全面地掌握整个食物的烹烤程度。

    烤盘以及烤箱
    36.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107495849A

    公开(公告)日:2017-12-22

    申请号:CN201710705940.4

    申请日:2017-08-16

    Abstract: 本发明公开一种烤盘及烤箱,其中,所述烤盘包括金属载物体以及储热体,所述金属载物体的上表面用以承载待烘烤食材,以将烤箱的加热装置的热量传导至所述待烘烤食材,所述储热体采用储热材料制成,且与所述金属载物体热导接。本发明提供的技术方案中,通过所述金属载物体将热量传递给食材,实现对食材的加热,从而实现了对食材的快速导热,并且所述储热体可以储蓄热量,所述烤箱的加热装置停止加热时,利用所述储热体储蓄的热量,继续给所述金属载物体传导热量,来实现对食材加热,一方面提高食材的口感,另一方面提高了所述烤箱热量的利用率。

    测试装置和测试方法
    37.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119232291A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310793677.4

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开一种测试装置和测试方法。测试装置包括测试腔体,测试腔体内设有测试腔,测试腔用于放置待测设备;天线;射频模块,射频模块包括信号发生器和信号放大器,信号放大器连接信号发生器和天线,信号发生器用于输出射频信号,信号放大器用于对射频信号进行放大,天线用于将放大后的射频信号馈入至测试腔内。其中,信号发生器选自超宽带信号发生器和多频段信号发生器的至少一个;信号放大器选自超宽带信号放大器和多频段信号放大器的至少一个;天线选自超宽带天线、多频段天线和单频段天线中的至少一个,在天线为单频段天线的情况下,测试装置包括多个单频段天线,每个单频段天线对应一个测试频段。上述测试装置可满足更多频段的测试需求。

    检测系统和检测方法
    38.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119224447A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310802384.8

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本发明公开一种检测系统和检测方法。检测系统包括:测试腔体,测试腔体内设有测试腔,测试腔用于放置待测设备;天线组件,天线组件安装在测试腔体;射频模块,射频模块电连接天线组件,射频模块用于输出射频信号,射频信号经天线组件馈入至测试腔;环境组件,环境组件用于调节测试腔的温度和湿度中的至少一个;控制组件,控制组件电连接射频模块和环境组件,控制组件用于根据测试指令控制射频模块发射射频信号和环境组件调节测试腔的温度和湿度中的至少一个。上述检测系统可以较为完整地模拟待测设备在各种工况环境下的使用场景。

    加热辅助组件和微波烹饪电器

    公开(公告)号:CN113803749B

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202010527410.7

    申请日:2020-06-11

    Abstract: 本发明提供了一种加热辅助组件和微波烹饪电器,加热辅助组件包括第一导体和第二导体。第一导体连接有导电柱,第二导体包括顶部和侧部。侧部连接在顶部的周缘并共同形成有收容空间,第一导体位于收容空间中,第一导体与顶部和侧部间隔,顶部开设有通孔,导电柱穿设通孔并与通孔内壁绝缘,导电柱的一部分位于第二导体的顶部上方。上述加热辅助组件,负载可放置在第一导体下方,通过导电柱将腔体内的微波能量以单一模式导入到加热辅助组件中,使该模式的电场矢量始终垂直于第一导体和第二导体以及负载表面,进而保证负载由内到外被均匀加热,从而实现负载的均匀快速加热。

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