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公开(公告)号：CN107450007A
公开(公告)日：2017-12-08
申请号：CN201710700573.9
申请日：2017-08-16
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
CPC classification number: G01R31/2635 , G01M7/025
Abstract: 本发明公开了一种LED振动可靠性测试装置，属于LED测试技术领域，包括直流电源装置、LED夹具、振动平台、亚克力样品保护罩、巡检仪和计算机，LED夹具设置在振动平台上，LED夹具和振动平台均设置在亚克力样品保护罩内，振动平台与巡检仪连接，巡检仪与计算机连接。本发明加上了保护箱体，可以有效防止外界异物对实验平台的干扰，可以随时监测LED受振动时的使用状况，振动平台振动幅度可调节，振动平台总噪声小，平台可定时工作，振动中的LED状态可随时采集并传输至电脑，可以根据所收集的数据对样品的寿命进行预测，该振动可靠性测试装置可以在长时间振动，振动稳定，可以设置失效报警。
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公开(公告)号：CN107328962A
公开(公告)日：2017-11-07
申请号：CN201710700574.3
申请日：2017-08-16
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
IPC: G01R1/04
Abstract: 本发明公开了一种LEDβ型金属弹片组合式老化夹具，属于LED测试技术领域，包括子夹具和特制铝基板，子夹具包括铝基体、梅花型芯片安装基板和β型金属弹片，梅花型芯片安装基板可拆卸的卡设在β型金属弹片与铝基体直径，β型金属弹片的一端与铝基体连接，β型金属弹片的另一端为β型的弯曲端，梅花型芯片安装基板与铝基体之间设有定位连接配合结构，β型金属弹片与梅花型芯片安装基板之间设有弹性连接结构。本发明方便高效，具有可自由组合性和适应性强的优点，插拔式装卸样品方便，可拆卸部分与样品直接接触组件，有效避免二次破坏或污染，更换维修方便，芯片面向方向无较大遮挡物，方便测量光通量等参数性能。
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公开(公告)号：CN107101096A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710513111.6
申请日：2017-06-29
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
IPC: F21K9/20 , F21V29/56 , F21V29/67 , F21V31/00 , F21Y115/10
CPC classification number: F21K9/20 , F21V29/56 , F21V29/67 , F21V31/005 , F21Y2115/10
Abstract: 本发明公开了一种UVled灯管，属于灯具领域，包括流体散热管和透明管，流体散热管贯穿透明管，流体散热管上设置紫外LED光源模组，流体散热管与透明管之间设有两个密封盖，流体散热管与透明管相间隔，流体散热管、透明管和两个密封盖之间设置密封腔室，紫外LED光源模组位于密封腔室内，在透明管的外表面上设有光触媒层。本发明是一种可提高法兰密封性并延长密封圈使用寿命的一种UVled灯管。本发明是一种可提高散热性的UVled灯管。
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公开(公告)号：CN105606212B
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201610006821.5
申请日：2016-01-06
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种LED产品光通量及颜色维持寿命预测方法，步骤包括：测量LED产品老化过程中各时间点下的光谱曲线；分析预测LED产品各光电参数随老化时间的变化曲线；进一步预测LED产品的光衰和色漂的变化曲线；最终预测LED产品的光通量维持寿命及颜色维持寿命。本发明提出的方法对老化条件下LED产品的光谱变化趋势进行预测，对研究LED产品的可靠性具有重要意义。
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公开(公告)号：CN105938555A
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201610225916.6
申请日：2016-04-12
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
IPC: G06K9/46
CPC classification number: G06K9/4604
Abstract: 本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种图片曲线数据的提取方法，包括确定数据提取区域和确定曲线上的各点的步骤，本发明可以提取含有多条曲线的图片数据信息，认为影响因素少，精度高；可以对可选区域进行放大，从而进行精确定点，提高了数据提取的精度；可以处理一些自身曲线较粗、曲线存在缺失的情况，另外对提取后的曲线数据还可以进行去除偏点和杂点，大大的提高了输出数据的质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105606212A
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：CN201610006821.5
申请日：2016-01-06
Applicant: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种LED产品光通量及颜色维持寿命预测方法，步骤包括：测量LED产品老化过程中各时间点下的光谱曲线；分析预测LED产品各光电参数随老化时间的变化曲线；进一步预测LED产品的光衰和色漂的变化曲线；最终预测LED产品的光通量维持寿命及颜色维持寿命。本发明提出的方法对老化条件下LED产品的光谱变化趋势进行预测，对研究LED产品的可靠性具有重要意义。
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公开(公告)号：CN102980747B
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201210492481.3
申请日：2012-11-27
Applicant: 北京半导体照明科技促进中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种照明装置光通维持率的加速检测方法及装置，该照明装置光通维持率的加速检测方法包括：确定检测温度，其中，检测温度为对照明装置进行加速检测时的环境温度，检测温度高于常温；调节当前环境温度至检测温度；以及在检测温度下加速检测照明装置的光通维持率。通过本发明，由于在检测照明装置的光通维持率前确定了高于常温的检测温度，该检测温度保证了在失效机理不变的情况下，缩短了照明装置的检测周期，达到了快速检测照明装置寿命的效果。
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公开(公告)号：CN102967786A
公开(公告)日：2013-03-13
申请号：CN201210507516.6
申请日：2012-11-30
Applicant: 北京半导体照明科技促进中心
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种照明驱动器件寿命的检测方法及装置，该照明驱动器件寿命的检测方法包括：确定照明驱动器件中的多个目标元件；对多个目标元件进行隔离；对隔离后的多个目标元件进行加速检测以获取多个目标元件的电学参数，根据检测到的多个目标元件的电学参数获取多个加速倍数；获取多个目标元件在加速检测中的寿命；根据多个加速倍数和多个目标元件在加速检测中的寿命获取照明驱动器件在正常工况时的寿命。通过本发明，解决了现有技术中对照明驱动器件老化时间较长的问题，达到了加速检测的目的。
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公开(公告)号：CN102980747A
公开(公告)日：2013-03-20
申请号：CN201210492481.3
申请日：2012-11-27
Applicant: 北京半导体照明科技促进中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种照明装置光通维持率的加速检测方法及装置，该照明装置光通维持率的加速检测方法包括：确定检测温度，其中，检测温度为对照明装置进行加速检测时的环境温度，检测温度高于常温；调节当前环境温度至检测温度；以及在检测温度下加速检测照明装置的光通维持率。通过本发明，由于在检测照明装置的光通维持率前确定了高于常温的检测温度，该检测温度保证了在失效机理不变的情况下，缩短了照明装置的检测周期，达到了快速检测照明装置寿命的效果。
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公开(公告)号：CN102982241A
公开(公告)日：2013-03-20
申请号：CN201210492618.5
申请日：2012-11-27
Applicant: 北京半导体照明科技促进中心
Abstract: 本发明公开了一种照明系统失效机率的检测方法及装置，该照明系统失效机率的检测方法包括：获取照明系统中多个子系统在第一时间段的失效机率；根据多个子系统在第一时间段的失效机率确定照明系统在第一时间段的失效机率；根据照明系统中多个子系统在第一时间段的失效机率确定照明系统中多个子系统在第二时间段的失效机率；根据多个子系统在第二时间段的失效机率确定照明系统在第二时间段的失效机率；以及根据照明系统在第一时间段的失效机率和照明系统在第二时间段的失效机率确定照明系统的失效机率。通过本发明，可以更准确地了解照明系统的性能。
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