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公开(公告)号：CN102221433B
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201110144766.3
申请日：2011-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01L5/00
Abstract: 多普勒振镜正弦调制多光束激光外差二次谐波测量微冲量的方法，它涉及一种测量微冲量的方法。它为解决现有激光外差法在测量微冲量时存在采集激光差频信号质量差和信号处理的运算速度慢的问题而提出。激励工质靶产生等离子体喷射使标准梁的横梁转动；打开H0固体激光器和振镜的驱动电源，振镜在驱动电源作用下做简谐运动，并对不同时刻入射到振镜前表面的光频进行调制；信号处理系统在扭摆系统摆动过程中连续采集光电探测器发出的信号，并对连续获得的所有信号进行处理，获得标准梁的横梁所受到的微冲量；它具有采集的激光差频信号质量高和信号处理的运算速度快的突出优点。
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公开(公告)号：CN102305682B
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201110145072.1
申请日：2011-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01L5/00
Abstract: 多普勒振镜正弦调制多光束激光外差的扭摆法测量微冲量的装置及方法，属于微冲量测量技术领域。它解决了现有采用外差干涉法测量微推力器的微冲量的方法由于只能得到单一的待测参数值，使得待测参数值的测量精度低的问题。本发明装置由数字信号处理系统、光电探测器、脉冲激光器、扭摆系统、H0固体激光器、偏振分束镜PBS、四分之一波片、振镜、平面标准镜和会聚透镜组成；方法为打开H0固体激光器和振镜的驱动电源；采用脉冲激光器发出脉冲激光激励工质靶，使该工质靶产生等离子体喷射使标准梁的横梁转动；数字信号处理系统采集光电探测器发出的信号，并进行处理，获得标准梁的横梁所受到的微冲量I′。本发明适用于测量微推力器的微冲量。
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公开(公告)号：CN101916957B
公开(公告)日：2012-03-07
申请号：CN201010246042.5
申请日：2010-08-05
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种应用于激光外差干涉仪的基于声光调制的2μm偏振正交激光发射系统，它涉及一种偏振正交的激光光源发射系统。它解决了现有的正交偏振光源发射系统因偏振混合误差而导致激光外差干涉仪测量精度低的问题，本发明包括2μm激光器、多个光纤准直器、偏振片、光纤分束器、两个声光移频器、偏振控制器、偏振分束棱镜和多个光纤， 2μm激光器的激光经光纤准直器和偏振片后进入光纤分束器，其将输入的激光分为两束P光，一束P光经光纤进入一个声光移频器移频后进入偏振分束棱镜，另一束P光移频后进入偏振控制器，该偏振控制器将P光变为S光输出给偏振分束棱镜，该P光和S光在该偏振分束棱镜出射端口形成正交偏振光束发射。本发明适用于激光外差干涉仪的光源系统。
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公开(公告)号：CN102353916A
公开(公告)日：2012-02-15
申请号：CN201110145173.9
申请日：2011-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R33/18
Abstract: 多光束激光外差二次谐波测量磁致伸缩系数的装置及测量方法，涉及一种测量磁致伸缩系数的装置及测量方法，它解决了现有采用多光束激光外差测量磁致伸缩系数的方法由于激光差频信号采集效果差、信号处理的运算速度慢导致的测量精度较低的问题。本发明通过在光路中引入振镜，使不同时刻入射的光信号附加了一个光频，这样经过薄玻璃板前表面的反射光和平面反射镜多次反射的光在满足干涉的条件下，产生多光束外差二次谐波信号，将待测信息成功地调制在中频外差二次谐波信号的频率差中，从而实现对磁致伸缩系数的测量。本发明适用于测量磁致伸缩系数。
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公开(公告)号：CN102353593A
公开(公告)日：2012-02-15
申请号：CN201110144764.4
申请日：2011-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 多普勒振镜正弦调制多光束激光外差测量杨氏模量的装置及方法，属于杨氏模量检测技术领域。它解决了采用传统的外差干涉技术测杨氏模量由于只能得到单一的待测参数值而使测量精度低的问题。本发明装置由H0固体激光器、振镜、四分之一波片、偏振分束镜、薄玻璃板、平面反射镜、会聚透镜、光电探测器、振镜驱动电源和信号处理系统组成；本发明方法将待测金属丝与砝码连接，对其施加拉力F；打开H0固体激光器及振镜的驱动电源，信号处理系统连续采集光电探测器输出的电信号，获得薄玻璃板和平面反射镜之间的距离参数，记录该距离参数，多次增加砝码的质量M，计算获取杨氏模量值。本发明适用于杨氏模量的测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102331234A
公开(公告)日：2012-01-25
申请号：CN201110145147.6
申请日：2011-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 多普勒振镜正弦调制多光束激光外差二次谐波测量玻璃厚度的装置及方法，它涉及多普勒振镜正弦调制多光束激光外差二次谐波测量玻璃厚度的装置及方法。它为解决现有基于多光束激光外差检测的动态测角算法采集的激光差频信号质量和信号处理的运算速度均不理想的问题而提出。所述方法为：调节平面反射镜和待测厚度玻璃板的位置；振镜做简谐振动的同时打开激光器；信号处理系统连续采集光电探测器输出的电信号，并对采集到的信号进行处理，获得待测厚度玻璃板的厚度。它具有采集的激光差频信号质量高和信号处理的运算速度快的突出优点。它可以广泛的应用于激光雷达、机械、仪器仪表和电子产品制造业中。
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公开(公告)号：CN102323555A
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN201110145153.1
申请日：2011-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 多光束激光外差测量磁致伸缩系数的方法，涉及到材料的磁滞伸缩系数的测量方法。该方法解决了现有测量磁致伸缩系数的方法的精度低的问题。本发明的测量方法是将待测试件进行交流退磁后，固定在两根固定棒之间；然后，打开H0固体激光器，并驱动振镜开始工作；最后，在待测试件上施加单调上升的直流电流，在该过程中，采用信号处理系统连续采集光电探测器输出的电信号，并获得待测试件的长度变化量Δl，根据Δl获得待测试件的磁置伸缩系数α＝Δl/l。本发明采用基于激光外差技术和多普勒效应，把待测的长度信息加载到外差信号的频率差中，经信号解调后可以同时得到多个待测长度值，经加权平均处理可以提高待测长度值的测量精度，进而提高磁致伸缩系数的测量精度。
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公开(公告)号：CN102253074A
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN201110144782.2
申请日：2011-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 多普勒振镜正弦调制多光束激光外差二次谐波测量金属线胀系数的测量装置及方法，它涉及一种测量金属线胀系数的测量装置及方法；它为了解决现有激光外差测量法在测量金属线胀系数时存在采集到的激光差频信号质量和信号处理的运算速度均不理想的问题而提出。第二平面反射镜的反射面与薄玻璃板相互平行；对待测金属棒均匀加热，同时，打开H0固体激光器；采集电热炉内部的温度，获得温度变化量，同时信号处理系统连续采集光电探测器输出的电信号，获得第二平面反射镜和薄玻璃板后表面之间的距离变化量，通过该温度变化量和距离变化量获得金属线膨胀系数，它具有采集的激光差频信号质量高和信号处理的运算速度快的优点。
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公开(公告)号：CN102252652A
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN201110144752.1
申请日：2011-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01C1/00
Abstract: 多光束激光外差二次谐波法测量激光入射角度的装置及方法，涉及一种测量激光入射角度的装置及方法。它解决了现有采用多光束激光外差测量激光入射角度方法由于激光差频信号采集效果差、信号处理的运算速度慢导致的测量精度较低的问题。本发明通过在光路中加入振镜，使振镜做匀加速振动，对不同时刻入射到其前表面的光进行频率调制，把待测的角度信息加载到外差信号二次谐波的频率差中，进而获得激光入射角度信息。本发明适用于测量激光入射角度。
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公开(公告)号：CN102252622A
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN201110145044.X
申请日：2011-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 多普勒振镜正弦调制多光束激光外差测量玻璃厚度的装置及方法，属于微位移检测技术领域。本发明装置由激光器、偏振分束镜PBS、四分之一波片、振镜、平面反射镜、待测厚度玻璃板、会聚透镜、光电探测器和信号处理系统组成；本发明方法为：首先，打开振镜的驱动电源使振镜开始做简谐振动；同时，打开激光器；开始测量，在测量过程中，通过信号处理系统连续采集光电探测器输出的电信号，并对采集到的差频信号进行处理，根据频率与厚度的关系fp＝Kpd获得待测厚度玻璃板的厚度d：d＝fp/Kp，式中fp为激光外差信号的频率，Kp为fp与d比例系数。本发明适用于对玻璃厚度的测量。
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