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公开(公告)号：CN104346820A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201310318608.4
申请日：2013-07-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/046 , G06T11/006 , G06T2207/10081 , G06T2207/20182 , G06T2207/30004 , G06T2211/408 , G06T2211/424
Abstract: 本发明涉及一种基于自先验信息的X光双能CT重建方法，能够利用数据内在的信息提供先验模型，从而获得高质量的重建图像。本发明的X光双能CT重建方法具有如下步骤：（a）进行能谱标定和双能查找表建立；（b）利用双能CT成像系统的探测器采集得到双能CT成像系统的高能数据pH以及低能数据pL；（c）根据所得到的所述高能数据pH以及所述低能数据pL得到比例图像r1以及r2的投影图像R1以及R2；（d）利用第一局部平滑限制条件重建比例图像r2，由此，得到电子密度图；（e）利用第二局部平滑限制条件重建比例图像r1，由此，得到等效原子序数图像。在本发明中，有效地利用数据固有信息，能够在保持分辨率的情况下有效地抑制双能重建图像的噪声。
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公开(公告)号：CN103033525A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201110292773.8
申请日：2011-09-30
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京固鸿科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种CT系统和CT图像重建方法。所述CT系统包括射线源、射线探测器、数据采集与处理单元、主控制器、相机组和标记组以及标记组处理单元，其中，所述标记组被固定在受检物体表面；所述相机组用来获得所述标记组在其上的投影；所述标记组处理单元根据所述投影得出所述标记组的初始位置以及旋转后的位置信息，从而计算得到受检物体的旋转矩阵和位移量。本发明CT图像重建方法包括步骤：将标记组固定在受检物体表面并得到所述标记组的初始位置；在每次受检物体被旋转后获得旋转后标记组的位置信息；接着获得受检物体的旋转矩阵和位移量；根据所述旋转矩阵和位移量来重建CT图像。采用本发明CT系统和CT图像重建方法对机械控制精度要求不高。
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公开(公告)号：CN119224019B
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411766788.7
申请日：2024-12-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046 , A61B6/03 , A61B6/42 , A61B6/40
Abstract: 本发明的实施例提供一种CT成像系统的成像方法，涉及辐射扫描技术领域。CT成像系统包括：成像通道；M个分布式射线源，至少一个分布式射线源包括q个靶点；N个探测器；M个分布式射线源中的至少一个分布式射线源包括的q个靶点沿第一直线间隔排列，第一直线相对于第一方向倾斜布置。成像方法包括：将待成像对象置于成像通道中；控制至少一个分布式射线源的q个靶点发出射线束，以形成成像区域；利用至少一个探测器探测从至少一个分布式射线源发出并穿过待成像对象的射线，并根据探测到的射线生成投影数据；根据投影数据生成待成像对象的计算机断层扫描图像。出束时间间隔基于第一直线的延伸方向相对于第一方向倾斜的倾斜角度确定。
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公开(公告)号：CN119224018B
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411766743.X
申请日：2024-12-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046 , A61B6/03 , A61B6/42 , A61B6/40
Abstract: 本发明的实施例提供一种CT成像系统，涉及辐射扫描技术领域。成像系统包括：成像通道，用于在成像过程中放置待成像对象；M个分布式射线源，沿成像通道的周向间隔排列，至少一个分布式射线源包括q个靶点；N个探测器，沿成像通道的周向间隔排列，包括第一子探测器和第二子探测器；CT成像系统包括多个成像组件，成像组件包括至少一个分布式射线源和至少一个第一子探测器，在同一个成像组件中，分布式射线源和第一子探测器在检测通道的径向方向上面对面地布置，以及，分布式射线源的多个靶点和第一子探测器的至少一部分位于垂直于第一方向的同一平面中；在第一方向上，至少一个分布式射线源的至少一侧设置有至少一个第二子探测器。
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公开(公告)号：CN118154711A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410275691.X
申请日：2024-03-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06T11/00
Abstract: 提供一种标定数据的生成方法，标定数据用于扫描成像设备的图像重建的校正，所述方法包括：将标定模体置于射线形成的扫描区域中，其中，标定模体包括分别由M种材料构成的M个部分，M种材料分别具有M个物理属性理论值，M为大于等于2的正整数；通过探测器采集经过扫描区域的射线，以获取实际投影数据；基于实际投影数据，利用图像重建算法对标定模体进行重建，以获得重建图像；对重建图像进行分割处理，以获得M个重建子图像，其中，M个重建子图像分别对应M个部分；针对M个重建子图像，分别计算出与M个部分对应的M个物理属性测量值；以及基于M个物理属性理论值和M个物理属性测量值，生成标定数据。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117950070A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410106341.0
申请日：2020-07-21
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 提供一种自助安检系统和物品安检设备，将被检查的物品进入扫描通道；射线发射装置适用于向扫描通道中的物品发射辐射束；扫描图像采集模块适用于根据从物品接收的辐射束形成扫描图像，并包括适用于形成第一扫描图像和第二扫描图像的第一成像模块和第二成像模块；实物图像采集模块设置在所述第一成像模块和第二成像模块之间，适用于摄取位于扫描通道中的物品的实物图像。实物图像采集模块包括：适用于摄取位于所述扫描通道中的物品的实物图像的摄像设备和适用于照亮位于所述扫描通道中的物品的照明设备。绑定模块适用于将第一成像模块、第二成像模块得到的第一扫描图像、第二扫描图像和实物图像绑定之后，得到表示物品状态的平面图形、立体图形和实物图像。
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公开(公告)号：CN111325077B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN201811544361.7
申请日：2018-12-17
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: H04N1/032
Abstract: 本发明公开了一种图像显示方法、装置、设备及计算机存储介质。图像显示方法包括：确定目标对象在多个第一图像中的对象位置；根据对象位置和目标位置处理多个第一图像，并生成与多个第一图像一一对应的多个第二图像，其中，目标对象分别位于第二图像中的目标位置，目标位置为多个第二图像中的同一位置；显示多个第二图像。根据本发明实施例，能够在显示图像时，将目标对象始终显示在目标位置，从而方便用户对目标对象进行查看。
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公开(公告)号：CN117825417A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311864035.5
申请日：2023-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 提供一种用于标定扫描成像设备的标定方法，包括：通过探测器采集经过几何标定模体的射线，以获得探测器数据，其中，探测器数据包括射线经过几何标定模体后在探测器上的实际投影位置；获取初始的射线源参数和初始的探测器参数；根据初始的射线源参数、初始的探测器参数以及几何标定模体相对于射线源和探测器的位置关系，通过几何计算获得几何标定模体在探测器上的理论投影位置；构建实际投影位置和理论投影位置之间的偏差关于射线源参数和探测器参数的优化函数；根据优化函数，将偏差取值最小值时对应的射线源参数和探测器参数确定为优化的射线源参数和优化的探测器参数，将优化的射线源参数和优化的探测器参数确定为几何标定参数。
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公开(公告)号：CN114167507B
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202010957793.1
申请日：2020-09-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种多通道静态CT装置，其包括：扫描通道，所述扫描通道包括多条扫描子通道；分布式X射线源，所述分布式X射线源包括多个射线发射点，所述多个射线发射点围绕所述扫描通道布置；以及探测器模块，所述探测器模块包括多个探测器，所述多个探测器围绕所述扫描通道布置，所述多个探测器与所述多个射线发射点相应设置。
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公开(公告)号：CN114609684A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202011432043.9
申请日：2020-12-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开提供了一种物品的检测方法，应用于安检设备，安检设备包括光源、探测器和安检通道。该方法包括：确定焦点偏移量；根据焦点偏移量，改变光源的焦点位置，以使光源根据改变后的焦点位置向被扫描物体发射第一X射线，其中，焦点偏移量根据被扫描物体的位置来确定；利用探测器接收由光源发射的第一X射线，以得到第一X射线的探测数据；以及根据第一X射线的探测数据，对被扫描物体进行检测。本公开还提供了一种物品的检测装置、安检设备、介质和程序产品。
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