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公开(公告)号：CN111208359B
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN202010081167.0
申请日：2020-02-06
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明涉及一种紧缩场反射面边齿及设计方法，该方法包括：确定所需紧缩场反射面静区尺寸及工作频率，并设计至少三种具有不同类型边齿的反射面；对各反射面分别进行仿真，并在其静区前、中、后三个位置分别得到幅度和相位的仿真数据，进而确定各反射面之中静区纵向一致性最佳的反射面及静区横向一致性最佳的反射面；结合静区纵向一致性最佳的反射面及静区横向一致性最佳的反射面的边齿类型设计优化反射面，并确定其边齿的各项可调节参数；对于优化反射面边齿的各项可调节参数分别进行优化，得到优化反射面边齿的具体数值。本发明能够减小反射面边缘对静区性能的影响，提高待测目标电磁特性测试的准确性。
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公开(公告)号：CN113063991A
公开(公告)日：2021-07-02
申请号：CN202110274462.2
申请日：2021-03-15
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/00
Abstract: 本发明涉及一种紧缩场极化偏转角的检测方法及装置，该方法包括：对极化敏感标准目标进行单频点转角RCS测量，获取RCS实测曲线；在仿真软件中创建模型，用平面波代替紧缩场馈源，进行单频点转角RCS仿真，且在仿真过程中通过改变平面波的极化方向角度获取多条不同极化方向角度下的RCS仿真曲线；将RCS实测曲线分别与各条RCS仿真曲线进行比较，找到与RCS实测曲线最接近的RCS仿真曲线；若RCS实测曲线与该最接近的RCS仿真曲线之间的偏差不超过设定阈值，则得到紧缩场馈源的极化偏转角等于该最接近的RCS仿真曲线对应的极化方向角度。本发明提供了一种简单易行的紧缩场极化偏转角量化检测技术。
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公开(公告)号：CN106841825B
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN201710002325.7
申请日：2017-01-03
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 公开了一种基于吸波腔结构的近场天线波束控制系统，包括：转台、设置在转台上的待测目标、用于对待测目标近区电磁场的幅度和相位数据进行扫描的馈源天线、以及吸波腔；吸波腔罩设在馈源天线口面方向以外的周边，为半封闭腔体，吸波腔的内壁设置有吸波单元，吸波腔朝向待测目标的一侧设置有开孔；馈源天线设置在吸波腔内，且口面朝向开口方向。通过在馈源天线口面方向以外的周边罩设吸波腔，能够对已完成设计加工的馈源天线进行波束控制，从而降低馈源天线旁瓣及测试环境等客观因素对近场电磁测量的影响，提高测试精度；同时，通过在吸波腔内部铺设吸波单元，能够大面积减少室内吸波材料的铺设范围，降低测试环境搭建成本。
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公开(公告)号：CN208818657U
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201821633049.0
申请日：2018-10-09
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N23/00
Abstract: 本实用新型涉及双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置，所述回转座支撑在基座上，并且与基座采用螺钉非接触连接；所述回转座为同轴两轴独立回转座，弧形内支臂首端与回转座的回转座内轴连接，回转座内轴连接内侧回转体，弧形外支臂首端与回转座的回转座外轴连接，回转座外轴连接外侧回转体；弧形内支臂和弧形外支臂的末端分别对应连接天线机构；目标支架设置在基座内侧正前方，并与弧形内支臂和弧形外支臂的末端在同一竖直平面内位置相对应。本实用新型两个支臂之间的角度控制方便，有利于减小装置整体的体积，并可实现对待测材料进行不同入射角度的反射率测量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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