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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112787617B
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN202011588805.4
申请日：2020-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H9/05
Abstract: 本申请实施例提供一种用于超小型表贴晶体振荡器的基座夹持承载夹具。该夹具可以对散料基座实现可靠紧固夹持及承载并形成适配的加工阵列，从而实现对其内部安装的集成电路芯片进行高效、良好的批量自动引线键合加工。键合工程中，基座可良好的固定在该载盘上，无脱位现象，焊盘定位精度高误差小，批量自动加工速度快，键合加工合格率和效率高。解决了原有技术存在的散料基座安装的芯片只能采用手工拾取、单只逐个进行引线键合加工的方式，从而导致的工艺稳定性和重复性较差，芯片键合质量一致性较差，键合强度散差较大，合格率较低等问题。
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公开(公告)号：CN112798825A
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN202011588025.X
申请日：2020-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种用于超高基频晶体振荡器的老化性能测试夹具，包括：信号处理通用电路板、位于所述信号处理通用电路板上的输入转接插座和位于所述信号处理通用电路板底部的输出转接插针。本发明可通过对频率信号进行分频降频处理实现对超高基频晶体振荡器精确的老化性能测试，解决现有测试方法较难实现输出频率超过150MHz甚至达GHz的晶体振荡器产品的老化性能测试难题，同时具有产品适配性好、应用范围广、测试精度及测试效率高等特点和优势。
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公开(公告)号：CN107991561A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201711226436.2
申请日：2017-11-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法；所述用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置包括底端开口的壳体；位于所述壳体底端的输出转接基座；位于所述壳体内且与所述输出转接基座结合固定的信号处理及调试功能通用底板；及位于所述壳体内且位于所述信号处理及调试功能通用底板上方的振荡及加热控温功能适配插板。所述老化性能测试方法包括将石英晶体谐振器插接在振荡及加热控温功能适配插板上；将振荡及加热控温功能适配插板插接在信号处理及调试功能通用底板上；将插装完成的老化性能测试装置装入老化测试系统中并加电调试；进行老化性能测试；卸载石英晶体谐振器。本发明解决了现有方法破坏产品形貌、产品适配性差等问题。
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公开(公告)号：CN105978525A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201610268746.X
申请日：2016-04-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种石英谐振器，包括：通过石英晶片与镀有金属膜的下电极之间悬离；和/或，石英晶片与镀有金属膜的上电极之间悬离，使得石英谐振器中石英晶片与上下电极上的金属膜分离，有效地解决了由于石英谐振器中上、下电极对应的金属膜被附着在石英晶片表面使得金属膜内表面和石英晶体外表面形成内应力进而该内应力引发石英谐振器的振荡频率发生漂移的问题，提升石英谐振器输出振荡频率的稳定性。
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公开(公告)号：CN105572429A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510975344.9
申请日：2015-12-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例公开了一种晶体振荡器的固定装置及监测系统。该晶体振荡器的固定装置是由底座、加电测试电路、固定基板和固定压条依次构成；其中，所述底座，用于安装加电测试电路、固定基板和固定压条；所述加电测试电路，用于对晶体振荡器进行加电，使所述晶体振荡器产生相应的频率；所述固定基板，用于将所述晶体振荡器固定在所述底座上；所述固定压条，用于将所述晶体振荡器固定在所述固定基板上。应用本发明实施例提供的晶体振荡器的加固装置，在该固定装置中加入了多路测试电路，使得该晶体振荡器的固定装置在进行振动试验时，不仅可以刚性的固定晶体振荡器，而且可以批量的对晶体振荡器进行实时地监测。
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