SMD5032晶体振荡器振动试验下电性能监测实现装置和方法

    公开(公告)号:CN110987336A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201911333411.1

    申请日:2019-12-23

    Abstract: 本发明公开一种SMD5032晶体振荡器振动试验下电性能监测实现装置和方法,用于解决现有SMD7050封装晶体振荡器产品振动试验下电性能监测装置无法测试SMD5032封装晶体振荡器问题,该装置包括固定部件、装置主体和底座,固定部件包括金属压条和固定螺丝,装置主体包括测试座、控制电路模块、印制板、电路板电源线、电路板逻辑控制线和电路板频率输出电缆线,测试座和控制电路模块安装在印制板上,金属压条通过固定螺丝将装置主体固定在底座上。本发明还提供一种监测方法。本发明可以对SMD5032封装晶体振荡器振动状态下进行无损伤的、精确的电性能监测,具有测试无损伤、测试稳定性好、操作快捷方便、测试效率高等特点和优势。

    一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置

    公开(公告)号:CN108857689A

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201810738698.5

    申请日:2018-07-06

    Abstract: 本发明实施例提供一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置,包括:加工平台;设于所述加工平台上的承载晶片的研磨盘;驱动所述研磨盘转动的驱动机构;扣压固定在所述晶片上的晶片扣,所述晶片扣包括沉孔;以及按压在所述晶片扣上的按压机构;其中,所述按压机构包括可插入所述沉孔与所述晶片扣插接固定的顶针以及驱动所述顶针转动的第一转动机构。本发明提供一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置,能够保证晶片研磨曲面稳定,保证设计符合性及外形对称性。并且可调节控制支撑杆、顶针以及晶片水平面等三者之间的相互垂直及固定关系,实现了晶片在研磨过程中始终保持研磨重心不变。

    一种晶体振荡器频率监测系统及方法

    公开(公告)号:CN108037356A

    公开(公告)日:2018-05-15

    申请号:CN201711162178.6

    申请日:2017-11-21

    Abstract: 本申请公开了一种晶体振荡器频率监测系统及方法。本发明包括主控单元,所述主控单元连接有频率计数单元、变温单元、供电单元,所述频率计数单元连接有测试单元,所述主控单元用于向各连接设备输出控制参数,所述变温单元用于在主控单元输出的测试温度循环参数控制下给待监测振荡器提供变温条件;所述供电单元用于给测试单元提供测试电压;所述测试单元用于对待监测振荡器变温条件下频率进行监测;所述频率计数单元用于检测所述测试单元中待监测振荡器的实时频率参数并反馈至主控单元,主控单元计算频率突跳量,当突跳量达到限定值时,触发频率计数单元对频率进行计数,实现了在变温条件下对晶体振荡器的连续频率监测。

Patent Agency Ranking