一种薄膜电容耐久性测试装置

    公开(公告)号:CN215986285U

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202121504974.5

    申请日:2021-07-01

    Abstract: 本实用新型公开了一种薄膜电容耐久性测试装置,包括高压高频大电流充电回路、衰减振荡放电回路和控制电路,通过高压高频大电流充电回路为薄膜电容提供恒定的高压高频大电流;通过衰减振荡放电回路实现薄膜电容脉冲放电;通过控制电路实现控制充放电过程交替进行;本实用新型的测试装置适用于薄膜电容耐久性测试,能够模拟移频脉冲轨道电路的薄膜电容工作时的充放电过程。

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