一种掺铁铝酸锂晶体的制备方法

    公开(公告)号:CN101956235A

    公开(公告)日:2011-01-26

    申请号:CN200910055073.X

    申请日:2009-07-20

    Abstract: 本发明提供一种掺铁铝酸锂晶体的制备方法,包括:将氧化铝、碳酸锂和氧化铁作为原料混合后压块得到成型体,烧结所述成型体;加热所述烧结后的成型体得到熔体,将籽晶与所述熔体接触,用提拉法生长掺铁铝酸锂晶体。按照本发明提供的方法,将所述几种原料混合后压块得到成型体烧结后,再用提拉法可以制得大尺寸、透明完整的掺铁铝酸锂晶体。测试结果表明,按照本发明制备的掺铁铝酸锂晶体具有较好的热稳定性和化学稳定性。

    紫外杀菌饮水杯
    36.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101703356A

    公开(公告)日:2010-05-12

    申请号:CN200910198197.3

    申请日:2009-11-03

    CPC classification number: Y02W10/37

    Abstract: 本发明涉及了一种紫外饮水杯,它包含有一个杯盖,杯盖内底面上装有几个紫外发光二极管器件,通过导线依次串联安装在杯盖内的一个按钮开关、一个电池、一个驱动电路和一个弹性开关,杯盖外部附有防辐射粘附层。在杯盖盖在杯上时,弹性开关受压打开电源,在打开杯盖时,弹性开关靠弹性关闭电源,在发光二极管点亮时可以杀死杯壁、杯中水的细菌,提高饮水健康指数。

    LED侧面钝化层质量的测试结构及测试方法

    公开(公告)号:CN102569122A

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201210054565.9

    申请日:2012-03-05

    Abstract: 本发明公开了一种LED侧面钝化层质量的测试结构,通过在LED芯片的侧面及衬底的背面上制备G电极,从而可对LED芯片的侧面钝化层的等效电阻进行测量,并进一步对LED芯片的侧面钝化层的质量进行检测;同时,还公开了一种LED侧面钝化层质量的测试方法,通过测量LED芯片P区钝化层的等效电阻及N区钝化层的等效电阻,并分别与一标准LED芯片样品的P区钝化层的等效电阻及N区钝化层的等效电阻进行比较,从而可对LED芯片的侧面钝化层的质量进行检测;该方法简单方便,并且成本较低。

    一种半导体发光器件及其制备方法

    公开(公告)号:CN101958333A

    公开(公告)日:2011-01-26

    申请号:CN200910055071.0

    申请日:2009-07-20

    Abstract: 本发明提供一种半导体发光器件,包括:衬底;在所述衬底上具有氧化硅膜层;在所述氧化硅膜层上具有点阵排列的圆孔,所述圆孔的深度与氧化硅膜层的深度相等,在所述圆孔内具有n型GaN膜;在所述n型GaN膜上具有至少一个周期的GaInN/GaN量子阱;在所述的GaInN/GaN量子阱上具有p型GaN膜。本发明提供的半导体发光器件中,GaInN/GaN量子阱呈点阵排列,与在衬底上直接外延得到的量子阱结构相比,点阵排列的GaInN/GaN量子阱可以提高LED显示屏的分辨率。

    一种镓酸锂晶体的制备方法

    公开(公告)号:CN101956233A

    公开(公告)日:2011-01-26

    申请号:CN200910055070.6

    申请日:2009-07-20

    Abstract: 本发明提供一种镓酸锂晶体的制备方法,包括:将Li2CO3和Ga2O3作为原料混合后压块得到成型体,烧结所述成型体;在真空条件下加热所述成型体得到熔体,将籽晶下到所述熔体的冷心处浸泡同时旋转籽晶,然后经过放肩、等径提拉得到镓酸锂晶体。按照本发明,在烧结的过程中,可以提高原料纯度,降低晶体生长的挥发。然后,将成型体在真空条件下加热形成熔体,取籽晶下到熔体的冷心处浸泡同时旋转籽晶以降低温场的不均匀性,然后经过放肩、等径提拉得到镓酸锂晶体。采用冷心下种,可以使固液界面的顶端与籽晶中心重合防止晶体偏心生长,有利于挥发性物质的排出,从而提高晶体质量。

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