光学各向异性参数测定装置

    公开(公告)号:CN101153965A

    公开(公告)日:2008-04-02

    申请号:CN200710152861.1

    申请日:2007-09-18

    Inventor: 田冈大辅

    Abstract: 提出了即使是各向异性小的测定对象物,也不受样品台或样品的微细图案引起的散射光的影响,采用和SMP法同样的手法,能够高精度且简单地测定光学各向异性参数的差动SMP法。相对于测定对象物(2)的测定面,将P偏振光和S偏振光中的任一个的方向作为基准方向;将入射光和测定光中的一个作为在基准方向上振动的直线偏振光;将入射光和测定光中的另一个作为在相对于基准方向±δ(δ≠nπ/2、n是整数)的方向上振动的一对直线偏振光;测定对应于该一对直线偏振光的两种测定光的光强度;基于表示获得的两个光强度数据的差分的差分数据来测定光学各向异性参数。

    面照明装置
    33.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1912457A

    公开(公告)日:2007-02-14

    申请号:CN200610108151.4

    申请日:2006-07-28

    Abstract: 本发明的课题是,即使在单色的情况下也不会引起亮度不匀,能够获得高亮度,即使在混色的情况下,也可以出射没有色相不匀的均匀照明光。其解决方案为,将以平面侧作为发光面(5)的透明导光板(6R、6G、6B)叠层,形成以正面作为发光面(2)的透明导光体(B),以规定的间距将各种颜色的LED(4R、4G、4B)安装到前述导光板(6R、6G、6B)的侧面上,通过将LED(4R、4G、4B)对于各种颜色的每一种点亮/熄灭/调光,可以照射任意颜色的照明光。

    光扫描装置
    34.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1264044C

    公开(公告)日:2006-07-12

    申请号:CN03106700.X

    申请日:2003-02-28

    CPC classification number: G02B21/002

    Abstract: 本发明提供极小型并且构造简单,容易控制光点位置,既不要求高精度的光轴重合,又能够降低制造成本的光扫描装置。它具有使从光源装置(2)发出的照射光入射到扫描用透镜(3),并成为向着配置在它的焦点位置(FP)的聚光透镜(4)的平行光束,再由该聚光透镜(4)会聚在被观测面(OS)上的光学系统(5),其中上述光源装置(2)是通过将照射光轴(LZ)与扫描用透镜(3)的光轴(SZ)平行的半导体激光器(7)安装在能够沿与扫描用透镜(3)的光轴(SZ)正交的XY面调整位置的载物台(6)上形成的。

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