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公开(公告)号:CN108303747A
公开(公告)日:2018-07-20
申请号:CN201710021569.X
申请日:2017-01-12
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/0016 , G06T7/001 , G06T2207/10116
Abstract: 公开了一种检查设备和检测枪支的方法。对被检查物体进行X射线检查,得到透射图像。利用训练的枪支检测神经网络确定所述透射图像中的多个候选区域。利用所述枪支检测神经网络对所述多个候选区域进行分类,以确定所述透射图像中是否包含枪支。利用上述方案,可以更为准确地确定集装箱/车辆中是否包含枪支。
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公开(公告)号:CN108291880A
公开(公告)日:2018-07-17
申请号:CN201680027621.6
申请日:2016-03-11
Applicant: 科内克斯伯德有限公司
CPC classification number: G01N21/9072 , G01B11/30 , G01C11/00 , G01C11/06 , G01N21/90 , G01S17/06 , G06Q10/08 , G06Q10/083 , G06T7/001 , G06T7/74 , G06T15/04 , G06T2207/10028 , G06T2207/30244 , H04N5/247
Abstract: 本申请涉及用于检查货柜的布置和用于检查货柜的方法。此外,本发明涉及软件和用于运行它以用于施行方法步骤的设备。在实施例中,用于货柜检查的布置包括:用于接收关于货柜(100)的图像数据(1020)的构件、用于验证与货柜相关的图像数据的位置和/或定位数据的构件、用于分析接收到的图像数据(1020)的构件,以及用于检测可能损坏点的构件。
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公开(公告)号:CN108257121A
公开(公告)日:2018-07-06
申请号:CN201810019386.9
申请日:2018-01-09
Applicant: 北京百度网讯科技有限公司
CPC classification number: G06T7/001 , G01N21/8851 , G01N2021/8861 , G01N2021/8887 , G06K9/6232 , G06N3/0454 , G06N3/084 , G06T7/73 , G06T2207/20081 , G06T2207/20084 , G06T2207/30108
Abstract: 本发明提出一种产品缺陷检测模型更新的方法、装置、存储介质及终端设备,所述方法包括:接收训练生成的第一检测模型;以第一检测模型替换检测系统中的第二检测模型,并使得替换后的检测系统中第一检测模型的数量与运行第二检测模型的数量比值符合替换比例;统计替换后和替换后的检测系统的检测准确度;当替换后的检测系统的检测准确度大于替换前的检测系统的检测准确度,且两者的差值大于调整阈值时,以预设的比例步长增量调整替换比例,并以第一检测模型替换检测系统中第二检测模型,并使得替换后的检测系统中第一检测模型的数量与第二检测模型的数量比值符合增量调整后的替换比例。采用本发明,能够有效提高检测模型的适用性和检测准确度。
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公开(公告)号:CN108090797A
公开(公告)日:2018-05-29
申请号:CN201711141409.5
申请日:2017-11-17
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
IPC: G06Q30/06
CPC classification number: G06T7/001 , G06K9/00771 , G06K9/64 , G06Q30/0633 , G06T7/0008 , G06T7/70 , G06T2207/30164
Abstract: 本申请涉及用于在线配置和订购的方法。本发明的方法包括步骤:创建现场设备的至少一个数字图像,以电子方式从至少一个图像中提取至少一个对象及其在现场设备中的位置,以电子方式将至少一个对象及其位置与在数字存储器中存储现场设备组件及其在现场设备中的位置的图像进行比较,基于该比较,以电子方式将至少一个对象识别为至少一个现场设备组件以及识别其位置,使用一个识别的现场设备组件及其位置,以数字代码的形式确定现场设备配置,以电子方式将所确定的现场设备配置与在数字存储器中存储的图像的现场设备配置进行比较,该图像被利用以将至少一个对象识别为现场设备组件,基于该比较,以电子方式确定缺失和/或不正确定位的现场设备组件。
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公开(公告)号:CN103177457B
公开(公告)日:2018-05-15
申请号:CN201210597234.X
申请日:2012-12-12
Applicant: 佛克有限及两合公司
Inventor: V·克拉尔
CPC classification number: G06T7/001 , G06T2207/20076
Abstract: 本发明涉及一种用于在香烟(检查对象)的生产和/或包装过程中,特别是在香烟包装(10)和/或用于香烟包装的原坯和/或香烟包装上或用于香烟包装的印刷品和/或印刷载体的生产和/或包装过程中,光学检查待检对象的方法,其中,检查机构(11),优选地是照相机,且用于记录至少一个检查对象(10,19,29)的电子图像,并且,在记录图像(20,33)和存储的参考图像(18,31)之间形成差分图像(27,34),其中针对检查对象(10,19,29)的缺陷评估差分图像(27,34)的图像信息。本发明的特征在于,在差分图像(27,34)的评估过程中,在该差分图像(27,34)的至少一个图像区域中,该图像区域的图像信息优选地以依赖于位置的方式被加权。
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公开(公告)号:CN107977953A
公开(公告)日:2018-05-01
申请号:CN201610914663.3
申请日:2016-10-20
Inventor: 陈永埕
CPC classification number: G06T7/001 , G06T2207/30141 , G06T2207/30152
Abstract: 本发明公开一种工件导电特征检查方法包含摄录设置有复数个导电特征的一工件的一部分,以拍摄工件子影像,其中工件子影像具有一或多个特征影像,分别对应导电特征中一或多个;根据标准工件影像中的复数个特征预设点,查找特征预设点与至少部分的一或多个特征影像相应者,以定位工件子影像对应标准工件影像的区域;以及比对标准工件影像的对应区域与工件子影像,若区域内的一或多个特征预设点与一或多个第一特征影像之间存在有相异处,则判定工件为瑕疵工件。
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公开(公告)号:CN107972885A
公开(公告)日:2018-05-01
申请号:CN201710741965.X
申请日:2017-08-25
Applicant: 波音公司
Inventor: 格雷戈里·詹姆斯·斯威尔斯
CPC classification number: G06T7/001 , B64C2201/12 , B64F5/60 , G06K9/6202 , G06K9/6267 , H04N5/2252 , H04N13/204 , G06T7/0002
Abstract: 本发明涉及用于检查闪电引起的不一致性的装置和方法。一种装置,包括壳体和在壳体中并且被配置为检测飞机上的闪电引起的不一致性的感测模块。该装置还包括在壳体中并且被配置为捕获闪电引起的不一致性的图像的数据捕获模块。该装置还包括在壳体中并且被配置为使用图像来表征闪电引起的不一致性的特征,并将该特征与先前存在的数据集进行比较的分析模块。
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公开(公告)号:CN107945164A
公开(公告)日:2018-04-20
申请号:CN201711188161.8
申请日:2017-11-24
Applicant: 常州大学
CPC classification number: G06T7/001 , G06K9/6223 , G06K9/6256 , G06T7/13 , G06T7/136 , G06T2207/20061 , G06T2207/30124
Abstract: 本发明提供一种基于峰值阈值、旋转校准和混合特征的纺织品瑕疵检测方法,该方法分析基于照明光源下平坦纺织品表面的数字图像像素灰度信息,将图像分割为互不重叠的网格,计算每个网格的IRM,HOG,GLCM和Gabor特征值,根据特征值分布自动定位纺织品表面瑕疵。本发明特别适用于自动识别在稳定照明光源下采集的纺织品平坦表面灰度数字图像中的纺织品表面瑕疵。
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公开(公告)号:CN106415807B
公开(公告)日:2018-04-10
申请号:CN201580026943.4
申请日:2015-05-11
Applicant: 科磊股份有限公司
Inventor: A·V·库尔卡尼
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G06T7/001 , G01B21/16 , G01N21/8806 , G01N21/8851 , G01N21/9501 , G01N23/2251 , G01N2021/8825 , G01N2021/8887 , G01N2201/10 , G01N2201/12 , G01N2223/6116 , G06F17/5045 , G06T7/60 , G06T7/74 , G06T2207/30148 , H01L21/67288 , H01L22/12
Abstract: 本发明提供用于相对于所存储高分辨率裸片图像确定检验数据的位置的方法及系统。一种方法包含:使由检验系统针对晶片上的对准位点获取的数据与关于预定对准位点的数据对准。所述预定对准位点在所述晶片的所存储高分辨率裸片图像的裸片图像空间中具有预定位置。所述方法还包含:基于所述预定对准位点在所述裸片图像空间中的所述预定位置而确定所述对准位点在所述裸片图像空间中的位置。另外,所述方法包含:基于所述对准位点在所述裸片图像空间中的所述位置而确定由所述检验系统针对所述晶片获取的检验数据在所述裸片图像空间中的位置。
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公开(公告)号:CN107886499A
公开(公告)日:2018-04-06
申请号:CN201710954721.X
申请日:2017-10-13
Applicant: 西安工程大学
CPC classification number: G06T7/001 , G01N21/01 , G05B11/42 , G06T2207/10152 , H05B33/0854
Abstract: 本发明公开的一种物体表面检测照明系统,包括计算机,计算机分别连接工业相机和驱动器,驱动器连接照明装置,照明装置和工业相机下方有待测物体,照明装置包括多个不同半径的环形LED阵列,多个环形LED阵列按照不同高度差组合装配;解决了现有照明系统对复杂曲面照明不均匀的问题;本发明的照明系统能够根据待测物体的不同自适应改变LED发光强度,从而达到均匀的照明;本发明的照明方法采用模拟退火的GMV-模糊PID的控制算法,减少了计算时间,既利用PID控制的优点,又利用广义最小方差自校正方法与模糊控制器的特点提高其鲁棒性,而且通过有效地减少模糊规则,增强了控制的实时性。
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