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公开(公告)号:CN104136912A
公开(公告)日:2014-11-05
申请号:CN201380009617.3
申请日:2013-01-15
Applicant: 费姆托激光产品股份有限公司
Inventor: 加布里埃尔·弗洛林·滕佩亚
CPC classification number: G01J3/45 , E01H5/045 , G01J3/4531 , G01J2003/283 , G01J2003/451 , G01J2003/4538 , G01M11/005 , G01N21/25 , G01N21/45 , G01N2021/4126 , G01N2201/126 , G02B1/115 , G02B5/0825
Abstract: 使用光谱干涉测量进行样品光学检查的方法和装置,其中由辐射源(1)发射的光束(2”)被引导到样品(5)上,而参考光束(2’)被引导到参考样品(4)上,这两个光束在所述样品处反射之后或经过所述样品之后的光谱干涉通过光谱仪(6)记录;关于角频率ω对如此获得的干涉图I(ω)进行数值求导。对于如此获得的函数I'(ω),将零点ωi数值计算为等式I'(ω)=0的解,然后根据等式τ(ωn)=π/(ωi+1-ωi)从零点ωi计算依赖于频率的群延迟τ(ω),其中i=1,2…,并且ωn=(ωi+1+ωi)/2。
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公开(公告)号:CN102395866B
公开(公告)日:2014-08-06
申请号:CN201080014145.7
申请日:2010-02-23
Applicant: 艾迪株式会社
Inventor: 冈本克奇
CPC classification number: G01J3/4531 , G02F1/3136 , Y10T29/49002
Abstract: 本发明公开了一种在平面波导电路(PLC)上实现的变换光谱仪,所述变换光谱仪具有承载待分析的输入光学信号的输入光学信号波导;多个耦合器,每一个耦合器连接到所述输入光学信号波导,并且每一个耦合器包括用于承载与所述输入光学信号相关的被耦合光学信号的耦合器输出。在所述PLC上形成交错的非对称波导马赫-曾德尔干涉仪(MZI)阵列,每一个波导马赫-曾德尔干涉仪(MZI)具有至少一个输入MZI波导,每一个MZI输入波导从相应的耦合器输出接收被耦合光学信号;其中所述输入MZI波导中的至少一些在所述PLC的公共层中以某一角度交叉,所述角度允许其相应的被耦合光学信号在没有不可接受的衰减的情况下传输。所述结构改善了所述PLC的空间效率,允许实现更多的MZI,产生增加的光谱分辨率。
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公开(公告)号:CN103900693A
公开(公告)日:2014-07-02
申请号:CN201410150852.9
申请日:2014-04-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J3/447
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/0256 , G01J3/2823 , G01J3/453 , G01J3/4531
Abstract: 一种差分快照式成像光谱仪与成像方法属于快照式成像光谱技术领域;该光谱仪在传统成像光谱仪的基础上,增加了偏振分光器,将传统单光路结构改变为平衡臂和非平衡臂的双光路结构;该成像方法,利用平衡臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号减去非平衡臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号,再经过去直流、切趾、相位校正和傅里叶变换处理,得到目标的图像和光谱信息;本发明不仅可以快速地捕捉运动目标的图像和光谱信息,而且可以大幅提高系统的信噪比,有利于在精细测量领域中应用。
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公开(公告)号:CN101326428A
公开(公告)日:2008-12-17
申请号:CN200680046401.4
申请日:2006-10-11
Applicant: 杜克大学
CPC classification number: G01J3/4412 , A61B5/0066 , A61B5/0075 , A61B5/0084 , A61B5/7257 , G01B9/02044 , G01B9/02084 , G01B9/02087 , G01B9/0209 , G01J3/4531 , G01N21/31 , G01N21/4795 , G01N2021/4704 , G01N2021/4709 , G01N2021/4735 , G01N2201/08
Abstract: 傅立叶域a/LCI(faLCI)系统和方法,其允许利用单独的扫描以快速比率的体内数据采集。利用扫描获得角度分辨和深度分辨光谱信息。由于仅需要一个扫描,参考臂可以关于样品保持固定。在样品的多个反射偏角下,参考信号和被反射的样品信号被互相关和分散,从而同时并行地表示来自样品上多个点的反射。利用以约40毫秒为数量级的扫描可以获得关于样品上多个不同点的每一个处样品的全部深度的信息。从空间、互相关参考信号,利用允许从角度分辨数据获得散射体的尺寸信息的技术也可以获得结构(尺寸)信息。
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