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公开(公告)号:CN110718591B
公开(公告)日:2022-12-23
申请号:CN201911097995.7
申请日:2019-11-12
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H01L29/872 , H01L29/06 , H01L21/329
Abstract: 本发明公开了一种基于凹槽型保护环结构的AlGaN/GaN肖特基势垒二极管器件及制作方法,主要解决现有技术击穿电压较低,可靠性较差的问题。其自下而上包括衬底(1)、成核层(2)、缓冲层(3)、插入层(4)、势垒层(5),势垒层(5)上方设有阳极(7)和阴极(8),势垒层(5)中的阳极下方刻有深度为10~15nm,宽度为1~3μm的凹槽,形成凹槽型保护环(6),该阳极与阴极之间为钝化层(9)。本发明由于在势垒层中设有凹槽型保护环,降低了阳极下方边缘电场峰值,提高了击穿电压,且工艺简单、成品率高和可靠性好,可作为大功率系统以及开关应用的基本器件。
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公开(公告)号:CN110707157B
公开(公告)日:2022-03-04
申请号:CN201911097889.9
申请日:2019-11-12
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H01L29/872 , H01L29/06 , H01L21/329
Abstract: 本发明公开了一种基于P+型保护环结构的AlGaN/GaN肖特基势垒二极管器件及制作方法,主要解决现有技术击穿电压较低,可靠性较差的问题。其自下而上包括衬底(1)、成核层(2)、缓冲层(3)、插入层(4)、势垒层(5),势垒层(5)上方设有阳极(7)和阴极(8),势垒层(5)中的阳极下方1~3μm长度内注有Mg离子,形成P+型保护环(6),该阳极与阴极之间为钝化层(9)。本发明由于在势垒层中设有P+型保护环,降低了阳极下方边缘电场峰值,提高了击穿电压,且工艺简单、成品率高和可靠性好,可作为大功率系统以及开关应用的基本器件。
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公开(公告)号:CN101957984B
公开(公告)日:2012-03-28
申请号:CN201010267501.8
申请日:2010-08-30
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种基于非局部萎缩因子参数估计的图像去噪方法,主要克服自然图像原始自适应萎缩去噪中的边缘吉布斯效应明显、视觉质量不理想的问题。其实现过程是:(1)对输入的自然图像进行多尺度变换,得到需处理的子带系数;(2)对子带系数进行初始掩码估计;(3)依次计算子带系数的似然比、先验比和初始萎缩因子;(4)根据子带系数计算非局部滤波子带权重;(5)根据非局部滤波子带权重更新初始萎缩因子;(6)根据非局部权重萎缩因子更新子带系数;(7)用更新的子带系数进行多尺度反变换得到去噪结果。本发明能很好的减弱吉布斯效应,得到较高的PSNR值,可用于对自然图像的去噪处理中。
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