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公开(公告)号：CN115039009B
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202180011629.4
申请日：2021-01-26
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 本发明的光检测装置具备：发出激光光束的发光部；和接受测定对象物(1)反射激光光束而产生的反射光(RL)的受光部。受光部具有：检测元件(33)；和聚光透镜系统(41)，具有多个透镜(43、44、46、48)，将反射光(RL)聚集在检测元件(33)上。在聚光透镜系统(41)中，作为使透镜系统整体相对于反射光(RL)的光焦度变动的因素，包括在高温时与低温时相比增大透镜系统整体的光焦度的温度变化因素、和在长波长时与短波长相比减小透镜系统整体的光焦度的色像差因素(CF)。基于温度变化量和峰值波长的偏移量的对应关系，分配各透镜(43、44、46、48)的光焦度，使得在假定峰值波长的偏移的波长范围内色像差因素与温度变化因素平衡。
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公开(公告)号：CN112368597B
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN201980044153.7
申请日：2019-06-28
Applicant: 株式会社电装
Inventor： 木村祯祐
Abstract: 光测距装置(10)具备：光源部(30)；受光部(12)，其具有多个受光元件，上述受光元件能够输出脉冲信号；加和部(52)，其将脉冲信号的数量加和并求出加和值；直方图生成部(54)，其生成按每个光的飞行时间记录有加和值的直方图；峰值检测部(56)，其将直方图的峰值的加和值获取为信号强度，并根据与峰值对应的飞行时间求出距离值；以及第1低信号强度检测部(621)，其从信号强度中检测出不足预先决定的第1阈值的信号强度亦即低信号强度。直方图生成部针对检测出低信号强度的直方图，重复加和值的获取和累加至信号强度成为第1阈值以上为止，由此，更新直方图，峰值检测部根据更新过的直方图求出新的距离值。
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公开(公告)号：CN111742241B
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN201980014440.3
申请日：2019-02-15
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 本发明涉及光测距装置。光测距装置(10)具备：光源部(30)；受光部(12)，具有多个受光元件，该受光元件能够根据来自物体的反射光的入射而输出脉冲信号；加法部(52)，将脉冲信号的数量相加来求出加法值；直方图生成部(54)，生成按每个飞行时间记录加法值的直方图；峰值检测部(56)，获取直方图的峰值处的加法值作为信号强度，并且根据与峰值对应的飞行时间求出距离值；图像生成部(58)，生成信号强度图像数据和距离图像数据；低信号强度要素检测部(62)，从信号强度图像数据检测具有低的信号强度的低信号强度要素；以及图像修正部(64)，基于其它距离值，对距离图像数据中的与低信号强度要素对应的对象要素中记录的距离值进行修正。
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公开(公告)号：CN110462426B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN201880021577.7
申请日：2018-03-30
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01S7/4861 , G01S17/10 , H01L31/10 , H01L31/107
Abstract: 光检测器具备具有对光子的射入进行响应的SPAD(4)的多个检测部(2)。多个检测部中的至少一个检测部构成为在SPAD对光子的射入进行响应之后，到下次能够进行响应为止的复原时间与多个检测部中的其它的至少一个检测部的SPAD的复原时间不同。
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公开(公告)号：CN115039009A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202180011629.4
申请日：2021-01-26
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 本发明的光检测装置具备：发出激光光束的发光部；和接受测定对象物(1)反射激光光束而产生的反射光(RL)的受光部。受光部具有：检测元件(33)；和聚光透镜系统(41)，具有多个透镜(43、44、46、48)，将反射光(RL)聚集在检测元件(33)上。在聚光透镜系统(41)中，作为使透镜系统整体相对于反射光(RL)的光焦度变动的因素，包括在高温时与低温时相比增大透镜系统整体的光焦度的温度变化因素、和在长波长时与短波长相比减小透镜系统整体的光焦度的色像差因素(CF)。基于温度变化量和峰值波长的偏移量的对应关系，分配各透镜(43、44、46、48)的光焦度，使得在假定峰值波长的偏移的波长范围内色像差因素与温度变化因素平衡。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112368597A
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN201980044153.7
申请日：2019-06-28
Applicant: 株式会社电装
Inventor： 木村祯祐
Abstract: 光测距装置(10)具备：光源部(30)；受光部(12)，其具有多个受光元件，上述受光元件能够输出脉冲信号；加和部(52)，其将脉冲信号的数量加和并求出加和值；直方图生成部(54)，其生成按每个光的飞行时间记录有加和值的直方图；峰值检测部(56)，其将直方图的峰值的加和值获取为信号强度，并根据与峰值对应的飞行时间求出距离值；以及第1低信号强度检测部(621)，其从信号强度中检测出不足预先决定的第1阈值的信号强度亦即低信号强度。直方图生成部针对检测出低信号强度的直方图，重复加和值的获取和累加至信号强度成为第1阈值以上为止，由此，更新直方图，峰值检测部根据更新过的直方图求出新的距离值。
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公开(公告)号：CN111742241A
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201980014440.3
申请日：2019-02-15
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 本发明涉及光测距装置。光测距装置(10)具备：光源部(30)；受光部(12)，具有多个受光元件，该受光元件能够根据来自物体的反射光的入射而输出脉冲信号；加法部(52)，将脉冲信号的数量相加来求出加法值；直方图生成部(54)，生成按每个飞行时间记录加法值的直方图；峰值检测部(56)，获取直方图的峰值处的加法值作为信号强度，并且根据与峰值对应的飞行时间求出距离值；图像生成部(58)，生成信号强度图像数据和距离图像数据；低信号强度要素检测部(62)，从信号强度图像数据检测具有低的信号强度的低信号强度要素；以及图像修正部(64)，基于其它距离值，对距离图像数据中的与低信号强度要素对应的对象要素中记录的距离值进行修正。
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公开(公告)号：CN110462847A
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201880021118.9
申请日：2018-03-30
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L31/10
Abstract: 本发明涉及光检测器。光检测器(1A)具备：检测部(10)，构成为对SPAD(4)施加反向偏压来进行光检测；监视器用SPAD(12)，具有与构成检测部的SPAD同样的特性；电流源(14)，向监视器用SPAD供给恒定电流使监视器用SPAD以盖革模式进行动作；以及电压生成部(18)，基于根据在监视器用SPAD的两端间产生的击穿电压设定的基准击穿电压和规定的过电压来生成施加到检测部的SPAD的反向偏压。
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公开(公告)号：CN110462846A
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201880019965.1
申请日：2018-03-27
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L31/10 , G01S7/486 , H01L27/146
Abstract: 本发明涉及光检测器。受光阵列部(10)具有根据光子的入射而输出脉冲信号的多个受光部(11)，且并行输出从多个受光部分别输出的脉冲信号。比较部(20)对输出脉冲信号的受光部的数量亦即响应数和触发阈值进行比较，并在响应数达到触发阈值的定时输出表示入射到受光阵列部的光信号的受光定时的触发信号。响应获取部(40)在按照触发信号的定时获取响应数，并作为表示光信号的强度的强度信息输出。延迟设定部(60)设定延迟设定值，该延迟设定值用于调整从受光阵列部输出脉冲信号到响应获取部获取响应数为止的时间。
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公开(公告)号：CN113281781B
公开(公告)日：2025-01-17
申请号：CN202110126855.9
申请日：2021-01-29
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01S17/931 , G01S7/481 , G01S7/483
Abstract: 光学检测器包括光发射器(22)，该光发射器具有在延伸方向(ED0)上延伸的光发射窗(23)以从光发射窗朝向测量区域(MA，MA1，MA2)发射投射束(PB)，并且光学检测器检测来自测量区域的返回束(RB)。光学检测器包括通过反射投射束来进行扫描的扫描镜(34)。扫描镜绕旋转轴(33)在有限角范围(AR，ARN，ARW)内摆动，该旋转轴沿着与延伸方向相对应的方向(ED1)。
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