知搜-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

64 records (took 0.049 seconds)

    X射线摄影装置
    21.
    发明授权
    X射线摄影装置 失效

    公开(公告)号：CN107427271B

    公开(公告)日：2020-10-02

    申请号：CN201680021003.0

    申请日：2016-03-01

    Applicant: 株式会社岛津制作所

    Inventor： 田边晃一 ,  古井真悟 ,  吉牟田利典 ,  木村健士 ,  西村晓弘 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲 ,  堀场日明 ,  佐藤敏幸

    IPC: A61B6/00

    Abstract: 在实施例1所涉及的X射线摄影装置(1)中，X射线检测器(5)具有利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件的结构。向X射线检测器(5)入射的X射线中的向遮光壁入射的X射线不被转换为闪烁光而透过X射线检测器(5)。因而，通过向利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件所得到的X射线检测器(5)入射X射线，能够与使该X射线通过检测掩膜的情况同样地将透过了被检体(M)的X射线(3a)向X射线检测器(5)入射的区域进一步限制在任意的范围内。因而，能够在EI‑XPCi中使用的X射线摄影装置(1)中省略检测掩膜，因此能够降低X射线摄影装置(1)的制造成本。

    放射线相位差摄影装置
    22.
    发明授权
    放射线相位差摄影装置 失效

    公开(公告)号：CN107427269B

    公开(公告)日：2020-10-02

    申请号：CN201580077485.7

    申请日：2015-03-06

    Applicant: 株式会社岛津制作所

    Inventor： 佐野哲 ,  佐藤敏幸 ,  田边晃一 ,  古井真悟 ,  吉牟田利典 ,  岸原弘之 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明

    IPC: A61B6/00

    Abstract: 提供一种将相位光栅与放射线检测器之间的分离距离最优化的放射线相位差摄影装置。即，根据本发明，以检测面(4a)中拍进的自身像被噪声扰乱了何种程度为基准来决定相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的分离距离。即，在本发明的结构中，将噪声的影响的大小确定为分离距离的评价的基准。而且，根据本发明，基于在将相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的距离设为某个距离(Zd)时得到的自身图像上的自身像被噪声扰乱了何种程度来判断距离(Zd)是否适于摄影。这样，能够基于照射多个种类的X射线的实际的X射线源(3)的实际情况来实现分离距离的最优化。

    放射线相位差摄影装置
    23.
    发明授权
    放射线相位差摄影装置 失效

    公开(公告)号：CN107106101B

    公开(公告)日：2020-04-24

    申请号：CN201580070501.X

    申请日：2015-11-20

    Applicant: 株式会社岛津制作所

    Inventor： 田边晃一 ,  古井真悟 ,  岸原弘之 ,  木村健士 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲 ,  堀场日明

    IPC: G01N23/041

    Abstract: 提供一种能够可靠地检测自身像来使物体的内部构造详细地成像的放射线相位差摄影装置。根据本发明的结构，FPD(4)的检测面的纵向相对于相位光栅(5)中的吸收体的延伸方向倾斜。于是，拍进自身像的条纹图案的位置(相位)根据检测面的位置的不同而不同。因而，认为能够实现与进行检测面上的拍进自身像的位置互不相同的多次摄影来获得多个自身像相同的效果。但是，如果仅这样的话，则被摄体的特定的位置处的自身像的相位固定为一个。因此，根据本发明的结构，设为一边改变摄像系统(3、4、5)与被摄体的相对位置一边进行摄影。

    X射线相位成像装置
    24.
    发明公开
    X射线相位成像装置 有权

    公开(公告)号：CN110049725A

    公开(公告)日：2019-07-23

    申请号：CN201780071767.5

    申请日：2017-09-06

    Applicant: 株式会社岛津制作所

    Inventor： 堀场日明 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲

    IPC: A61B6/00 ,  G01N23/20

    Abstract: 一种X射线相位成像装置(100)，其包括控制部(5)，所述控制部(5)针对已通过调整机构部(3)而变化的被摄物(S)与成像光栅部(G1)的多个相对的位置的各个，分别生成暗视场像(Iv)，获取各个暗视场像中(Iv)的感兴趣区域(ROI)的对比度，并且以根据已获取的各个对比度，调整被摄物(S)与成像光栅部(G1)的相对的位置的方式控制调整机构部(3)。

    X射线成像装置
    27.
    发明公开
    X射线成像装置 失效

    公开(公告)号：CN109425624A

    公开(公告)日：2019-03-05

    申请号：CN201811033808.4

    申请日：2018-09-05

    Applicant: 株式会社岛津制作所

    Inventor： 佐野哲 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  森本直树

    IPC: G01N23/046

    Abstract: 本发明的X射线成像装置具备X射线源、包括第一光栅和第二光栅的多个光栅、检测器、使包括纤维束的被摄体与摄像系统进行相对旋转的旋转机构以及生成暗场像的图像处理部。图像处理部构成为从在多个旋转角度下拍摄到的多个暗场像至少获取包括纤维束的被摄体的三维暗场像。

    放射线摄影装置
    28.
    发明公开
    放射线摄影装置 失效

    公开(公告)号：CN109328035A

    公开(公告)日：2019-02-12

    申请号：CN201780037450.X

    申请日：2017-03-15

    Applicant: 株式会社岛津制作所

    Inventor： 田边晃一 ,  吉牟田利典 ,  木村健士 ,  岸原弘之 ,  和田幸久 ,  和泉拓朗 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲 ,  堀场日明

    IPC: A61B6/00 ,  G01N23/04

    Abstract: 提供一种即使不事先进行无被摄体的摄影也能够进行准确的成像的放射线摄影装置。根据本发明，能够提供一种即使不事先进行无被摄体的摄影也能够进行准确的成像的放射线摄影装置。即，本发明的装置设置有相位光栅(5)，该相位光栅(5)设置有被摄体用区域和参照区域。虽然在任一个区域中均设置有用于吸收放射线的规定图案，但其图案不同。在该区域观察到长周期的莫尔纹状的相位光栅(5)的像。该长周期的莫尔纹状的像的位置由于相位光栅(5)与吸收光栅(6)的相对位置的细微变化而改变，因此能够从参照区域的图像检测放射线源、相位光栅(5)以及吸收光栅(6)的相对位置的细微变化。

Patent Agency Ranking