射频探测装置、探测方法和微波炉

    公开(公告)号:CN108333585B

    公开(公告)日:2021-03-16

    申请号:CN201810098845.7

    申请日:2018-01-31

    Abstract: 本发明提供了一种射频探测装置、探测方法和微波炉,其中,射频探测装置包括:信号发射模块,用于产生并发射不同频率的多个正向频率探测信号;信号接收器,用于接收由负载反射回来的多个反向频率探测信号;第一检测模块,用于检测对应于每个正向频率探测信号的每个第一参数;第二检测模块,用于检测每个反向频率探测信号的每个第二参数;微控制器,用于根据多个频率和与每个频率对应的第一参数和第二参数,确定负载的状态参数。通过本发明的技术方案,有效地实现了不接触而检测负载的状态参数的目的,提高了检测的便利性和安全性;且本发明的射频探测装置结构简单,成本低廉;在检测过程中,将复杂的计算改为图形对比,简单直观,提高了工作效率。

    烤盘以及烤箱
    22.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107495849B

    公开(公告)日:2020-02-11

    申请号:CN201710705940.4

    申请日:2017-08-16

    Abstract: 本发明公开一种烤盘及烤箱,其中,所述烤盘包括金属载物体以及储热体,所述金属载物体的上表面用以承载待烘烤食材,以将烤箱的加热装置的热量传导至所述待烘烤食材,所述储热体采用储热材料制成,且与所述金属载物体热导接。本发明提供的技术方案中,通过所述金属载物体将热量传递给食材,实现对食材的加热,从而实现了对食材的快速导热,并且所述储热体可以储蓄热量,所述烤箱的加热装置停止加热时,利用所述储热体储蓄的热量,继续给所述金属载物体传导热量,来实现对食材加热,一方面提高食材的口感,另一方面提高了所述烤箱热量的利用率。

    翻面装置以及烤箱
    23.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107348855B

    公开(公告)日:2019-11-22

    申请号:CN201710706247.9

    申请日:2017-08-16

    Abstract: 本发明公开一种翻面装置及烤箱,其中,所述翻面装置包括驱动部、作动部以及刺入部,所述驱动部用以被驱动转动,所述作动部自所述驱动部延伸出,用以伸入至烤箱的烤盘,所述刺入部设于所述作动部上,所述刺入部设有温度传感器,所述刺入部用以插入待烘烤食材内,通过所述温度传感器检测所述待烘烤食材的内部温度。本发明提供的技术方案中,通过刺入部插入待烘烤食材内,可以实现自动检测所述待烘烤食材的内部温度,并且,可以根据所述刺入部检测的温度,来控制所述翻面装置的动作,避免食材一面被烤焦的问题。

    微波加热装置和检测方法
    24.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108347800A

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201810096517.3

    申请日:2018-01-31

    Abstract: 本发明提出了一种微波加热装置,包括:微波发生器,用于产生入射波;腔体,具有多个腔壁;至少一个检测孔,设置在多个腔壁的任意腔壁上;至少一个检波装置,每个检波装置设置在一个检测孔内,用于检测被腔壁反射的反射波并产生对应于反射波的模拟信号。通过本发明的技术方案,通过设于微波加热装置腔壁上的至少一个检测孔内的至少一个检波装置获取腔壁反射的反射波的模拟信号,并根据反射波的模拟信号判断微波加热装置的微波状态,方便快捷,可操作性高,成本较低。

    探头、介电测试仪及方法、温度测量装置及方法、微波炉

    公开(公告)号:CN108333435A

    公开(公告)日:2018-07-27

    申请号:CN201810107842.5

    申请日:2018-02-02

    Abstract: 本发明提供了一种探头、介电测试仪及方法、温度测量装置及方法、微波炉,其中,测量探头,包括:壳体,壳体具有顶部,侧壁和底部,顶部为开口端,侧壁由电磁波屏蔽材料制成,底部由介电材料制成;第一电极,设于壳体内,第一电极的一端固定在底部上,另一端的端面低于顶部的端面;第二电极,设于壳体内,第一电极的一端固定在底部上,另一端的端面低于顶部的端面,其中,底部开设有两个通孔,第一电极与第二电极分别穿过通孔与底部固定连接,第一电极和第二电极之间填充有介电物质。通过本发明的技术方案,测量探头用于测量微波炉内的食材的介电常数时,不受电磁波干扰,使得测得的食材的介电常数更为准确,通过采用该测量探头测得的食材的介电常数可以确定食材的实时温度值,测得的温度值与实时的温度值没有温差。

    测试方法和测试系统
    28.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119232290A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310793528.8

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试方法和测试系统。对待测设备进行抗电磁干扰特性测试,测试方法包括确定待测设备的测试范围,控制测试装置和待测设备上电;根据测试范围设置射频参数,并根据射频参数控制测试装置的射频组件产生射频信号,对测试腔内的待测设备进行干扰;采集待测设备的工作状态,在待测设备的工作状态为异常状态的情况下,记录射频信号的当前射频参数,之后调整射频参数直至完成测试范围的测试;在完成测试范围的测试的情况下,输出测试报告。上述测试方法,可以在测试范围内对待测设备进行抗电磁干扰特性的测试,并输出异常状态对应的测试报告,有利于后续改善待测设备的抗电磁干扰特性,提高待测设备在电磁干扰环境下工作的可靠性。

    自动检测系统和自动检测方法
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119232287A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310793553.6

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开一种自动检测系统和自动检测方法。所述自动检测系统包括:测试腔体,所述测试腔体内设有测试腔,所述测试腔用于放置所述待测设备;天线组件,所述天线组件安装在所述测试腔体;射频模块,所述射频模块电连接所述天线组件,所述射频模块用于输出射频信号,所述射频信号经所述天线组件馈入至所述测试腔内;检测模块,所述检测模块用于采集所述待测设备的信息,并在根据所述待测设备的信息确定所述待测设备异常的情况下,保存所述待测设备的异常信息。上述自动检测系统可以在电磁干扰环境下自动检测待测设备的电磁抗干扰能力,并保存待测设备的异常信息,有利于后续对待测设备的问题改进。

    测试设备
    30.
    发明公开
    测试设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN119232286A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310793501.9

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开一种测试设备。测试设备用于对待测设备的抗电磁干扰能力进行测试,测试设备包括:测试腔体,测试腔体内设有测试腔,测试腔用于容置待测设备;天线组件;射频模块,射频模块电连接天线组件,射频模块用于输出射频信号,天线组件用于将射频信号馈入至测试腔内;旋转组件,旋转组件包括位于测试腔内的固定盘,固定盘用于固定待测设备,旋转组件用于驱动固定盘带动待测设备在测试腔内旋转。上述测试设备具有旋转组件,在测试过程中,射频信号可以模拟为电磁辐射,由于电磁辐射具有一定的方向性,可以利用旋转组件驱动固定盘带动待测设备旋转,使得待测设备的不同部位能够受到期望中的电磁辐射干扰,保证了测试结果的准确性。

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