公开(公告)号：CN117825767A

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202410252945.6

申请日：2024-03-06

Applicant: 季华实验室

Inventor： 钱思宇 ,  毕海 ,  黄伟华 ,  狄子翔 ,  涂政乾

IPC: G01R1/067 ,  G01R31/00

Abstract: 本发明涉及电学检测技术领域，特别公开一种单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法，其中，所述单分子器件探针进针装置包括基座、宏动机构及微动机构；所述宏动机构设于所述基座，所述微动机构设于所述宏动机构；所述微动机构安装有探针和单分子器件中二者之一，所述宏动机构安装有所述探针和所述单分子器件中二者之另一；所述宏动机构和所述微动机构运动，并带动所述探针和所述单分子器件相互靠近，以使所述探针与所述单分子器件接触导通。本发明技术方案无需设置高精度仪器和极端实验环境也能实现单分子器件探针进针的动作，进而降低单分子器件的电学检测难度。

公开(公告)号：CN117074725A

公开(公告)日：2023-11-17

申请号：CN202311062282.3

申请日：2023-08-22

Applicant: 季华实验室

Inventor： 涂政乾 ,  黄伟华 ,  毕海

IPC: G01Q10/04 ,  G01Q30/02 ,  G01Q60/16 ,  G01Q60/38 ,  G01N21/65

Abstract: 本发明公开了一种设备对准方法、装置、终端设备及介质，该方法包括：控制激光器对标准样品的特征边缘范围进行扫描，得到所述标准样品在激光聚焦光斑处的第一特征位置形貌图像；控制探针对所述特征边缘范围进行扫描，得到所述标准样品的第二特征位置形貌图像；根据所述第一特征位置形貌图像和所述第二特征位置形貌图像，获取激光聚焦光斑和探针针尖之间的位置偏差，并根据所述位置偏差，对所述激光聚焦光斑和所述探针针尖进行对准。本发明能够实现激光聚焦光斑与针尖的精确对准。