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公开(公告)号：CN108362573A
公开(公告)日：2018-08-03
申请号：CN201810157586.0
申请日：2018-02-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01N3/165 , G01N3/06 , G01N3/068 , G01N2203/0037 , G01N2203/0647 , G01N2203/0676 , G01N2203/0682
Abstract: 一种铆钉型复层电触头结合强度测试装置及测试方法，它涉及一种结合强度测试装置及方法。本发明解决了现有的铆钉型复层电触头结合强度的测量方法不能直接测出复层的实际结合力-位移曲线问题。两根双向丝杠平行设置，每根双向丝杠的所述一端上安装有一个蜗轮，每个蜗轮与相应的一根蜗杆啮合，第二丝杠支座与位于同侧的两个螺母固接，第一丝杠支座与位于同侧的另外两个螺母固接。试验单元与测试单元复位；启动测试装置的驱动单元，从而带动推头和夹具分别从测试装置的两端保持对中地做匀速相向运动；在推头和夹具分别从测试装置的两端缓缓向中间运动的过程中，微调工业相机，获得计算机的清晰动态图像。本发明用于测试铆钉型复层电触头结合强度。
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公开(公告)号：CN108362571A
公开(公告)日：2018-08-03
申请号：CN201810157277.3
申请日：2018-02-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01N3/165 , G01N3/06 , G01N3/068 , G01N2203/0037 , G01N2203/0647 , G01N2203/0676 , G01N2203/0682
Abstract: 一种铆钉型复层电触头结合强度测试装置及测试方法，它涉及一种结合强度测试装置及方法。本发明解决了现有的铆钉型复层电触头结合强度的测量方法不能直接测出复层的实际结合力-位移曲线问题。两根双向丝杠平行设置，每根双向丝杠的所述一端上安装有一个蜗轮，每个蜗轮与相应的一根蜗杆啮合，第二丝杠支座与位于同侧的两个螺母固接，第一丝杠支座与位于同侧的另外两个螺母固接。试验单元与测试单元复位；启动测试装置的驱动单元，从而带动两个推头分别从测试装置的两端保持对中地做匀速相向运动；两个推头把钉头压扁直至原钉头直径的二分之一过程中，微调工业相机，获得计算机的清晰动态图像。本发明用于测试铆钉型复层电触头结合强度。
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公开(公告)号：CN106737307A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710100640.3
申请日：2017-02-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: B25B11/00
CPC classification number: B25B11/00
Abstract: 用于触点组件接触电阻测试的夹持装置，它涉及一种夹持装置。本发明解决现有触点组件接触电阻测试的夹持装置存在适用范围窄，测试时需要频繁更换夹具，测试效率低的问题。支架的下部通过第三固定螺钉和固定螺母固定在滑动板上，支撑架两侧加工有螺纹孔，支撑架3底端面后侧两端部对应克弯有两个限位挡板，支撑架通过两个定位销安装在支架上，支撑架通过两个第二固定螺钉与支架限位；推动板上部加工有通孔，推动板上端面沿竖直方向加工有螺纹孔，导柱的一端依次穿过的推动板上部通孔和支撑架上部，推动螺杆的外壁上加工有外螺纹，推动螺杆穿过支撑架并与导柱的另一端连接，推动板通过第一固定螺钉固定在导柱上。本发明用于夹持触点组件。
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公开(公告)号：CN103646153B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201310726492.8
申请日：2013-12-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 用于描绘金属颗粒在交变磁场中运动轨迹的方法，涉及金属颗粒在交变磁场中运动轨迹的描绘领域。解决了涡流磁选技术在应用的过程中无法准确计算金属颗粒在交变磁场下受到的电磁力以及无法精确描绘金属颗粒在此电磁力作用下的运动轨迹的问题。本发明利用电磁场有限元分析软件FLUX建立金属颗粒和交变磁场几何模型；对模型进行有限元网格划分；设置模型部件的物理属性；定义传感器，进行得到关于电磁力的四维数据表格，根据位移和时间，查表求电磁力，利用牛顿第二定律，计算金属颗粒各方向加速度，迭代计算下一时刻速度、位移，输出金属颗粒轨迹曲线。本发明适用于描绘金属颗粒在交变磁场中的运动轨迹。
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公开(公告)号：CN102841260B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201210358545.0
申请日：2012-09-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R27/14
Abstract: 直流微电阻测量系统，涉及直流微电阻测量系统，属于测量技术领域。本发明解决了现有采用直流、交流法和脉冲法测量接触电阻存在的由于放大器的量程和温漂误差影响测量精度的问题。本发明采用恒流源为串联连接的待测接触对和标准检流电阻提供激励电流；标准检流电阻对地的电压信号经电压跟随器实现采集；控制电路中嵌入有用于测量待测接触对的端电压的端电压测量模块、根据标准检流电阻的电压获得电流值的电流测量模块和计算被测接触对的接触电阻的电阻计算模块。本发明采用软件和硬件相结合的方式实现电阻的测量，有效的避免了放大器的量程即温漂对测量精度的影响，可广泛应用于微电阻的测量技术领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102707149B
公开(公告)日：2015-03-04
申请号：CN201210218362.9
申请日：2012-06-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R27/08
Abstract: 积分式接触电阻测量系统及测量方法，涉及一种电阻测量系统及测量方法。它是为了解决接触电阻测量方法的数据稳定性差、准确性低的问题。它采用高阻低倍率电压放大器采集待测部件两端的电压，并将采集的电压进行放大；采用电压跟随器采集待测部件和标准检流电阻之间的电压，并进行隔离，获得低阻抗输出电压，然后将该低阻抗输出电压输入至多路AD转换器；采用量程切换开关设定模拟积分器的积分常数，采用模拟积分器对放大后电压进行模拟积分；采用单片机计算待测部件的两端电压和通过待测部件的激励电流，从而获得待测部件的电阻值；实现积分式接触电阻的测量。本发明适用于接触电阻的测量。
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公开(公告)号：CN104316794A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410567011.8
申请日：2014-10-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/00 , G01R31/327 , G01R31/02
Abstract: 用于交流接触器触头材料电性能测试的装置及采用该装置测试触头材料电性能的方法，属低压电器和电工材料领域。为了解决现有的交流接触器可靠性试验设备不能实现触头开距可调以及触头材料可更换条件下的接触器电性能测量的问题。通过竖直滑台的上下滑动，调节静触头和动触头之间的触头开距，解决了现有的交流接触器可靠性试验设备不能实现触头开距可调的问题。动触桥和静簧片使得更换不同触头材料的动触头和静触头更加方便，从而进一步获得不同触头材料的触头的电性能，同时满足了现有的交流接触器试验装置无法完成接触器机械调整参数对其电性能的影响的需求。还适用于接触器的寿命试验、关断与接通能力的试验、短路接通和分段能力的试验。
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公开(公告)号：CN102621488B
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201210112645.5
申请日：2012-04-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327
Abstract: 航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法，属于电磁继电器性能测试技术领域。它解决了现有航天电磁继电器测试仪不能实时检测航天电磁继电器在加速退化过程中性能参数的问题。它包括恒温箱、测继电器切换电路、接触电阻测试仪、时间参数测试仪、下位机和上位机，待测继电器切换电路由多个切换单元组成；测试方法为下位机根据上位机的控制指令，控制每个恒温箱达到预设定的温度和湿度，然后停止控制温度和湿度，测电磁继电器逐一与接触电阻测试仪和时间参数测试仪连接，通过时间参数测试仪控制待测电磁继电器动作，同时采集相关参数，并通过接触电阻测试仪采集该待测电磁继电器的开关的接触电阻。本发明用于测试航天电磁继电器的贮存性能。
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公开(公告)号：CN102841260A
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201210358545.0
申请日：2012-09-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R27/14
Abstract: 直流微电阻测量系统，涉及直流微电阻测量系统，属于测量技术领域。本发明解决了现有采用直流、交流法和脉冲法测量接触电阻存在的由于放大器的量程和温漂误差影响测量精度的问题。本发明采用恒流源为串联连接的待测接触对和标准检流电阻提供激励电流；标准检流电阻对地的电压信号经电压跟随器实现采集；控制电路中嵌入有用于测量待测接触对的端电压的端电压测量模块、根据标准检流电阻的电压获得电流值的电流测量模块和计算被测接触对的接触电阻的电阻计算模块。本发明采用软件和硬件相结合的方式实现电阻的测量，有效的避免了放大器的量程即温漂对测量精度的影响，可广泛应用于微电阻的测量技术领域。
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公开(公告)号：CN102435518A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110279960.2
申请日：2011-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N3/56
Abstract: 高频微动磨损测试装置，涉及测试技术领域，具体涉及到磨损测试技术领域。本发明采用电动振动台提供测试微动磨损所需的微幅振动，电动振动台的振动台面上固定连接有用于夹持第一被测试样实现微幅振动的微动夹持机械结构，采用预压力结构给第一被测试样提供预压紧力，采用压力传感器测量该预压紧力；磨损机械结构与电动振动台的台体固定连接，提供与被测试样产生摩擦的磨损结构，位于该磨损机构上的第二被测试样的上端面与第一被测试样的下端面紧密接触，采用摩擦力传感器测量第二被测试样承受的摩擦力；采用激光位移传感器测量第一被测试样的位移；信号调理与采集电路采集压力信号和摩擦力信号、以及测量两个被测试样的四个电极的输出信号。
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