公开(公告)号：CN102621488A

公开(公告)日：2012-08-01

申请号：CN201210112645.5

申请日：2012-04-17

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 翟国富 ,  王召斌 ,  黄晓毅 ,  叶雪荣 ,  马跃 ,  杨文英 ,  任万滨 ,  郑艳明

IPC: G01R31/327

Abstract: 航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法，属于电磁继电器性能测试技术领域。它解决了现有航天电磁继电器测试仪不能实时检测航天电磁继电器在加速退化过程中性能参数的问题。它包括恒温箱、测继电器切换电路、接触电阻测试仪、时间参数测试仪、下位机和上位机，待测继电器切换电路由多个切换单元组成；测试方法为下位机根据上位机的控制指令，控制每个恒温箱达到预设定的温度和湿度，然后停止控制温度和湿度，测电磁继电器逐一与接触电阻测试仪和时间参数测试仪连接，通过时间参数测试仪控制待测电磁继电器动作，同时采集相关参数，并通过接触电阻测试仪采集该待测电磁继电器的开关的接触电阻。本发明用于测试航天电磁继电器的贮存性能。

公开(公告)号：CN102621488B

公开(公告)日：2014-07-09

申请号：CN201210112645.5

申请日：2012-04-17

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 翟国富 ,  王召斌 ,  黄晓毅 ,  叶雪荣 ,  马跃 ,  杨文英 ,  任万滨 ,  郑艳明

IPC: G01R31/327

Abstract: 航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法，属于电磁继电器性能测试技术领域。它解决了现有航天电磁继电器测试仪不能实时检测航天电磁继电器在加速退化过程中性能参数的问题。它包括恒温箱、测继电器切换电路、接触电阻测试仪、时间参数测试仪、下位机和上位机，待测继电器切换电路由多个切换单元组成；测试方法为下位机根据上位机的控制指令，控制每个恒温箱达到预设定的温度和湿度，然后停止控制温度和湿度，测电磁继电器逐一与接触电阻测试仪和时间参数测试仪连接，通过时间参数测试仪控制待测电磁继电器动作，同时采集相关参数，并通过接触电阻测试仪采集该待测电磁继电器的开关的接触电阻。本发明用于测试航天电磁继电器的贮存性能。