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公开(公告)号：CN107326432A
公开(公告)日：2017-11-07
申请号：CN201710523918.8
申请日：2017-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: C30B9/12 , C30B29/20 , C04B35/111
CPC classification number: C30B9/12 , C04B35/1115 , C30B29/20
Abstract: 一种织构氧化铝陶瓷用的模板籽晶的制备方法和应用，本发明涉及模板籽晶的制备方法和应用。本发明要解决现有片状氧化铝微晶制备工艺中存在生产设备要求高、生产周期长、工艺复杂、微晶分散性差、粒径尺寸分布宽、径厚比小、形貌调控难及生产成本高的问题。方法：将含铝原料与熔盐混合，然后加入生长助剂，球磨，得到混合原料；将混合原料置于有盖的氧化铝坩埚中，煅烧，得到反应产物；将反应产物用热水搅拌清洗并采用超声波进行分散，烘干。应用于制备晶粒小且取向度高的织构氧化铝陶瓷、金属/陶瓷/高聚物复合材料增韧剂、热传导型聚合物填料、研磨抛光粉及颜料基材领域。
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公开(公告)号：CN105084898A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510482816.7
申请日：2015-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: C04B35/499 , C04B35/622
Abstract: 一种低温烧结三元系弛豫铁电陶瓷材料、制备方法及其应用，本发明涉及一种低温烧结三元系弛豫铁电陶瓷材料、制备方法及其应用。本发明要解决现有PIN-PMN-PT陶瓷烧结温度高，铅挥发严重引发环境污染、材料性能下降、生产成本高的问题。陶瓷材料的化学通式为xPb(In1/2Nb1/2)O3-(1-x-y)Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-yPbTiO3-awt.％CuO。方法：一、固相反应合成MgNb2O6前驱体；二、固相反应合成InNbO4前驱体；三、固相反应合成PIN-PMN-PT基体粉体；四、固相合成技术结合流延叠层工艺制备低温烧结三元系弛豫铁电陶瓷。本发明用于制备大功率压电蜂鸣器和多层压电器件。
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公开(公告)号：CN101487897B
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN200910071453.2
申请日：2009-02-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: ICCD增益正弦波调制无扫描速度成像器，属于光电成像领域。本发明的目的是解决目前基于多普勒频移逐点扫描获取目标速度像的测速装置误差大的问题。本发明的半导体激光器发射出的激光光束经发射光学整形系统整形后照射到目标上，经目标反射后的激光光束被接收光学系统接收、汇聚至ICCD面阵探测器形成回波信号，正弦波函数发生器发出的激光经高压调制电源与ICCD面阵探测器相连形成ICCD调制信号，ICCD调制信号与回波信号进行混频后，并由控制处理器进行傅立叶变换处理，获得目标的速度像。本发明应用于光电成像领域获取目标的速度像。
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公开(公告)号：CN101609153A
公开(公告)日：2009-12-23
申请号：CN200910072513.2
申请日：2009-07-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01S17/89
Abstract: 单光子探测3D紫外脉冲激光成像雷达，它属于激光雷达领域。它解决了现有激光雷达缺少抑制阳光背景噪声的能力，系统整体探测灵敏度低，探测距离小的问题。本发明由光学发射天线、紫外脉冲调制激光器、同步脉冲控制电路、时钟信号源、延迟电路、增益函数发生器、计算机、MAMA紫外单光子探测器和光学接收天线组成，其中紫外脉冲调制激光器在同步脉冲控制电路的驱动脉冲的作用下发出紫外波段的激光脉冲信号，此信号输入到光学发射天线，激光回波脉冲信号由光学接收天线的光输出端到MAMA紫外单光子探测器的光输入端，增益函数发生器的两个增益信号输出端分别与MAMA紫外单光子探测器的两个增益信号输入端相连。
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公开(公告)号：CN109650888A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201811619612.3
申请日：2018-12-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: C04B35/499 , C04B35/622 , C04B35/64 , H01L41/187
Abstract: 一种低温织构高电学性能三元系钛酸铅基弛豫铁电取向陶瓷及其制备方法和应用，涉及一种三元系钛酸铅基弛豫铁电织构材料及其制备方法和应用。解决三元系钛酸铅基弛豫铁电普通陶瓷电学性能低，而高质量铅基织构陶瓷难以制备且烧结温度高的问题。三元系钛酸铅基弛豫铁电取向陶瓷的化学通式为xPb(A,Nb)O3-(1-x-y-z)Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-yPbZrO3-zPbTiO3-avol.％MTiO3。方法：制备细晶基体粉体；制备同时含生长助剂和沿[001]c定向的MTiO3片状微晶的膜片；制备陶瓷素坯；制备三元系钛酸铅基弛豫铁电取向陶瓷。应用：用于制备大功率、宽温区和高电场区的多层压电器件。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107459346A
公开(公告)日：2017-12-12
申请号：CN201710686831.2
申请日：2017-08-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: C04B35/468 , C04B35/622 , C04B35/638 , B28B1/29 , B28B1/00 , B28B11/24 , B28B11/00
CPC classification number: C04B35/4682 , B28B1/002 , B28B1/29 , B28B11/00 , B28B11/243 , C04B35/622 , C04B35/638 , C04B2235/3208 , C04B2235/3248 , C04B2235/6562 , C04B2235/6565 , C04B2235/6567 , C04B2235/96
Abstract: 高电学性能的无铅压电钛酸钡基织构陶瓷及其制备方法和应用，本发明涉及压铁电材料领域。本发明要解决现有钛酸钡基陶瓷的改进使得该体系陶瓷的应变迟滞Hs变大，虽然钛酸钡基陶瓷的部分电学性能参数有一定的提高，但其另一部分性能参数，如居里温度Tc却被恶化的问题。化学通式为(Ba1-xCax)(Ti1-yZry)O3，0.01≤x≤0.12，0.02≤y≤0.08；方法：一、采用模板晶粒定向生长技术制备沿[001]c高度取向的无铅压电钛酸钡基织构陶瓷；二、采用工程畴技术制备高电学性能的无铅压电钛酸钡基织构陶瓷。应用于高灵敏度、高精确度的压电驱动器、压电传感器及超声换能器领域。
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公开(公告)号：CN104987072A
公开(公告)日：2015-10-21
申请号：CN201510423779.2
申请日：2015-07-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: C04B35/499 , C04B35/64
Abstract: 高电学性能的铌铟酸铅-铌镁酸铅-钛酸铅弛豫铁电织构陶瓷及其制备方法和应用，本发明涉及压铁电材料领域。本发明要解决现有PIN-PMN-PT单晶组分分凝、可用尺寸受限、力学性能差、PIN-PMN-PT陶瓷电学性能低的问题。化学通式为xPb(In1/2Nb1/2)O3-(1-x-y)Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-yPbTiO3-avol.％BaTiO3；方法：二步合成法制备PIN-PMN-PT细晶基体粉体，局部化学微晶取代法制备BaTiO3片状微晶模板，采用模板晶粒定向生长技术制备沿[001]高度取向的PIN-PMN-PT基三元系弛豫铁电织构陶瓷。应用于超声换能器、压电驱动器及压电传感器领域。
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公开(公告)号：CN102798866B
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201210288383.8
申请日：2012-08-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 激光雷达系统及采用该系统的正弦调幅-脉冲相位编码调制的复合测距和测速方法，涉及激光雷达系统及采用该系统的正弦调幅-脉冲相位编码调制的复合测距和测速方法。它为了解决现有的激光雷达系统测距方法存在激光雷达的距离分辨率与测距范围互相制约的问题。激光雷达系统对光束光强进行了正弦波振幅-脉冲编码复合调制的信号波形。信号的调制方式均为幅度调制，其顺序是一个幅值恒定的信号先经过正弦波幅度调制，再经过脉冲幅度调制，后输出目标的运动速度和距离，由正弦波幅度解调制得到目标运动造成的多普勒频移，从而得出目标的运动速度。本发明适用于雷达领域。
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公开(公告)号：CN101498786B
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200910071450.9
申请日：2009-02-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: ICCD增益调频连续波调制无扫描距离成像器，属于光电成像领域。本发明的目的是解决目前基于自混频探测器的无扫描FM/CW装置获取目标距离像的性能不稳定、难以应用的问题。半导体激光器发射出的激光光束经发射光学整形系统整形后照射到目标上，经目标反射后的激光光束被接收光学系统接收、汇聚至ICCD面阵探测器形成回波信号，调频连续波函数发生器发出的激光经高压调制电源与ICCD面阵探测器相连形成ICCD调制信号，ICCD调制信号与回波信号进行混频后，并由控制处理器进行傅立叶变换处理，获得与目标的距离。用于光学领域激光测距。
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公开(公告)号：CN1327203C
公开(公告)日：2007-07-18
申请号：CN200410043781.9
申请日：2004-08-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 光束扫描器性能检测装置，它具体是一种光束扫描器性能检测装置。它由CCD光学系统(1)、图象采集模块(2)、曝光读出模块(3)、计算机(4)、数据输出输入端口(5)组成；(1)的控制输出输入端连接(4)的控制输入输出端，(1)的图象信号输出端连接(2)的图象信号输入端，(1)的曝光读出信号输出输入端连接曝光读出模块(3)的信号输出输入端，(2)的图象数据输出端连接(4)的图象数据输入端，(3)的数据输出输入端连接(4)的一个数据输入输出端，(4)的另一个数据输入输出端连接(5)的数据输入输出端。本发明能对光学扫描系统进行光学性能的检测，能对光学扫描系统进行绝对位置、相对位置、线性度、扫描均匀度进行检测，并具有结构简单、体积小、成本低的优点。
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