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公开(公告)号：CN118739824A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410884224.7
申请日：2024-07-03
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
Abstract: 一种交错并联Boost变换器的容错控制方法及其系统，涉及信息处理技术领域。解决现有交错并联Boost变换器的容错控制方法存在硬件复杂度高、成本增加等问题。容错控制方法为：S1、获取交错并联Boost变换器的PWM控制信号；S2、调整所述PWM控制信号的相移和频率，使剩余相导通对称；S3、采用常导通时间控制恢复输出电压至参考值。本发明适用于考虑设备健康状态影响的寿命预测方法。
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公开(公告)号：CN118607701A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410653044.8
申请日：2024-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
IPC: G06Q10/04 , G06Q10/20 , G06N3/0442 , G06N3/0455 , G06N3/08 , G06F17/16
Abstract: 本发明是一种识别状态影响的设备寿命预测系统及方法。本发明涉及设备寿命信息处理技术技术领域，本发明获取设备的多维监测数据；设备的监测数据对监测的特征进行初步筛选，保留包含设备退化信息的监测特征数据，构建设备的健康状态记忆矩阵；进行设备退化状态的识别；搭建LSTM‑Transformer网络，进行预测模型的网络参数的调优，选定对应的寿命预测模型，用于寿命预测。本发明构建了LSTM‑Transformer的结合网络，充分利用多头注意力机制，并将重构向量与特征向量的残差向量作为网络的输入，放大性能退化，提高预测效果。
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公开(公告)号：CN117707116A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311847284.3
申请日：2023-12-29
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 基于GRU和改进注意力机制的故障诊断方法、系统、计算机设备及介质，属于工业故障诊断技术领域，解决了由于工业系统庞大、工业领域数据的时序相关性较强，导致传统的方法不能充分利用单维数据不同时间数据点包含的故障特征信息以及时序信息、对于时序特征捕捉不足，以及传统的GRU难以体现设备运行时的全部特征的问题。所述方法包括：采集传感器数据集，对所述数据集进行预处理；构建GUR网络、改进注意力机制SA模型和SE多通道注意力机制模型；将预处理后的数据集输入到GUR网络中，得到时序特征；将时序特征输入到改进注意力机制SA模型中，得到自注意力计算结果并输入到SE多通道注意力机制模型中，得到故障诊断结果。本发明适用于工业领域故障检测场景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117668649A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311621540.7
申请日：2023-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
IPC: G06F18/241 , G06F18/214 , G06F18/15
Abstract: 本申请公开了一种基于SimAM‑LSTM‑AE的异常检测方法，属于航天器异常检测领域，包括：获取遥测数据集，并将其划分为实时数据集和训练集；通过小波阈值降噪方法对遥测数据集进行降噪；通过SimAM注意力机制提取降噪后的遥测数据集的特征，得到注意力特征图；构建LSTM‑AE网络，并基于训练集的注意力特征图对其进行训练，得到训练集的重构误差序列；将实时数据集的注意力特征图输入至训练后的LSTM‑AE网络中，得到实时数据集的重构误差序列，根据实时数据集的重构误差序列检测实时数据集是否出现异常。本申请提供的方法可应用于对于航天器领域采集的遥测数据进行时间段的异常检测和判定异常工作。
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公开(公告)号：CN117607648A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311569601.X
申请日：2023-11-23
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
Abstract: 本发明提出了一种基于跟踪微分器的三相电压源型转换器开路故障诊断方法及系统，首先采集三相VSC的电流，用三个微分跟踪器分别得到了连续平滑的三相差分电流；第一个IGBT开路故障的诊断需要识别过零区间；当某一相差分电流持续一段时间接近于0时，被认为这一相的差分电流出现过零区间；过零区间发生后，判断同时这一相差分电流在一个周期内的最大最小值相对于上个周期的最大最小值是否发生了改变；根据之前的分析结果，分析第二个IGBT开路故障情况，完成三相电压源型转换器开路故障。
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公开(公告)号：CN102279296B
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：CN201110167193.6
申请日：2011-06-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R1/30
Abstract: SOCs测试封装扫描信号输入单元和扫描结果输出单元，涉及一种SOCs测试封装扫描单元结构，为了解决实现母核和子核的并行测试的不安全问题，SOCs测试封装扫描信号输入单元，它包括一号多路选择器、二号多路选择器、三号多路选择器、一号触发器和二号触发器，它还包括CMOS传输门；SOCs测试封装扫描结果输出单元，它包括四号多路选择器、五号多路选择器、六号多路选择器、七号多路选择器、三号触发器和四号触发器，它还包括CMOS传输门，CMOS传输门包括NMOS管和PMOS管，NMOS管和PMOS管的源极相连作为输入端，漏极相连作为输出端，栅极作为控制端，用于SOCs的测试。
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公开(公告)号：CN101982788B
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201010298158.3
申请日：2010-09-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于IEEE1500标准的IP核测试传输组件及其控制方法，它涉及系统芯片的IP核测试传输组件及其控制方法。它为解决目前IP核安全控制测试壳单元和控制方法在安全移位过程中所存在的功能路径时延增加和额外的面积开销的问题而提出。第一、第二MOS管部件并联连接，第一MOS管部件的源极和漏极分别与第二MOS管部件的源极和漏极相连，第一、第二MOS管部件的栅极分别与第一控制信号/GC和第二控制信号GC相连，第一、二控制信号为互为反向的控制信号。它具有延时短和额外面积开销小的优点。它可广泛适用于各种需要对系统芯片的IP核测试的场合。
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公开(公告)号：CN101982788A
公开(公告)日：2011-03-02
申请号：CN201010298158.3
申请日：2010-09-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于IEEE1500标准的IP核测试传输组件及其控制方法，它涉及系统芯片的IP核测试传输组件及其控制方法。它为解决目前IP核安全控制测试壳单元和控制方法在安全移位过程中所存在的功能路径时延增加和额外的面积开销的问题而提出。第一、第二MOS管部件并联连接，第一MOS管部件的源极和漏极分别与第二MOS管部件的源极和漏极相连，第一、第二MOS管部件的栅极分别与第一控制信号/GC和第二控制信号GC相连，第一、二控制信号为互为反向的控制信号。它具有延时短和额外面积开销小的优点。它可广泛适用于各种需要对系统芯片的IP核测试的场合。
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