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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102519850B
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201110346535.0
申请日：2011-11-07
Applicant: 南通大学
Abstract: 本发明公开了一种能实时检测微粒粒度及形状特征的光学传感器，包括激光器、扩束准直系统、光阑、光陷阱、进气与出气通道、纯净气样稀释通道、旋转对称椭腔镜、透镜、光电倍增管、组合光电管探测器，激光束以与旋转对称椭腔镜对称轴成一小角度射入到椭腔镜内，并与样气流汇聚于椭腔镜的一焦点，样气流沿垂直于对称轴方向导入，大空间角范围的散射光射向椭腔镜的另一焦点，在此焦点后的物镜像平面上置一组合光电探测器，用于检出粒度大小及形状信息。本发明结构合理，工作效果好。
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公开(公告)号：CN102564928B
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201210004098.9
申请日：2012-01-09
Applicant: 南通大学
IPC: G01N15/14
Abstract: 本发明公开了一种光学粒子计数器的传感器，包括激光器、光纤、光阑、光陷阱、进气与出气通道、纯净气样稀释通道、旋转对称椭腔镜、透镜、微型光电倍增管。激光束经光纤均匀化处理后，形成具有良好均匀性、截面呈扁平形的平行光束，并以与旋转对称椭腔镜对称轴成一小角度方向射入到椭腔镜内，与样气流汇聚于椭腔镜的一焦点，样气流沿垂直于对称轴方向导入，大立体角范围的散射光射向椭腔镜的另一焦点，在此焦点后的光电探测器，用于对粒子大小进行分级并计数。本发明布局巧妙，结构合理，工作效果好。
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公开(公告)号：CN102519850A
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201110346535.0
申请日：2011-11-07
Applicant: 南通大学
Abstract: 本发明公开了一种能实时检测微粒粒度及形状特征的光学传感器，包括激光器、扩束准直系统、光阑、光陷阱、进气与出气通道、纯净气样稀释通道、旋转对称椭腔镜、透镜、光电倍增管、组合光电管探测器，激光束以与旋转对称椭腔镜对称轴成一小角度射入到椭腔镜内，并与样气流汇聚于椭腔镜的一焦点，样气流沿垂直于对称轴方向导入，大空间角范围的散射光射向椭腔镜的另一焦点，在此焦点后的物镜像平面上置一组合光电探测器，用于检出粒度大小及形状信息。本发明结构合理，工作效果好。
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公开(公告)号：CN104390896A
公开(公告)日：2015-03-04
申请号：CN201410717918.8
申请日：2013-07-22
Applicant: 南通大学
Abstract: 本发明公开了一种提高了测量精度的检测微小颗粒大小及形状的光学系统，激光束经光纤均匀化处理后，形成均匀性良好的平行光束，并通过合理的光路布局沿球面腔镜系统主轴方向射入到球腔镜内，与样气流汇聚于球腔镜的一物点，样气流沿垂直于系统主轴方向导入，粒子前向散射光信号被一光电倍增管接受，用以作为粒子大小测量的主要信号。除前向以外的散射光在大空间角范围内射向球腔镜的像点，在此像点后的物镜像平面上置一面形CCD，主要用于检出粒度的形状信息。本发明布局巧妙，结构合理，工作效果好。
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公开(公告)号：CN103868832A
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201410119699.3
申请日：2014-03-27
Applicant: 南通大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明涉及一种基于shifrin变换的粒径分布测量方法，对粒径分布进行反演时引入带可调节参数的补偿因子，在不同参数下反演的噪声均基本消失，且分布峰的位置及个数均与标称较为吻合。通过选择调节参数，可以明显改善已有方法在某些情况下反演效果不佳的缺陷。本发明方法的提出，不仅解决了激光粒度测量中噪声大的问题，而且可针对实际测量中的不同情况，改变调节参数，达到更佳的反演测量效果。
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