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公开(公告)号：CN108459417A
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201810111381.9
申请日：2018-02-05
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G02B27/22 , G02B27/00 , H04N13/207 , H04N13/271 , H04N13/10 , H04N5/225
Abstract: 本发明提供了一种单目窄带多光谱立体视觉系统及其使用方法。该系统包括一个带有轴向色差的光学成像镜头，一个通道数N≥4的窄带多光谱图像传感器，一个对窄带多光谱图像进行处理分析的图像处理单元。本发明提供的单目窄带多光谱立体视觉系统，可以一次曝光获得图像面XY空间位置自然校准而聚焦清晰度不同的多幅窄带光谱图像。使用配套的如散焦模糊度算法可以获得图像任意空间位置XY的深度Z信息，克服双目立体视觉运算量大及激光3D视觉系统价格昂贵等缺点，在先进制造、智能机器人移动、无人驾驶汽车导航与避障等具有广泛应用价值。
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公开(公告)号：CN108426538A
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：CN201810164038.0
申请日：2018-02-27
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种3D形貌检测系统及方法，系统包括自动载物台、带有纵向色差的光学显微成像系统、一个通道数N≥4的窄带多光谱图像传感器、控制单元及图像分析单元；所述载物台与所述控制单元电相连，所述图像分析单元与所述多光谱图像传感器和控制单元分别电相连，所述光学显微成像系统与所述多光谱图像传感器机械相连。本发明可以一次曝光获得物体表面XY空间位置自然校准而聚焦清晰度不同的多幅窄带光谱图像，使用配套的如散焦模糊度算法及配套的自动聚焦方法，可以全自动的获得物体表面3D形貌，即任意空间位置XY的深度Z信息；本发明对于先进制造刀具、精密样品或者部件表面形貌快速在线检测具有广泛应用价值。
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公开(公告)号：CN105353514A
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201510783316.7
申请日：2015-11-16
Applicant: 华侨大学 , 麦克奥迪实业集团有限公司 , 宁波五维检测科技有限公司
Inventor： 易定容
CPC classification number: G02B27/0933 , C12M35/02 , G02B27/0911
Abstract: 本发明提供了一种减小激光束横截面积的方法，在激光发射器与被照物体之间的光路中设置空间光调制器；所述激光发射器发出的入射激光束在空间光调制器上产生主光斑和副光斑；所述主光斑覆盖到空间光调制器的N个相邻的微单元上，只打开以主光斑圆心为中心n个微单元(n＝1,2,…,N)，其它N-n个微单元为关闭状态，则出射激光束的横截面积d＝D×(n/N)，其中D为主光斑的横截面积。本发明还提供了一种激光显微切割的方法和装置。上述的一种减小激光束横截面积的方法，通过人为操作和控制，使激光束的横截面积在一定范围内缩小。上述的一种激光显微切割的方法和装置，能够实现切割线宽度小到微米甚至亚微米的激光切割。
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公开(公告)号：CN115031659B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202210641105.X
申请日：2022-06-08
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供了一种轴向跨尺度的精密三维显微测量方法，包括如下步骤：步骤1：在显微成像装置中，根据一定步进层扫获取一定数量的图像序列；步骤2：对层扫获得的图像序列分析其局部清晰区域提取并分割；步骤3：根据所分割的局部清晰区域，利用轴向差动原理，还原该序号图像上清晰区域的三维信息；步骤4：对不同序号所还原的清晰区域轴向三维信息，通过所述的层扫步进叠加进行融合，实现三维测量。上述的轴向跨尺度的精密三维显微测量方法，能够解决高精度下，实现轴向量程拓展。
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公开(公告)号：CN117170082A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311249851.5
申请日：2023-09-26
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G02B21/24
Abstract: 本发明公开一种基于像方差动并行共聚焦原理的自动对焦系统，涉及对焦领域；该系统包括：发射模块发射并行点光阵列；分光透镜将所述并行点光阵列传输至被测样品的表面，对被测样品的反射光进行分束处理，得到第一光束和第二光束；焦前单元根据第一光束，得到第一轴向光强信息；焦后单元根据第二光束，得到第二轴向光强信息；处理单元计算得到被测样品表面高度信息，基于被测样品表面高度信息计算被测样品表面补偿信息；调节模块根据所述被测样品表面补偿信息带动所述被测样品在二维平面运动或三维空间姿态移动。本发明根据计算得到的被测样品表面高度信息对被测样品的位置进行调节，使得被测样品实现自动对焦。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115685530A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211360745.X
申请日：2022-11-02
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明实施例公开了双目窄带多波段共焦成像系统，涉及共焦成像技术领域。照明单元产生复色光；准直透镜将复色光准直为复色光束；数字微镜器件将复色光束形成点光阵列；色散管镜将第一反射点光阵列进行色散得到单色点光阵列；第一分光透镜对点光阵列进行透射和反射；第一分光透镜还对入射的成像光进行透射和反射；第二分光透镜对第二透射点光阵列进行透射和反射；第一滤光转盘和第二滤光转盘分别承载多个滤光片，并能够切换任一滤光片至第三透射点光阵列的光路上；第一聚焦透镜和第二聚焦透镜进行聚焦；第一成像单元和第二成像单元形成成像结果。本发明实现了在成像过程中更换滤光片，提高成像效率。
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公开(公告)号：CN115096211A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210710316.4
申请日：2022-06-22
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种再模糊的共焦差动轴向有效区域提取的三维还原方法，包括拍摄焦面图像、焦前图像、焦后图像三张图像；对焦面图像进行模糊处理，提取焦面图像内的轮廓边缘区域，并提取再模糊图像中的轮廓边缘区域对应区域；分别计算边缘梯度，将边缘灰度梯度和再模糊边缘灰度梯度进行比值运算，并计算离焦深度；提取焦面图像区域深度小于等于焦前图像、焦后图像离焦距离的区域；根据焦前、焦后分别提取的有效区域，进行作差，利用共焦差动轴向响应曲线还原视场内有效测量区域三维形貌；本发明实现了共聚焦差动测量有效测量区域的提取，提供了一种实现共焦差动测量的三维形貌的准确还原新方法，且可应用于不同共聚焦测量系统，具有一定的普适性。
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公开(公告)号：CN115031659A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210641105.X
申请日：2022-06-08
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供了一种轴向跨尺度的精密三维显微测量方法，包括如下步骤：步骤1：在显微成像装置中，根据一定步进层扫获取一定数量的图像序列；步骤2：对层扫获得的图像序列分析其局部清晰区域提取并分割；步骤3：根据所分割的局部清晰区域，利用轴向差动原理，还原该序号图像上清晰区域的三维信息；步骤4：对不同序号所还原的清晰区域轴向三维信息，通过所述的层扫步进叠加进行融合，实现三维测量。上述的轴向跨尺度的精密三维显微测量方法，能够解决高精度下，实现轴向量程拓展。
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公开(公告)号：CN109455955A
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201811240100.6
申请日：2018-10-23
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明提供了一种U型光纤探头制备方法，包括以下步骤：步骤一，将光纤两端固定在支架上形成U型光纤；步骤二，将U型光纤的底端浸入一次涂覆层腐蚀液中，待所述U型光纤上的涂覆层剥落后，将所述U型光纤取出，并用去离子水清洗U型光纤；步骤三，将经过步骤二处理后的U型光纤的底端浸入包层腐蚀液中，待所述U型光纤上的包层腐蚀后，将所述U型光纤取出，并用去离子水清洗U型光纤；步骤四，将经过步骤三处理后的U型光纤的底端浸入二次涂覆层腐蚀液中，待所述U型光纤上的涂覆层剥落后，将U型光纤取出，并用去离子水清洗，即得到U型光纤探头。应用本技术方案可实现U型光纤的制作工艺简单，且实现U型光纤的各种参数可控。
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公开(公告)号：CN108974440A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201710405440.9
申请日：2017-06-01
Applicant: 宁波五维检测科技有限公司 , 华侨大学
Abstract: 本发明公开了一种单个可数同种物料进行自动化分装摆盘装置，包括分流装置，滑梯组，物料阻隔/投放装置，物料接收装置，控制装置。分流装置包含有电机、转盘，其转盘物料入口与生产流水线的物料口相衔接，其转盘的出料口在转动过程中逐次与滑梯组的不同通道入口衔接。滑梯组含有N个并行通道，每个通道入口为喇叭形，每个通道末端的出口与物料阻隔/投放装置相连，每个出口也与物料接收装置衔接。物料接收装置含有具有多行多列巢穴的接收盒、电机、直线导轨。该结构设计避免一个一个逐次填充接收盘巢穴摆盘装置的效率低的缺点，同时避免线外人工摆盘所造成的表面划伤。本发明适用于对单个可数的微型、中小型物料的自动分装摆盘，尤其适用于对表面要求高的磁控线圈的自动摆盘。
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