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公开(公告)号：CN115951130A
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202211693675.X
申请日：2022-12-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明属于电磁技术领域，具体公开了一种准光腔介电常数测量系统的校准方法及介电常数测量方法。该校准方法包括：编制频响隔离校准软件，频响隔离校准软件包括针对传输频响标准编制的传输频响标准软件，和针对隔离标准编制的隔离标准软件；在准光腔介电常数测量系统中依次接入传输频响标准和所述隔离标准时，分别采用传输频响标准软件和隔离标准软件，对准光腔介电常数测量系统进行传输频响校准和隔离校准，以获得传输频响误差和隔离误差；根据传输频响误差和所述隔离误差，修正准光腔介电常数测量系统的测量性能误差。本发明解决了准光腔介电常数测量系统谐振信号不稳定、品质因数的测量精度低和稳定性差的难题。
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公开(公告)号：CN114465674A
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN202111524099.1
申请日：2021-12-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请实施例公开一种毫米波网络分析仪系统的电缆移动误差修正系统及方法，所述系统包括：毫米波网络分析仪系统，用于测量被测终端负载的传输参数；电缆移动测量系统，用于测量电缆移动后所述毫米波网络分析仪系统的传输参数变化量。本申请通过电缆移动测量系统对毫米波网络分析仪系统中由于电缆移动产生的参数变化量进行测量，建立测量模型，通过测量和推算，实现了对毫米波网络分析仪系统中电缆移动导致传输幅度误差和传输相位误差的修正，有效提高了毫米波网络分析仪传输参数的测量准确度。
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公开(公告)号：CN105388363B
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201510683127.2
申请日：2015-10-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种高温环境下材料介电常数的获取系统及方法，该方法包括如下步骤：S1、不启动高温箱，对高温环境下材料介电常数的获取系统进行校准，并获取常温环境下收、发天线间的直通S参数；S2、将待测材料放入测量夹具中并利用高温箱加热使待测材料处于高温环境中，测量高温环境下待测材料的S参数，并根据常温环境下的直通S参数修正高温环境下待测材料的S参数的高温误差；S3、对高温误差修正后待测材料的S参数进行相位修正，得到传输相位修正后的待测材料的S参数；S4、根据传输相位修正后的待测材料的S参数计算并获取待测材料介电常数。本发明所述技术方案可在室温～1500℃温度范围获取准确可靠的材料介电常数。
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公开(公告)号：CN106841824A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201611161106.5
申请日：2016-12-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开一种信号源综合参数现场测量装置，包括：射频前端模块、频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块、频谱纯度测量模块和显示控制模块；射频前端模块的输入端作为信号源综合参数现场测量装置的待测信号输入端，射频前端模块的输出端分别连接频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输入端，频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输出端均连接显示控制模块的输入端。本发明可实现对信号源各项技术指标的测量。
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公开(公告)号：CN101788610B
公开(公告)日：2011-09-28
申请号：CN201010109120.7
申请日：2010-02-11
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种同轴阻抗标准器的定标方法，包括第一步：测量几何量，第二步：计算趋肤效应的影响量，第三步：计算阶越电容的影响量，第四步：计算偏心量的影响量，第五步：计算特性阻抗，第六步：计算修正后的特性阻抗标准值。本发明除了考虑同轴无支撑精密空气线的外导体内径和内导体外径外，还将内外导体的偏心、阶越电容、趋肤效应等因素的影响量给予修正，有效的提高了同轴阻抗标准器的定标准确度。
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公开(公告)号：CN101788610A
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN201010109120.7
申请日：2010-02-11
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种同轴阻抗标准器的定标方法，包括第一步：测量几何量，第二步：计算趋肤效应的影响量，第三步：计算阶越电容的影响量，第四步：计算偏心量的影响量，第五步：计算特性阻抗，第六步：计算修正后的特性阻抗标准值。本发明除了考虑同轴无支撑精密空气线的外导体内径和内导体外径外，还将内外导体的偏心、阶越电容、趋肤效应等因素的影响量给予修正，有效的提高了同轴阻抗标准器的定标准确度。
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公开(公告)号：CN112666402A
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN202011525533.3
申请日：2020-12-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明的实施例公开一种毫米波频段材料介电常数准光一体化测试设备和测量方法，该设备包括：平台底板、第一反射镜、测试夹具、第二反射镜、第一高斯馈源和第二高斯馈源，其中所述第一反射镜、测试夹具、第二反射镜、第一高斯馈源和第二高斯馈源设置在所述平台底板上；所述测试夹具设置于所述第一反射镜和第二反射镜之间，待测样品设置在所述测试夹具上；所述第一高斯馈源用于发送波束至所述第一反射镜；所述第一反射镜将所述波束反射并重聚焦至所述待测样品；所述波束经过所述待测样品后传输至第二反射镜；所述第二反射镜将所述波束反射并重聚焦至第二高斯馈源；第二高斯馈源接收所述波束。
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